[發明專利]內置電容器的檢測方法、裝置、檢測設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202011294573.1
• 申請日: 2020-11-18
• 公開（公告）號: CN112485640B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: 趙旭;董亞明
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種內置電容器的檢測方法，其特征在于，

獲取各待檢測通道的充電電流值，其中，待檢測芯片的內置電容器通過所述待檢測芯片的引腳與至少一個待檢測通道相連；

分別控制各待檢測通道采用對應的充電電流值向所連接的內置電容器充電，并獲取各內置電容器的檢測電壓值；

根據各充電電流值和各檢測電壓值確定所述待檢測芯片的各內置電容器是否正確安裝，生成檢測結果；

其中，所述獲取各待檢測通道的充電電流值，包括：

獲取各待檢測通道所連接的內置電容器的電容器參數，所述電容器參數包括理論電容值、充電電流閾值和檢測電壓閾值；

根據預先設置的檢測時間和所述電容器參數確定各待檢測通道的充電電流值；

檢測設備在某一待檢測通道檢測得到的檢測電壓值的大小或數量已經能夠確定該待檢測通道所連接的內置電容器是否正確安裝時，即向該待檢測通道發送停止充電指令，或者，在所有待檢測通道檢測得到的檢測電壓值的大小或數量均已經能夠確定相應檢測通道所連接的內置電容器是否正確安裝時，向各待檢測通道發送停止充電指令。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述分別控制各待檢測通道采用對應的充電電流值向所連接的內置電容器充電，并獲取各內置電容器的檢測電壓值，包括：

針對每個待檢測通道，控制所述待檢測通道內的參數測量單元采用目標電流向所述待檢測通道連接的內置電容器充電，并通過所述待檢測通道內的模數轉換芯片周期性地檢測所述內置電容器的檢測電壓值；其中，所述目標電流的電流值為所述待檢測通道所連接的內置電容器的充電電流值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據各充電電流值和各檢測電壓值確定所述待檢測芯片的各內置電容器是否正確安裝，包括：

根據各內置電容器的充電電流值和檢測電壓值計算各內置電容器的檢測電容值；

將各內置電容的檢測電容值發送給上位機，以通過所述上位機根據各檢測電容值確定待檢測芯片的各內置電容器是否正確安裝。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據各內置電容器的充電電流值和檢測電壓值計算各內置電容器的檢測電容值，包括：

針對每個內置電容器，根據所述內置電容器在各檢測周期內的檢測電壓值確定所述內置電容器由預設最小電壓值上升至預設最大電壓值的電壓上升時間；

根據所述充電電流值、所述電壓上升時間以及所述預設最大電壓值與所述預設最小電壓值之間的電壓差值計算所述內置電容器的檢測電容值。

5.根據權利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，還包括：

當各內置電容器的充電時間達到預設超時時間時，控制各待檢測通道停止向所連接的內置電容器充電。

6.根據權利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，在所述分別控制各待檢測通道采用對應的充電電流值向所連接的內置電容器充電之前，還包括：

分別控制各待檢測通道向所連接的內置電容器施加0V電壓，以釋放各內置電容器中的殘存電荷。