[發明專利]SDIO接口的測試方法及裝置、存儲介質、終端

有效

• 申請號: 202011314892.4
• 申請日: 2020-11-20
• 公開（公告）號: CN112256514B
• 公開（公告）日: 2022-09-16
• 發明（設計）人: 陳文超
• 申請（專利權）人: 廈門紫光展銳科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍

1.一種SDIO接口測試方法，其特征在于，包括：

對SDIO接口進行初始化；

至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整；

按照多個調整后的時鐘信號對所述SDIO接口的輸入輸出數據進行采樣；

將采樣到的數據與預設數據進行比較，并輸出比較結果；

所述至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整包括：

按照多個不同的驅動強度對所述采樣時鐘信號和/或所述輸入輸出數據進行調整；在每一驅動強度下，按照多個不同延時對所述采樣時鐘信號進行調整。

2.根據權利要求1所述的SDIO接口測試方法，其特征在于，所述將采樣到的數據與預設數據進行比較，并輸出比較結果包括：

如果所述采樣到的數據與所述預設數據一致，則輸出所述采樣到的數據，并形成眼圖；

如果所述采樣到的數據與所述預設數據不一致，則反饋失敗。

3.根據權利要求1所述的SDIO接口測試方法，其特征在于，所述至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整之前還包括：

按照標準協議配置所述采樣時鐘信號的時鐘頻率。

4.根據權利要求3所述的SDIO接口測試方法，其特征在于，還包括：

根據所述時鐘頻率配置需要執行測試的SDIO的工作狀態，所述工作狀態包括所述SDIO接口的速度模式。

5.根據權利要求1所述的SDIO接口測試方法，其特征在于，所述SDIO接口的輸入輸出數據為以下運行狀態下的數據：寫數據、讀數據以及讀命令。

6.一種SDIO接口測試裝置，其特征在于，包括：

初始化模塊，用于對SDIO接口進行初始化；

調整模塊，用于至少按照多個不同延時對采樣時鐘信號進行調整；

采樣模塊，用于按照多個調整后的時鐘信號對所述SDIO接口的輸入輸出數據進行采樣；

比較模塊，用于將采樣到的數據與預設數據進行比較，并輸出比較結果；所述調整模塊按照多個不同的驅動強度對所述采樣時鐘信號和/或所述輸入輸出數據進行調整；在每一驅動強度下，按照多個不同延時對所述采樣時鐘信號進行調整。

7.一種存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器運行時執行權利要求1至5中任一項所述SDIO接口測試方法的步驟。

8.一種終端，包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器運行所述計算機程序時執行權利要求1至5中任一項所述SDIO接口測試方法的步驟。