[發明專利]一種用于熒光強度基底計算的方法

在審

• 申請號: 202011275934.8
• 申請日: 2020-11-16
• 公開（公告）號: CN112461805A
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發明（設計）人: 張勝軍;湯四媛;羅繼全;李昆鵬
• 申請（專利權）人: 三諾生物傳感股份有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N33/53;G01N33/58
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 肖平安

1.一種用于熒光強度基底計算的方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)采用熒光免疫分析儀以設定的測試頻率f、測試時間t對試劑卡進行測試，按序輸出熒光強度數據，從而在以輸出數據序號X為橫坐標、熒光強度值Y為縱坐標的坐標系上得到(f×t)個熒光強度點，得到對應的熒光強度散點圖；

(2)確定所述熒光強度散點圖中T峰、C峰的峰值位置點(X_C，Y_C)；

(3)確定所述T峰、C峰的起始位置點(X_S，Y_S)、終止位置點(X_E，Y_E)；

(4)分別確定T峰、C峰的基底；所述T峰、C峰對應的基底的確定均包括以下步驟：將步驟(2)所得峰起始位置點(X_S，Y_S)和峰終止位置點(X_E，Y_E)連線，得到該線對應的線性函數f(X)，將所述線性函數f(X)作為基底B的計算函數；所述基底B為每個輸出數據序號X對應于所述線性函數f(X)的函數值，即B＝f(X)，從而使得所述熒光散點圖中波峰范圍內每個熒光強度點均有對應的基底。

2.根據權利要求要求1所述用于熒光強度基底計算的方法，其特征在于，步驟(4)還包括分別將T峰、C峰的峰值位置點的橫坐標X_C代入線性函數f(X)，得到T峰、C峰對應的基底B_C＝f(X_C)，以B_C＝f(X_C)作為波峰范圍內的每個熒光強度點的基底。

3.根據權利要求要求1所述用于熒光強度基底計算的方法，其特征在于，步驟(2)中所述T峰、C峰的峰值位置點(X_C，Y_C)采用最大值或平均幅值法進行確定。

4.根據權利要求要求1所述用于熒光強度基底計算的方法，其特征在于，步驟(3)中所述T峰、C峰對應的峰起始位置點、終止位置點的確定均包括以下步驟：將峰值位置點的橫坐標X_C分別減去、加上峰寬W的一半，計算出峰起始位置點的橫坐標X_S和峰終止位置點的橫坐標X_E，再根據X_S、X_E在所述熒光強度散點圖中找到其對應的縱坐標，從而確定到峰起始位置點(X_S，Y_S)和峰終止位置點(X_E，Y_E)。

5.根據權利要求要求1所述用于熒光強度基底計算的方法，其特征在于，步驟(2)中所述T峰、C峰的峰值位置點(X_C，Y_C)的確定，均包括以下步驟：計算峰預設檢索范圍內熒光強度點的斜率值K_i，將斜率值以其對應的輸出數據序號X從小到大作為排列順序進行排序得到對應的斜率數組；所述斜率值K_i按以下公式計算：

其中，x為輸出數據序號；y為輸出數據序號對應的熒光強度值；m為預設的已知整數，m≥1；i為輸出數據序號；遍歷所得的斜率數組找出斜率值的最大值和最小值，根據斜率值的最大值、最小值找到其對應的輸出數據序號記為X_max、X_min，通過在X_max與X_min之間找到斜率值絕對值最小的值所對應的輸出數據序號，該輸出數據序號對應的熒光強度點即為峰值位置點(X_C，Y_C)。

6.根據權利要求要求5所述用于熒光強度基底計算的方法，其特征在于，所述m為1或2。