[發明專利]一種全自動平面度測量的控制方法在審
| 申請號： | 202011279851.6 | 申請日： | 2020-11-16 |
| 公開（公告）號： | CN112588602A | 公開（公告）日： | 2021-04-02 |
| 發明（設計）人： | 鐘兆華;林榕;許華;何強 | 申請（專利權）人： | 廣東九聯科技股份有限公司 |
| 主分類號： | B07C5/10 | 分類號： | B07C5/10;B07C5/36 |
| 代理公司： | 廣東華專知識產權代理事務所(普通合伙) 44669 | 代理人： | 彭俊垣 |
| 地址： | 516025 廣東省惠州*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 全自動 平面 測量 控制 方法 | ||
1.一種全自動平面度測量的控制方法，用于測量模組表面的平面度，測量過程采用具有抓取裝置、測試平臺的測量設備完成，其特征在于：包括以下步驟：
S100：抓取裝置識別和讀取模組上的二維碼，通過讀取所述二維碼的信息對所述模組進行定位并將模組轉移至測試平臺；
S200：測試平臺根據預先設置的取值點對所述模組表面取值，并計算出所述模組的實際平面度；
S300：對比所述模組的實際平面度和預設平面度的大小，若實際平面度小于預設平面度，所述抓取裝置將所述模組移動至合格區域；若實際平面度大于預設平面度，所述抓取裝置將所述模組移動至不合格區域，重復步驟S100。
2.根據權利要求1所述的全自動平面度測量的控制方法，其特征在于：在步驟S100中，所述抓取裝置對所述模組進行定位包括如下步驟：
S101:所述抓取裝置移動到所述模組上方，識別所述模組表面的不銹鋼屏蔽蓋上的二維碼；
S102:掃描所述二維碼并獲取二維碼的位置，所述抓取裝置移動到所述二維碼的位置，抓取所述模組放置于測試平臺上。
3.根據權利要求1所述的全自動平面度測量的控制方法，其特征在于：在所述測試平臺上安裝有激光位移傳感器，在步驟S200中，計算所述模組的實際平面度包括以下步驟：
S201：預先設定所述測試平臺在所述模組表面取n個點；
S202：所述測試平臺驅動所述激光位移傳感器逐個點進行取值，得到n個空間坐標點；
S203：將n個空間坐標點通過最小二乘法擬合出一個平面A，計算n個點相對于平面A最大距離值S1，和最小距離S2，求出S1-S2的差值即是所述模組的實際平面度。
4.根據權利要求3所述的全自動平面度測量的控制方法，其特征在于：在步驟S201中，所述測試平臺在所述模組表面取呈“田”字形分布的9個點。
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