[發(fā)明專利]顯示分屏的信息檢測方法、裝置及信息檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011329077.5
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN112530331B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 汪春;黨鵬樂;陳兆禮;雷博琳;余維
• 申請（專利權(quán)）人: 昆山國顯光電有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 成都極刻智慧知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51310
• 代理人: 唐維虎

本申請實(shí)施例提供一種顯示分屏的信息檢測方法、裝置及信息檢測設(shè)備，通過獲取顯示屏開槽區(qū)形成的分屏顯示區(qū)域中的多個目標(biāo)測試坐標(biāo)，并獲得每個目標(biāo)測試坐標(biāo)的光學(xué)測試數(shù)據(jù)，光學(xué)檢測數(shù)據(jù)考慮到了每個目標(biāo)測試坐標(biāo)的亮度值以及該目標(biāo)測試坐標(biāo)在不同測試角度下的色度坐標(biāo)，由此根據(jù)每個目標(biāo)測試坐標(biāo)的光學(xué)測試數(shù)據(jù)計算得到分屏顯示區(qū)域的分屏顯示質(zhì)量參數(shù)，并且分屏顯示質(zhì)量參數(shù)考慮到了分屏顯示區(qū)域的亮度均一性、色度均一性、色準(zhǔn)度和色偏度中的至少一種。如此，通過量化分屏顯示區(qū)域的分屏顯示質(zhì)量參數(shù)，可以消除測試人員目視判斷的誤差，從而能夠以客觀的量化指標(biāo)評價開槽區(qū)的分屏現(xiàn)象，進(jìn)而為后續(xù)針對開槽區(qū)的分屏現(xiàn)象優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及顯示檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種顯示分屏的信息檢測方法、裝置及信息檢測設(shè)備。

背景技術(shù)

隨著顯示終端的快速發(fā)展，用戶對屏占比的要求越來越高，全面屏顯示技術(shù)受到業(yè)界越來越多的關(guān)注。理想的全面屏終端正面基本上被屏幕完全覆蓋，但實(shí)際實(shí)施時難以實(shí)現(xiàn)，因此出現(xiàn)了在顯示屏設(shè)置開槽區(qū)的方案，例如劉海屏、水滴屏、挖孔屏等解決方案。然而，經(jīng)本申請發(fā)明人研究發(fā)現(xiàn)，開槽區(qū)的設(shè)計會導(dǎo)致顯示屏的顯示過程出現(xiàn)異常分屏現(xiàn)象，目前針對這種分屏現(xiàn)象僅依靠測試人員目視來判定輕重程度，無法進(jìn)行量化評價。

發(fā)明內(nèi)容

基于現(xiàn)有設(shè)計的不足，本申請?zhí)峁┮环N顯示分屏的信息檢測方法、裝置及信息檢測設(shè)備，通過量化分屏顯示區(qū)域的分屏顯示質(zhì)量參數(shù)，可以消除測試人員目視判斷的誤差，從而能夠以客觀的量化指標(biāo)評價開槽區(qū)的分屏現(xiàn)象，進(jìn)而為后續(xù)針對開槽區(qū)的分屏現(xiàn)象優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

根據(jù)本申請的第一方面，提供一種顯示分屏的信息檢測方法，應(yīng)用于信息檢測設(shè)備，所述信息檢測設(shè)備用于對待測顯示屏進(jìn)行信息檢測，所述待測顯示屏包括開槽區(qū)，所述方法包括：

獲取所述開槽區(qū)形成的分屏顯示區(qū)域中的多個目標(biāo)測試坐標(biāo)，并獲得每個所述目標(biāo)測試坐標(biāo)的光學(xué)測試數(shù)據(jù)，所述光學(xué)測試數(shù)據(jù)包括每個所述目標(biāo)測試坐標(biāo)的亮度值以及該目標(biāo)測試坐標(biāo)在不同測試角度下的色度坐標(biāo)；

根據(jù)每個所述目標(biāo)測試坐標(biāo)的光學(xué)測試數(shù)據(jù)計算得到所述分屏顯示區(qū)域的分屏顯示質(zhì)量參數(shù)，所述分屏顯示質(zhì)量參數(shù)包括所述分屏顯示區(qū)域的亮度均一性、色度均一性、色準(zhǔn)度和色偏度中的至少一種。

在第一方面的一種可能的實(shí)施方式中，所述獲取所述開槽區(qū)形成的分屏顯示區(qū)域中的每個目標(biāo)測試坐標(biāo)的步驟，包括：

獲取所述待測顯示屏的顯示屏參數(shù)，所述顯示屏參數(shù)包括所述開槽區(qū)的尺寸參數(shù)和所述待測顯示屏的尺寸參數(shù)；

根據(jù)所述開槽區(qū)的開槽類型確定測試坐標(biāo)定位規(guī)則；

依據(jù)所述測試坐標(biāo)定位規(guī)則和所述顯示屏參數(shù)確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測試坐標(biāo)。

在第一方面的一種可能的實(shí)施方式中，所述依據(jù)所述測試坐標(biāo)定位規(guī)則和所述顯示屏參數(shù)確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測試坐標(biāo)的步驟，包括：

當(dāng)所述開槽類型為盲孔時，從所述測試坐標(biāo)定位規(guī)則中獲得至少一個測試半徑；

根據(jù)所述盲孔位置確定一原點(diǎn)坐標(biāo)，并針對每個所述測試半徑，根據(jù)所述顯示屏參數(shù)獲取所述待測顯示屏上與所述原點(diǎn)坐標(biāo)之間的距離為該測試半徑的坐標(biāo)點(diǎn)組成該測試半徑對應(yīng)的候選測試坐標(biāo)集合；

基于每個所述測試半徑對應(yīng)的候選測試坐標(biāo)集合確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測試坐標(biāo)。

在第一方面的一種可能的實(shí)施方式中，所述測試坐標(biāo)定位規(guī)則中還包括預(yù)設(shè)的每個所述測試半徑所對應(yīng)的坐標(biāo)方位角，所述基于每個所述測試半徑對應(yīng)的候選測試坐標(biāo)集合確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測試坐標(biāo)的步驟，包括：

針對每個測試半徑對應(yīng)的候選測試坐標(biāo)集合，從該測試半徑的候選測試坐標(biāo)集合中獲取與所述原點(diǎn)坐標(biāo)構(gòu)成該測試半徑對應(yīng)的坐標(biāo)方位角的測試坐標(biāo)，作為所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測試坐標(biāo)。