[發明專利]操作校驗方法和裝置、存儲介質及電子設備有效
| 申請號: | 202011270498.5 | 申請日: | 2020-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN113391741B | 公開(公告)日: | 2023-08-29 |
| 發明(設計)人: | 楊裕豐;黃永德 | 申請(專利權)人: | 騰訊科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/04845 | 分類號: | G06F3/04845 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 周婷婷 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 操作 校驗 方法 裝置 存儲 介質 電子設備 | ||
1.一種操作校驗方法,其特征在于,包括:
獲取多張操作截圖,其中,所述多張操作截圖中的每一張操作截圖為對操作界面中的目標操作區域執行操作后得到的結果界面的截圖;
確定出所述多張操作截圖的公共像素點參數集和差異像素點參數集,其中,所述公共像素點參數集中包括在所述多張操作截圖中相同位置上像素值相同的像素點,所述差異像素點參數集中包括所述多張操作截圖中每兩張操作截圖之間相同位置上像素值不同的像素點的數量;
通過所述公共像素點參數集與所述差異像素點參數集,對待校驗的目標操作截圖進行校驗,包括:獲取所述目標操作截圖的第一像素點集,其中,所述第一像素點集中的像素點在所述目標操作截圖中的位置與所述公共像素點參數集中的像素點在任意一張所述操作截圖中的像素點的位置相同;獲取所述目標操作截圖與任意一張所述操作截圖之間相同位置上像素值不同的像素點的第一數量,得到多個所述第一數量;在所述第一像素點集與所述公共像素點參數集中相同位置的像素點的像素值相同,且多個所述第一數量均屬于所述差異像素點參數集的情況下,確定所述目標操作截圖達到校驗條件,所述目標操作截圖為對所述目標操作區域執行目標操作后得到的結果界面的截圖;
在所述目標操作截圖達到所述校驗條件的情況下,確定所述目標操作為正常操作。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述目標操作截圖的第一像素點集包括:
獲取所述公共像素點參數集中每一個像素點的第一位置;
從所述目標操作截圖中獲取所述第一位置的第一像素點;
將所述第一像素點確定為所述第一像素點集中的像素點。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述目標操作截圖與任意一張所述操作截圖之間相同位置上像素值不同的像素點的第一數量包括:
將任意一張所述操作截圖確定為當前操作截圖,對所述目標操作截圖與所述當前操作截圖執行以下操作:在所述目標操作截圖與所述當前操作截圖任意一個相同位置的像素點的像素值不同的情況下,?將所述目標操作截圖與所述當前操作截圖的所述第一數量增加1,其中,所述目標操作截圖與所述當前操作截圖的所述第一數量的初始值為零。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,確定出所述多張操作截圖的公共像素點參數集包括:
獲取所述多張操作截圖的每一張所述操作截圖的像素矩陣,其中,所述像素矩陣中包括所述操作截圖的每一個像素點的像素值與每一個像素點的位置;
在多個所述像素矩陣中,第二位置的像素點的像素值相同的情況下,將所述第二位置的像素點確定為所述公共像素點參數集中的一個像素點,其中,所述第二位置為所述像素矩陣中的任意一個位置。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,確定出所述多張操作截圖的差異像素點參數集包括:
將多張所述操作截圖中,任意一張所述操作截圖作為第一操作截圖,將多張所述操作截圖中,除所述第一操作截圖外的每一張操作截圖依次作為第二操作截圖,對所述第一操作截圖與所述第二操作截圖執行以下操作:在所述第一操作截圖與所述第二操作截圖中相同位置的像素點的像素值不同的情況下,將統計參數加1,其中,所述統計參數的初始值為零,所述統計參數用于表示所述第一操作截圖與所述第二操作截圖中相同位置的像素點的像素值不同的像素點的數量,在遍歷所述第一操作截圖與所述第二操作截圖的每一個像素點之后,將所述統計參數作為所述差異像素點參數集中的一個參數。
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