[發(fā)明專利]形成多個(gè)光電器件的公共電極的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011300785.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112825341A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬里恩·沃爾博特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 原子能和替代能源委員會(huì) |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00;H01L33/36 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 馬芬;王琳 |
| 地址: | 法國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 形成 光電 器件 公共 電極 方法 | ||
1.一種形成多個(gè)光電器件的公共電極(190)的方法,所述多個(gè)光電器件中的每個(gè)光電器件包括通過(guò)側(cè)面(151c)連接的正面(151a)和背面(151b),所述方法包括以下步驟:
a)提供支撐基底(111),通過(guò)所述多個(gè)光電器件的背面(151b)將由溝槽(170)隔開(kāi)的所述多個(gè)光電器件置于所述支撐基底的稱為主表面(111a)的表面上,所述溝槽(170)由所述光電器件的側(cè)面(151c)和所述主表面(111a)處的底部限定;
b)通過(guò)覆蓋所述正面、所述側(cè)面(151c)以及所述溝槽(170)的底部來(lái)形成介電層(130),所述正面和所述側(cè)面(151c)處的所述介電層(130)的厚度分別為厚度E1和小于厚度E1的厚度E2;
c)將所述介電層(130)濕蝕刻小于所述厚度E1的厚度E3,以露出所述溝槽(170)的第一部分(171a)處的側(cè)面(151c),并且至少部分地保留所述正面上的介電層(130);
d)通過(guò)覆蓋所述溝槽(170)以及覆蓋所述正面來(lái)形成金屬層(185);
e)對(duì)所述金屬層(185)進(jìn)行機(jī)械化學(xué)的拋光,所述拋光停止在步驟c)結(jié)束時(shí)所保留的覆蓋所述正面的所述介電層(130)的部分上,保留在所述溝槽(170)中的金屬形成所述公共電極(190);
每個(gè)溝槽從底部起包括與所述第一部分相鄰的第二部分(171b),所述第一部分(171a)和所述第二部分分別根據(jù)第一高度和第二高度進(jìn)行延伸,所述第一部分(171a)通向由所述光電器件的正面形成的平面,
步驟b)之前包括步驟b0):根據(jù)順應(yīng)性沉積技術(shù),通過(guò)覆蓋所述正面、所述側(cè)面(151c)以及所述溝槽(170)的底部來(lái)形成鈍化層(120),步驟c)也能夠去除所述第一部分(171a)處的鈍化層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述厚度E1至少比所述厚度E2大2倍。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,通過(guò)原子層沉積來(lái)執(zhí)行步驟b0)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述鈍化層(120)至少包括選自以下的材料:SiO2,Al2O3。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述鈍化層(120)的厚度在5nm至30nm之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,通過(guò)等離子體激活化學(xué)氣相沉積技術(shù)形成所述介電層(130)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述介電層(130)包括選自以下材料中的至少一種材料:SiO2,Si3N4。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,步驟a)包括將形成在種子基底上的層的堆疊體轉(zhuǎn)接在所述支撐基底(111)的主表面(111a)上。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中,在轉(zhuǎn)接所述層的堆疊體之后,形成在所述堆疊體的整個(gè)厚度上延伸的所述溝槽(170)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其中,所述溝槽(170)的形成使用在執(zhí)行步驟b)之前被去除的硬掩模。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述光電器件是發(fā)光二極管(172),所述發(fā)光二極管從正面(151a)到背面(151b)包括:第一N摻雜半導(dǎo)體層(153)、發(fā)光層組件(155)以及第二P摻雜半導(dǎo)體層(157),所述第一高度小于或等于所述第一N摻雜半導(dǎo)體層的厚度。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述支撐基底(111)在其主表面(111a)上包括集成電路,所述集成電路旨在單獨(dú)尋址所述多個(gè)光電器件中的每個(gè)光電器件。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





