[發(fā)明專利]一種用于光學器件檢測的設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011303370.4
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN112698099B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發(fā)明（設計）人: 曹清波;梁大明
• 申請（專利權）人: 通富微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產(chǎn)權代理有限公司 11435
• 代理人: 郭棟梁

本申請公開了一種用于光學器件檢測的設備，所述用于光學器件檢測的設備包括：支撐件，所述支撐件用于設置光學器件，所述支撐件沿第一方向運動；檢測機構，所述檢測機構包括相對設置的第一檢測件和第二檢測件，所述支撐件設置于所述第一檢測件和所述第二檢測件之間，所述第一檢測件和所述第二檢測件相向運動，所述第一檢測件、所述第二檢測件的運動方向與所述第一方向相互垂直。本申請實現(xiàn)自動化對光學器件的開爾文測試，代替人工作業(yè)，提高檢測效率和檢測穩(wěn)定性。

技術領域

本申請涉及光學器件技術領域，尤其涉及一種用于光學器件檢測的設備。

背景技術

開爾文檢測是一種電阻抗測量技術，開爾文測試的設備一般有四個測試探針，將測試探針連接在被測試光學器件上。

測溫槍包括若干個光學器件，例如光電傳感器TO46。在相關技術中，對TO46進行開爾文測試時，需通過手動測試的方式來實現(xiàn)。上述測試方式速度慢，效率低，且測試結果不穩(wěn)定。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明提供一種用于光學器件檢測的設備，至少部分地解決上面提到的問題。

本發(fā)明提供了一種用于光學器件檢測的設備，所述用于光學器件檢測的設備包括：支撐件，所述支撐件用于設置光學器件，所述支撐件沿第一方向運動；

檢測機構，所述檢測機構包括相對設置的第一檢測件和第二檢測件，所述支撐件設置于所述第一檢測件和所述第二檢測件之間，所述第一檢測件和所述第二檢測件相向運動，所述第一檢測件、所述第二檢測件的運動方向與所述第一方向相互垂直。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述支撐件間歇性運動。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，若干個光學器件等間距布置于所述支撐件。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述光學器件與所述支撐件插接配合。作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述支撐件沿其長度方向等間距設有若干個卡接部，所述光學器件包括并排設置的若干個引腳，最外側的兩個所述引腳的間距為第一距離，所述第一間距與任意相鄰兩個所述卡接部的間距相等。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述第一檢測件包括并排設置的第一導電觸片，所述第一導電觸片包括第一傾斜段；所述第二檢測件包括并排設置的第二導電觸片，所述第二導電觸片包括第二傾斜段，所述第一傾斜段和所述第二傾斜段的交點位于所述支撐件上。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述第一傾斜段和所述第二傾斜段成銳角，且所述第一傾斜段和所述第二傾斜段的交點位于所述第一傾斜段、所述第二傾斜段的上方。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述第一檢測件包括兩排所述的第一導電觸片，所述第二檢測件包括兩排所述的第二導電觸片，靠近所述支撐件的所述第一傾斜段與靠近所述支撐件的所述第二傾斜段成第一銳角；遠離所述支撐件的所述第一傾斜段與遠離所述支撐件的所述第二傾斜段成第二銳角，所述第二銳角大于所述第一銳角。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，還包括相向運動的第一推動件和第二推動件，所述第一檢測件、所述第二檢測件位于所述第一推動件和第二推動件之間。

作為可實現(xiàn)的最優(yōu)方式，所述第一推動件設有第一絕緣部，所述第一絕緣部與所述第一檢測件能夠抵靠；所述第二推動件設有第二絕緣部，所述第二絕緣部與所述第二檢測件能夠抵靠。

本實施例通過支撐件沿第一方向運動，第一檢測件和第二檢測件相向運動，且第一檢測件、第二檢測件運動方向與第一方向相互垂直，實現(xiàn)自動化對光學器件的開爾文測試，代替人工作業(yè)，提高檢測效率和檢測穩(wěn)定性；第一導電觸片包括第一傾斜段，第二導電觸片包括第二傾斜段，第一傾斜段和第二傾斜段的交點能夠位于支撐件上，縮短第一檢測件和第二檢測件相向運動距離，有利于提高檢測效率。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細描述，本申請的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯：