[發明專利]點云優化方法、裝置及設備在審

申請號：	202011279945.3	申請日：	2020-11-16
公開（公告）號：	CN112488910A	公開（公告）日：	2021-03-12
發明（設計）人：	李玉成	申請（專利權）人：	廣州視源電子科技股份有限公司
主分類號：	G06T3/00	分類號：	G06T3/00;G06T7/50;G06T17/00
代理公司：	廣州駿思知識產權代理有限公司 44425	代理人：	潘桂生
地址：	510530 廣***	國省代碼：	廣東;44
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摘要：
搜索關鍵詞：	優化方法裝置設備
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【說明書】：

本發明涉及一種點云優化方法、裝置及設備，該點云優化方法包括：獲取目標物體對應的三維點云；將三維點云投影至相機成像平面，得到三維點云對應的二維深度圖；其中，二維深度圖中像素點的原始像素值為三維點云中對應像素點的深度值；根據多個預設的方向濾波核，分別對二維深度圖進行卷積濾波操作，得到二維深度圖中每個像素點對應的多個濾波像素值；其中，每個方向濾波核的濾波邊界分別表示不同形態的圖像邊緣；將每個像素點的原始像素值替換為與像素點的原始像素值之間差值最小的濾波像素值，得到優化后的二維深度圖。相對于現有技術，本申請通過預設多個方向濾波核，實現了對點云的平滑濾波處理，提高點云優化的準確性。

技術領域

本申請實施例涉及光學檢測技術領域，尤其涉及一種點云優化方法、裝置及設備。

背景技術

三維自動光學檢測(3D Automatic Optic Inspection，3D AOI)系統一般利用結構光成像原理獲取目標物體的高精度三維點云。但是在實際測量中，由于相機像素解析力的限制，最終獲取的三維點云會存在大量噪音以及空洞的情況，因而在獲取到點云后需要對點云進行優化處理。

原有的點云優化方式通常是使用移動最小二乘、統計濾波等方法對三維點云進行平滑及去噪處理，這些方法雖能夠提升三維點云質量，但是會涉及大量的法向量計算，運算過程十分耗時，難以滿足實時檢測優化的需求。

發明內容

本申請實施例提供了一種點云優化方法、裝置及設備，可以高效地實現點云的優化處理，解決點云優化計算開銷大且實時性差的問題，該技術方案如下:

第一方面，本申請實施例提供了一種點云優化方法，包括：

獲取目標物體對應的三維點云；

將該三維點云投影至相機成像平面，得到該三維點云對應的二維深度圖；其中，該二維深度圖中像素點的原始像素值為該三維點云中對應像素點的深度值；

根據多個預設的方向濾波核，分別對該二維深度圖進行卷積濾波操作，得到該二維深度圖中每個該像素點對應的多個濾波像素值；其中，每個該方向濾波核的濾波邊界分別表示不同形態的圖像邊緣；

將每個該像素點的原始像素值替換為與該像素點的原始像素值之間差值最小的濾波像素值，得到優化后的二維深度圖。