[發(fā)明專利]測試SRAM的方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011302401.4 | 申請日： | 2020-11-19 |
| 公開（公告）號： | CN112420117A | 公開（公告）日： | 2021-02-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李湘錦;張鵬;郭芳芳 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/38 | 分類號： | G11C29/38;G11C29/34 |
| 代理公司： | 深圳市精英專利事務(wù)所 44242 | 代理人： | 曹祥波 |
| 地址： | 518067 廣東省深圳市南山區(qū)*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 sram 方法 裝置 計算機(jī) 設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
1.測試SRAM的方法，其特征在于，包括以下步驟：
對待測試的內(nèi)存進(jìn)行標(biāo)識，生成測試數(shù)據(jù)；
對待測試的內(nèi)存進(jìn)行讀操作，獲取讀數(shù)據(jù)；
將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，獲取比較測試結(jié)果，并輸出比較測試結(jié)果至待測試的內(nèi)存。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試SRAM的方法，其特征在于，所述步驟對待測試的內(nèi)存進(jìn)行標(biāo)識，生成測試數(shù)據(jù)中，通過bist控制器對待測試的內(nèi)存進(jìn)行標(biāo)識，并根據(jù)待測試的內(nèi)存的類型生成相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試SRAM的方法，其特征在于，所述步驟將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，獲取比較測試結(jié)果，并輸出比較測試結(jié)果至待測試的內(nèi)存中，通過bist控制器將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，若測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)比較測試一致，則比較測試結(jié)果為成功；若測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)比較測試不一致，則比較測試結(jié)果為失敗。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試SRAM的方法，其特征在于，所述步驟將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，獲取比較測試結(jié)果，并輸出比較測試結(jié)果至待測試的內(nèi)存之后，還包括：對待測試的內(nèi)存的比較測試結(jié)果進(jìn)行保存和解析。
5.測試SRAM的裝置，其特征在于，包括：標(biāo)識生成單元，讀獲取單元，及測試獲取輸出單元；
所述標(biāo)識生成單元，用于對待測試的內(nèi)存進(jìn)行標(biāo)識，生成測試數(shù)據(jù)；
所述讀獲取單元，用于對待測試的內(nèi)存進(jìn)行讀操作，獲取讀數(shù)據(jù)；
所述測試獲取輸出單元，用于將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，獲取比較測試結(jié)果，并輸出比較測試結(jié)果至待測試的內(nèi)存。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試SRAM的裝置，其特征在于，所述標(biāo)識生成單元中，通過bist控制器對待測試的內(nèi)存進(jìn)行標(biāo)識，并根據(jù)待測試的內(nèi)存的類型生成相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試SRAM的裝置，其特征在于，所述測試獲取輸出單元中，通過bist控制器將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，若測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)比較測試一致，則比較測試結(jié)果為成功；若測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)比較測試不一致，則比較測試結(jié)果為失敗。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試SRAM的裝置，其特征在于，還包括：保存解析單元，用于對待測試的內(nèi)存的比較測試結(jié)果進(jìn)行保存和解析。
9.一種計算機(jī)設(shè)備，其特征在于，所述計算機(jī)設(shè)備包括存儲器及處理器，所述存儲器上存儲有計算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的測試SRAM的方法。
10.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)存儲有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序包括程序指令，所述程序指令當(dāng)被處理器執(zhí)行時可實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的測試SRAM的方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司，未經(jīng)深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011302401.4/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
