[發明專利]SDIO接口的測試方法及裝置、存儲介質、終端

有效

• 申請號: 202011314892.4
• 申請日: 2020-11-20
• 公開（公告）號: CN112256514B
• 公開（公告）日: 2022-09-16
• 發明（設計）人: 陳文超
• 申請（專利權）人: 廈門紫光展銳科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍

一種SDIO接口的測試方法及裝置、存儲介質、終端，SDIO接口測試方法包括：對SDIO接口進行初始化；至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整；按照多個調整后的時鐘信號對所述SDIO接口的輸入輸出數據進行采樣；將采樣到的數據與預設數據進行比較，并輸出比較結果。本發明技術方案能夠安全高效地實現SDIO接口的測試。

技術領域

本發明涉及信號測試技術領域，尤其涉及一種SDIO接口的測試方法及裝置、存儲介質、終端。

背景技術

安全數字輸入輸出(Secure Digital Input and Output,SDIO)在SD標準上定義了一種外設接口。目前，SDIO主要有兩類應用：可移動設備和不可移動設備。可移動設備可以用來增加藍牙、照相機、GPS和802.11b功能。SDIO和SD卡規范間的一個重要區別是增加了低速標準。SDIO卡只需要串行外設接口(Serial Peripheral Interface,SPI)和1位SD傳輸模式。低速卡的目標應用是以最小的硬件開支支持低速I/O能力。低速卡支持類似調制解調器、條碼掃描儀和GPS接受器等應用。SDIO是未來嵌入式系統最重要的接口技術之一，所以當前的移動片上系統(System on Chip)處理器都帶有至少一個的SDIO主(HOST)接口，方便對功能進行擴展，所以在SOC出廠前的最終(final test)測試中需要對這個接口進行測試，目前的測試方法就是接上一張特定功能SDIO卡，使處理器識別這張卡并對這張卡讀寫數據，如果讀寫數據正確，那么SOC的SDIO接口就是正常的，反之，則判斷為異常。

分析眼圖可以得出信號的傳輸質量，這是一種快速而又非常直觀的觀測手段。分析眼圖對于實際系統調試安全數字輸入輸出(Secure Digital Input and Output,SDIO)效率不高，一般需要軟件和硬件工程師同時參與。即使硬件工程師測量到的眼圖沒問題，也不代表該眼圖所得到的延遲值(Delay Value)是合適的。因為硬件布局走線和外設的差異，如不同廠家的安全數碼卡(Secure Digital Memory Card,SD卡)、WIFI芯片等，所帶來的SDIO的延遲值(Delay Value)不同。

但是，如果直接測量SDIO眼圖信號，需要破壞板子和焊接飛線，效率低且無法大規模測試。即使滿足上述條件，測量到的信號也是外部輸入/輸出(Input/Output,IO)上的信號，只能判斷是否符號規范標準，不能反應實際片上系統(System on Chip)內部SDIO控制器及其端口物理層(Port Physical Layer,PHY)是否能工作正常。

發明內容

本發明解決的技術問題是如何安全高效地實現SDIO接口的測試。

為解決上述技術問題，本發明實施例提供一種SDIO接口測試方法，SDIO接口測試方法包括：對SDIO接口進行初始化；至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整；按照多個調整后的時鐘信號對所述SDIO接口的輸入輸出數據進行采樣；將采樣到的數據與預設數據進行比較，并輸出比較結果。

可選的，所述至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整包括：直接按照多個不同延時對所述采樣時鐘信號進行調整。

可選的，所述至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整包括：按照多個不同的驅動強度對所述采樣時鐘信號和/或所述輸入輸出數據進行調整；在每一驅動強度下，按照多個不同延時對所述采樣時鐘信號進行調整。

可選的，所述將采樣到的數據與預設數據進行比較，并輸出比較結果包括：如果所述采樣到的數據與所述預設數據一致，則輸出所述采樣到的數據，并形成眼圖；如果所述采樣到的數據與所述預設數據不一致，則反饋失敗。

可選的，所述至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整之前還包括：按照標準協議配置所述采樣時鐘信號的時鐘頻率。