[發(fā)明專(zhuān)利]玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011309304.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112466784B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃欣;李建華 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳市山本光電股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/67;H01L21/683 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 謝岳鵬 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明新區(qū)公明街道上村社區(qū)公*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 玻璃 襯底 芯片 生產(chǎn) 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法。所述玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法包括如下步驟:將異方性導(dǎo)電膠膜貼附在導(dǎo)電玻璃、將IC芯片轉(zhuǎn)移至具有呈陣列分布的固定槽的IC芯片治具、將所述IC芯片治具中的所述IC芯片轉(zhuǎn)移到所述導(dǎo)電玻璃上以及將所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行熱壓。通過(guò)將異方性導(dǎo)電膠膜貼附在導(dǎo)電玻璃、將IC芯片轉(zhuǎn)移至具有呈陣列分布的固定槽的IC芯片治具、將所述IC芯片治具中的所述IC芯片轉(zhuǎn)移到所述導(dǎo)電玻璃上和將所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行熱壓等步驟,使得玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及玻璃襯底芯片生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法。
背景技術(shù)
在玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法中,通常需要將大量IC芯片按照產(chǎn)品需求設(shè)置于導(dǎo)電玻璃,目前的玻璃襯底芯片的生產(chǎn)效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本發(fā)明提出一種玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法,提高了玻璃襯底芯片的生產(chǎn)效率。
根據(jù)本發(fā)明第一方面實(shí)施例的玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法,所述玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法包括如下步驟:
將異方性導(dǎo)電膠膜貼附在導(dǎo)電玻璃;
將IC芯片轉(zhuǎn)移至具有呈陣列分布的固定槽的IC芯片治具,所述固定槽的深度小于所述IC芯片的深度;
將所述IC芯片治具的工作面貼合于所述導(dǎo)電玻璃,使所述IC芯片與所述導(dǎo)電玻璃的焊點(diǎn)接觸,將所述IC芯片治具中的所述IC芯片轉(zhuǎn)移到所述導(dǎo)電玻璃上;
將所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行熱壓。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法,至少具有如下技術(shù)效果:通過(guò)將異方性導(dǎo)電膠膜貼附在導(dǎo)電玻璃、將IC芯片轉(zhuǎn)移至具有呈陣列分布的固定槽的IC芯片治具、將所述IC芯片治具中的所述IC芯片轉(zhuǎn)移到所述導(dǎo)電玻璃上和將所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行熱壓等步驟,使得玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,所述玻璃襯底芯片生產(chǎn)方法還包括:對(duì)所述導(dǎo)電玻璃進(jìn)行清潔。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,將所述IC芯片轉(zhuǎn)移至具有呈陣列分布的所述固定槽的所述IC芯片治具之前,還包括步驟:進(jìn)行所述IC芯片的質(zhì)量檢驗(yàn)。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,將所述IC芯片轉(zhuǎn)移至具有呈陣列分布的所述固定槽的所述IC芯片治具的步驟和將所述異方性導(dǎo)電膠膜貼附在所述導(dǎo)電玻璃的步驟同時(shí)進(jìn)行。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,所述玻璃襯底芯片生產(chǎn)還包括步驟:進(jìn)行所述異方性導(dǎo)電膠膜的金球檢查。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,在進(jìn)行所述異方性導(dǎo)電膠膜的金球檢查之后還包括步驟:對(duì)所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行整體點(diǎn)亮以及單顆所述IC芯片點(diǎn)亮的檢查。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,采用點(diǎn)亮筆進(jìn)行所述整體點(diǎn)亮或單顆所述IC芯片點(diǎn)亮,所述點(diǎn)亮筆的電壓調(diào)節(jié)為20伏至22伏之間,所述點(diǎn)亮筆的電流調(diào)節(jié)為0.4毫安到0.6毫安之間。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,在將所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行熱壓之后還包括步驟:對(duì)導(dǎo)電玻璃進(jìn)行滴膠。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,在將所述異方性導(dǎo)電膠膜進(jìn)行熱壓的步驟中,采用加熱型熱壓機(jī)進(jìn)行熱壓。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一些實(shí)施例,進(jìn)行所述異方性導(dǎo)電膠膜的金球檢查后,需要進(jìn)行所述IC芯片的引腳與所述導(dǎo)電玻璃的焊點(diǎn)的偏移檢查。
本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
附圖說(shuō)明
本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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