[發(fā)明專(zhuān)利]顯示分屏的信息檢測(cè)方法、裝置及信息檢測(cè)設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011329077.5
• 申請(qǐng)日: 2020-11-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112530331B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪春;黨鵬樂(lè);陳兆禮;雷博琳;余維
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 昆山國(guó)顯光電有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 成都極刻智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51310
• 代理人: 唐維虎

1.一種顯示分屏的信息檢測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于信息檢測(cè)設(shè)備，所述信息檢測(cè)設(shè)備用于對(duì)待測(cè)顯示屏進(jìn)行信息檢測(cè)，所述待測(cè)顯示屏包括開(kāi)槽區(qū)，所述方法包括：

獲取所述開(kāi)槽區(qū)形成的分屏顯示區(qū)域中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)，并獲得每個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的光學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述光學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)包括每個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的亮度值以及該目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)在不同測(cè)試角度下的色度坐標(biāo)；

根據(jù)每個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的光學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述分屏顯示區(qū)域的分屏顯示質(zhì)量參數(shù)，所述分屏顯示質(zhì)量參數(shù)包括所述分屏顯示區(qū)域的亮度均一性、色度均一性、色準(zhǔn)度和色偏度中的至少一種；

其中，所述獲取所述開(kāi)槽區(qū)形成的分屏顯示區(qū)域中的每個(gè)目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的步驟，包括：

獲取所述待測(cè)顯示屏的顯示屏參數(shù)，所述顯示屏參數(shù)包括所述開(kāi)槽區(qū)的尺寸參數(shù)和所述待測(cè)顯示屏的尺寸參數(shù)；

根據(jù)所述開(kāi)槽區(qū)的開(kāi)槽類(lèi)型確定測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則；

依據(jù)所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則和所述顯示屏參數(shù)確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示分屏的信息檢測(cè)方法，其特征在于，所述依據(jù)所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則和所述顯示屏參數(shù)確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的步驟，包括：

當(dāng)所述開(kāi)槽類(lèi)型為盲孔時(shí)，從所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則中獲得至少一個(gè)測(cè)試半徑；

根據(jù)所述盲孔位置確定一原點(diǎn)坐標(biāo)，并針對(duì)每個(gè)所述測(cè)試半徑，根據(jù)所述顯示屏參數(shù)獲取所述待測(cè)顯示屏上與所述原點(diǎn)坐標(biāo)之間的距離為該測(cè)試半徑的坐標(biāo)點(diǎn)組成該測(cè)試半徑對(duì)應(yīng)的候選測(cè)試坐標(biāo)集合；

基于每個(gè)所述測(cè)試半徑對(duì)應(yīng)的候選測(cè)試坐標(biāo)集合確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示分屏的信息檢測(cè)方法，其特征在于，所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則中還包括預(yù)設(shè)的每個(gè)所述測(cè)試半徑所對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)方位角，所述基于每個(gè)所述測(cè)試半徑對(duì)應(yīng)的候選測(cè)試坐標(biāo)集合確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的步驟，包括：

針對(duì)每個(gè)測(cè)試半徑對(duì)應(yīng)的候選測(cè)試坐標(biāo)集合，從該測(cè)試半徑的候選測(cè)試坐標(biāo)集合中獲取與所述原點(diǎn)坐標(biāo)構(gòu)成該測(cè)試半徑對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)方位角的測(cè)試坐標(biāo)，作為所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示分屏的信息檢測(cè)方法，其特征在于，所述依據(jù)所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則和所述顯示屏參數(shù)確定所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的步驟，包括：

當(dāng)所述開(kāi)槽區(qū)為切口時(shí)，從所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則中獲得第一測(cè)試距離、第二測(cè)試距離和第三測(cè)試距離；

將所述待測(cè)顯示屏的中心點(diǎn)坐標(biāo)作為原點(diǎn)坐標(biāo)，獲取所述待測(cè)顯示屏上與所述切口的下邊緣相距所述第一測(cè)試距離的第一測(cè)試坐標(biāo)集合；

從所述待測(cè)顯示屏的上邊緣相距所述第二測(cè)試距離，并分別與所述切口的兩側(cè)邊緣相距所述第三測(cè)試距離的第一個(gè)候選測(cè)試坐標(biāo)起進(jìn)行遍歷，依次獲取之后的候選測(cè)試坐標(biāo)，得到第二測(cè)試坐標(biāo)集合；

將所述第一測(cè)試坐標(biāo)集合和/或所述第二測(cè)試坐標(biāo)集合包括的測(cè)試坐標(biāo)作為所述分屏顯示區(qū)域中的目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)；

所述測(cè)試坐標(biāo)定位規(guī)則還包括坐標(biāo)間隔距離；

其中，所述第一測(cè)試坐標(biāo)集合中相鄰的兩個(gè)第一測(cè)試坐標(biāo)之間均相距所述坐標(biāo)間隔距離，所述第二測(cè)試坐標(biāo)集合中相鄰的兩個(gè)第二測(cè)試坐標(biāo)之間均相距所述坐標(biāo)間隔距離。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示分屏的信息檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法還包括：

基于所述顯示屏參數(shù)獲得所述切口的開(kāi)槽高度和開(kāi)槽寬度；

根據(jù)所述開(kāi)槽高度和開(kāi)槽寬度計(jì)算目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的最大總數(shù)量，其中，所述切口的下邊緣與所述待測(cè)顯示屏的上邊緣之間的距離為所述開(kāi)槽高度；所述切口的兩側(cè)邊緣分別與所述待測(cè)顯示屏對(duì)應(yīng)的兩側(cè)邊緣之間的距離與所述開(kāi)槽寬度之和為所述待測(cè)顯示屏的寬度；

所述根據(jù)所述開(kāi)槽高度和開(kāi)槽寬度計(jì)算目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的最大總數(shù)量的計(jì)算公式如下：

a＝(n+1)+(h-0.5+1)*2

其中，a為所述目標(biāo)測(cè)試坐標(biāo)的最大總數(shù)量，n為所述開(kāi)槽寬度，h為所述開(kāi)槽高度。