[發明專利]磁阻位移測量裝置

在審

• 申請號: 202011279095.7
• 申請日: 2020-11-16
• 公開（公告）號: CN114508993A
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 梅輝;安德里亞斯·沃斯;楊峰
• 申請（專利權）人: 精量電子（深圳）有限公司;泰連傳感器德國有限公司
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪洋

本發明公開一種磁阻位移測量裝置，包括：一個磁性標尺，可沿其長度方向移動；和多個磁阻傳感器，沿所述磁性標尺的長度方向均勻間隔分布，用于檢測所述磁性標尺的位移。所述多個磁阻傳感器串聯電連接，并且相鄰兩個磁阻傳感器之間的間距等于所述磁性標尺的長度H。在本發明中，通過將多個磁阻傳感器串聯，可在不增加安裝空間的尺寸的情況下增大磁性標尺的行程和減小磁性標尺的長度。

技術領域

本發明涉及一種磁阻位移測量裝置。

背景技術

在現有技術中，磁阻位移測量裝置通常包括一個磁性標尺和一個磁阻傳感器。當磁性標尺相對于磁阻傳感器移動時，磁阻傳感器與磁性標尺之間的磁場強度會發生周期性變化，這導致磁阻傳感器中的磁敏電阻的阻值隨磁場強度周期性變化。磁敏電阻的阻值的周期性變化信號在經信號處理電路整形、放大，轉換成脈沖信號，最后作為位移測量信號輸出。

在現有技術中，安裝空間在磁性標尺移動方向上的尺寸最少等于磁性標尺的行程的兩倍。如果要求磁性標尺具有較大的行程，就必須增加安裝空間在磁性標尺移動方向上的尺寸。但是，安裝空間在磁性標尺的移動方向上的尺寸通常是受限的，則會導致磁阻位移測量裝置通常不能滿足長行程的應用要求。

發明內容

本發明的目的旨在解決現有技術中存在的上述問題和缺陷的至少一個方面。

根據本發明的一個方面，提供一種磁阻位移測量裝置，包括：一個磁性標尺，可沿其長度方向移動；和多個磁阻傳感器，沿所述磁性標尺的長度方向均勻間隔分布，用于檢測所述磁性標尺的位移，所述多個磁阻傳感器串聯電連接，并且相鄰兩個磁阻傳感器之間的間距等于所述磁性標尺的長度H。

根據本發明的一個實例性的實施例，所述磁阻傳感器的數量為N個，并且N為大于或等于2的正整數；所述磁性標尺在其長度方向上的行程S等于所述磁性標尺的長度H的N倍。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述磁阻傳感器的數量為2個，并且所述磁性標尺在其長度方向上的行程S等于所述磁性標尺的長度H的2倍。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述磁阻傳感器的數量為3個，并且所述磁性標尺在其長度方向上的行程S等于所述磁性標尺的長度H的3倍。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述磁阻傳感器的數量為4個，并且所述磁性標尺在其長度方向上的行程S等于所述磁性標尺的長度H的4倍。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述磁性標尺可沿其長度方向在一個安裝空間中移動。

根據本發明的另一個實例性的實施例，當所述安裝空間在所述磁性標尺的長度方向上的尺寸等于L時，所述磁性標尺的長度H被設計成等于L*1/(N+1)，所述磁性標尺的行程S被設計成等于L*N/(N+1)。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述磁阻傳感器的數量為2個，所述磁性標尺的長度H被設計成等于L*1/3，所述磁性標尺的行程S被設計成等于L*2/3。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述磁阻傳感器的數量為3個，所述磁性標尺的長度H被設計成等于L*1/4，所述磁性標尺的行程S被設計成等于L*3/4。

根據本發明的另一個實例性的實施例，

所述磁阻傳感器的數量為4個，所述磁性標尺的長度H被設計成等于L*1/5，所述磁性標尺的行程S被設計成等于L*4/5。

根據本發明的另一個實例性的實施例，所述安裝空間在所述磁性標尺的長度方向上的尺寸L被所述N個磁阻傳感器等分成N+1等份。

根據本發明的另一個實例性的實施例，每個磁阻傳感器具有一個第一輸出端和一個第二輸出端，并且相鄰兩個磁阻傳感器中的一個的第一輸出端與另一個的第二輸出端電連接。