[發明專利]一種用于光學器件檢測的設備

有效

• 申請號: 202011303370.4
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN112698099B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 曹清波;梁大明
• 申請（專利權）人: 通富微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理有限公司 11435
• 代理人: 郭棟梁

1.一種用于光學器件檢測的設備，其特征在于，包括：

支撐件，所述支撐件用于設置光學器件，所述支撐件沿第一方向運動；

檢測機構，所述檢測機構包括相對設置的第一檢測件和第二檢測件，所述支撐件設置于所述第一檢測件和所述第二檢測件之間，所述第一檢測件和所述第二檢測件相向運動，所述第一檢測件、所述第二檢測件的運動方向與所述第一方向相互垂直；

所述第一檢測件包括并排設置的兩排第一導電觸片，所述第一導電觸片包括第一傾斜段和第一支撐段；所述第二檢測件包括并排設置的兩排第二導電觸片，所述第二導電觸片包括第二傾斜段和第二支撐段；

靠近支撐件的第一導電觸片的第一傾斜段與第一支撐段成鈍角β，遠離支撐件的第一導電觸片的第一傾斜段與第一支撐段成鈍角α；靠近支撐件的第二導電觸片的第二傾斜段與第二支撐段成鈍角β，遠離支撐件的第二導電觸片的第二傾斜段與第二支撐段成鈍角α；

所述第一傾斜段和所述第二傾斜段的交點位于所述支撐件上，且靠近所述支撐件的所述第一傾斜段與靠近所述支撐件的所述第二傾斜段成第一銳角；遠離所述支撐件的所述第一傾斜段與遠離所述支撐件的所述第二傾斜段成第二銳角，所述第二銳角大于所述第一銳角；

相向運動的第一推動件和第二推動件，所述第一檢測件、所述第二檢測件位于所述第一推動件和第二推動件之間，所述第一推動件用于推動所述第一檢測件朝向所述支撐件彎曲變形，所述第二推動件用于推動所述第二檢測件朝向所述支撐件彎曲變形。

2.根據權利要求1所述的用于光學器件檢測的設備，其特征在于，所述支撐件間歇性運動。

3.根據權利要求2所述的用于光學器件檢測的設備，其特征在于，若干個光學器件等間距布置于所述支撐件。

4.根據權利要求3所述的用于光學器件檢測的設備，其特征在于，所述光學器件與所述支撐件插接配合。

5.根據權利要求4所述的用于光學器件檢測的設備，其特征在于，所述支撐件沿其長度方向等間距設有若干個卡接部，所述光學器件包括并排設置的若干個引腳，最外側的兩個所述引腳的間距為第一距離，所述第一距離與任意相鄰兩個所述卡接部的間距相等。

6.根據權利要求1所述的用于光學器件檢測的設備，其特征在于，所述第一傾斜段和所述第二傾斜段的交點位于所述第一傾斜段、所述第二傾斜段的上方。

7.根據權利要求1所述的用于光學器件檢測的設備，其特征在于，所述第一推動件設有第一絕緣部，所述第一絕緣部與所述第一檢測件能夠抵靠；所述第二推動件設有第二絕緣部，所述第二絕緣部與所述第二檢測件能夠抵靠。