[發明專利]一種多封裝兼容及可調式的電阻測試治具

在審

• 申請號: 202011281030.6
• 申請日: 2020-11-16
• 公開（公告）號: CN112327056A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 鄒文鑒;李智德;胡紫陽
• 申請（專利權）人: 深圳市業展電子有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08;G01R1/04
• 代理公司: 北京眾澤信達知識產權代理事務所(普通合伙) 11701
• 代理人: 張艷萍

1.一種多封裝兼容及可調式的電阻測試治具，其特征在于，包括：

底座(1)，所述底座(1)上固定設置有安裝桿(11)；

第一電流加載端(2)，設置于所述底座(1)上，與所述底座(1)滑動連接；

第二電流加載端(3)，設置于所述底座(1)上，與所述底座(1)固定連接；所述第一電流加載端(2)與所述第二電流加載端(3)均用于放置待檢測貼片電阻，并提供電流加載；

測試架(4)，安裝于所述安裝桿(11)上；

連接條(5)，設置于所述測試架(4)上，與所述測試架(4)滑動連接；

電壓測試針端(6)，套接于所述連接條(5)的外側，與所述連接條(5)滑動連接，用于對所述第一電流加載端(2)與所述第二電流加載端(3)上的待檢測貼片電阻進行電壓測試。

2.根據權利要求1所述的多封裝兼容及可調式的電阻測試治具，其特征在于，所述第一電流加載端(2)上設有用于方便容納待檢測貼片電阻的第一容納槽(21)，所述第二電流加載端(3)上設有與所述第一容納槽(21)對應的第二容納槽(31)。

3.根據權利要求1所述的多封裝兼容及可調式的電阻測試治具，其特征在于，所述第一電流加載端(2)設為多組，多組所述第一電流加載端(2)依次等間距分布于所述底座(1)上。

4.根據權利要求1所述的多封裝兼容及可調式的電阻測試治具，其特征在于，所述安裝桿(11)與所述底座(1)為一體成型結構。

5.根據權利要求1所述的多封裝兼容及可調式的電阻測試治具，其特征在于，所述測試架(4)上設有用于顯示刻度的第一刻度線(41)。

6.根據權利要求1所述的多封裝兼容及可調式的電阻測試治具，其特征在于，所述連接條(5)上設有用于顯示刻度的第二刻度線(51)。