[發明專利]操作校驗方法和裝置、存儲介質及電子設備

有效

• 申請號: 202011270498.5
• 申請日: 2020-11-13
• 公開（公告）號: CN113391741B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 楊裕豐;黃永德
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F3/04845
• 分類號: G06F3/04845
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 周婷婷

本發明公開了一種操作校驗方法和裝置、存儲介質及電子設備。其中，該方法包括：獲取多張操作截圖；確定出多張操作截圖的公共像素點參數集和差異像素點參數集；通過公共像素點參數集與差異像素點參數集，對待校驗的目標操作截圖進行校驗，其中，目標操作截圖為對目標操作區域執行目標操作后得到的結果界面的截圖；在目標操作截圖達到校驗條件的情況下，確定目標操作為正常操作。本發明解決了操作校驗準確度低的技術問題。

技術領域

本發明涉及計算機領域，具體而言，涉及一種操作校驗方法和裝置、存儲介質及電子設備。

背景技術

現有技術中，在校驗目標操作是否正常的過程中，可以通過比對執行待校驗的目標操作后得到的結果的截圖與執行正常的目標操作得到的結果的截圖的相似度，來確定待校驗的目標操作是否正常。

然而，僅僅通過比對圖片的相似度來校驗目標操作是否正常并不能夠得到準確的校驗結果，造成操作校驗的準確度低。

針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種操作校驗方法和裝置、存儲介質及電子設備，以至少解決操作校驗準確度低的技術問題。

根據本發明實施例的一個方面，提供了一種操作校驗方法，包括：獲取多張操作截圖，其中，上述多張操作截圖中的每一張操作截圖為對操作界面中的目標操作區域執行操作后得到的結果界面的截圖；確定出上述多張操作截圖的公共像素點參數集和差異像素點參數集，其中，上述公共像素點參數集中包括在上述多張操作截圖中相同位置上像素值相同的像素點，上述差異像素點參數集中包括上述多張操作截圖中每兩張操作截圖之間相同位置上像素值不同的像素點的數量；通過上述公共像素點參數集與上述差異像素點參數集，對待校驗的目標操作截圖進行校驗，其中，上述目標操作截圖為對上述目標操作區域執行目標操作后得到的結果界面的截圖；在上述目標操作截圖達到校驗條件的情況下，確定上述目標操作為正常操作。

根據本發明實施例的另一方面，還提供了一種操作校驗裝置，包括：獲取單元，用于獲取多張操作截圖，其中，上述多張操作截圖中的每一張操作截圖為對操作界面中的目標操作區域執行操作后得到的結果界面的截圖；第一確定單元，用于確定出上述多張操作截圖的公共像素點參數集和差異像素點參數集，其中，上述公共像素點參數集中包括在上述多張操作截圖中相同位置上像素值相同的像素點，上述差異像素點參數集中包括上述多張操作截圖中每兩張操作截圖之間相同位置上像素值不同的像素點的數量；校驗單元，用于通過上述公共像素點參數集與上述差異像素點參數集，對待校驗的目標操作截圖進行校驗，其中，上述目標操作截圖為對上述目標操作區域執行目標操作后得到的結果界面的截圖；第二確定單元，用于在上述目標操作截圖達到校驗條件的情況下，確定上述目標操作為正常操作。

作為一種可選的示例，上述第一確定單元包括：第三獲取模塊，用于獲取上述多張操作截圖的每一張上述操作截圖的像素矩陣，其中，上述像素矩陣中包括上述操作截圖的每一個像素點的像素值與每一個像素點的位置；第二確定模塊，用于在多個上述像素矩陣中，第二位置的像素點的像素值相同的情況下，將上述第二位置的像素點確定為上述公共像素點參數集中的一個像素點，其中，上述第二位置為上述像素矩陣中的任意一個位置。

作為一種可選的示例，上述第一確定單元包括：處理模塊，用于將多張上述操作截圖中，任意一張上述操作截圖作為第一操作截圖，將多張上述操作截圖中，除上述第一操作截圖外的每一張操作截圖依次作為第二操作截圖，對上述第一操作截圖與上述第二操作截圖執行以下操作：在上述第一操作截圖與上述第二操作截圖中相同位置的像素點的像素值不同的情況下，將統計參數加1，其中，上述統計參數的初始值為零，上述統計參數用于表示上述第一操作截圖與上述第二操作截圖中相同位置的像素點的像素值不同的像素點的數量，在遍歷上述第一操作截圖與上述第二操作截圖的每一個像素點之后，將上述統計參數作為上述差異像素點參數集中的一個參數。