[發(fā)明專利]一種AMOLED顯示面板的亮點修復(fù)方法以及AMOLED顯示面板在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011268288.2 | 申請日: | 2020-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN114497412A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 于東亮 | 申請(專利權(quán))人: | 上海和輝光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/52 | 分類號: | H01L51/52;H01L27/32;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 鞏克棟 |
| 地址: | 201506 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 amoled 顯示 面板 亮點 修復(fù) 方法 以及 | ||
本發(fā)明提供一種AMOLED顯示面板的亮點修復(fù)方法以及AMOLED顯示面板,所述修復(fù)方法為:確定亮點位置,采用激光設(shè)備對亮點處對應(yīng)的AMOLED的陰極層進行激光切割,僅使陰極層破壞,使像素點對應(yīng)的陰極區(qū)域隔離開,使亮點變成暗點。本發(fā)明所述修復(fù)方法僅把AMOLED的陰極層破壞,不影響其他層別,避免額外的不良產(chǎn)生。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體顯示領(lǐng)域,涉及一種AMOLED顯示面板的亮點修復(fù)方法以及AMOLED顯示面板。
背景技術(shù)
AMOLED顯示面板由于其具有寬視角、寬色域、響應(yīng)時間短、輕薄、柔性等優(yōu)勢,而備受消費者喜愛。AMOLED的基本結(jié)構(gòu)為有機發(fā)光層夾在陰極和陽極之間,陰陽極之間有點流通過時,有機材就會發(fā)光。陰陽極的電壓變換需要依賴復(fù)雜的TFT驅(qū)動電路;且顯示面板的每一個發(fā)光Pixel都由2~8個TFT獨立控制,顯示面板上往往具有千萬到億數(shù)量級的陰陽極和TFT。
在TFT和陰陽極制備時,可能會因顆粒或缺陷等因素?fù)p壞,造成面板出現(xiàn)亮點等不良。顯示面板上亮點是非常容易察覺,而且直接影響屏幕觀感的;但是少量(幾顆)暗點,由于其不發(fā)光且尺寸較小,不容易被人眼所察覺;因此,帶少量暗點的面板基本不影響屏幕觀感,而可以被消費者所接受。
因此,在AMOLED面板制造時,往往會把屏幕上的亮點不良修復(fù)為暗點,來提高面板出貨良率。
因此,在本領(lǐng)域,期望開發(fā)一種更為高效,且可以避免產(chǎn)生額外不良的亮點修復(fù)方法。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供一種AMOLED顯示面板的亮點修復(fù)方法以及AMOLED顯示面板。本發(fā)明所述修復(fù)方法僅把AMOLED的陰極層破壞,不影響其他層別,避免額外的不良產(chǎn)生(如線不良、畫異等)。
為達到此發(fā)明目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一方面,本發(fā)明提供一種AMOLED顯示面板的亮點修復(fù)方法,所述修復(fù)方法為:確定亮點位置,采用激光設(shè)備對亮點處對應(yīng)的AMOLED的陰極層進行激光切割,僅使陰極層破壞,使像素點對應(yīng)的陰極區(qū)域隔離開,使亮點變成暗點。
在本發(fā)明中,由于僅把亮點處對應(yīng)的AMOLED的陰極層破壞,使像素點對應(yīng)的陰極區(qū)域隔離開,像素點不能接收陰極電壓從而成為暗點;因此本發(fā)明方法可以避開陽極和下層電路,不影響其他層別,避免額外的不良產(chǎn)生(如線不良、畫異等)。
優(yōu)選地,確定亮點位置的方法為:使用激光設(shè)備附帶的光學(xué)顯微鏡找到亮點位置。
優(yōu)選地,進行激光切割時,陰極切割的區(qū)域大于陽極的面積,切割邊界距離陽極邊界0.5~5μm,例如0.5μm、0.8μm、1μm、2μm、3μm、4μm或5μm。
優(yōu)選地,所述激光設(shè)備為固態(tài)激光器,優(yōu)選Nd:YAG固態(tài)激光器。
優(yōu)選地,所述激光切割時的激光波長為紫外光波段。
優(yōu)選地,所述激光切割時激光能量為0.01~0.5mJ,例如0.01mJ、0.03mJ、0.05mJ、0.08mJ、0.1mJ、0.2mJ、0.3mJ、0.4mJ或0.5mJ。
優(yōu)選地,所述激光切割時狹縫寬度為0.5~5μm,例如0.5μm、0.8μm、1μm、2μm、3μm、4μm或5μm。
優(yōu)選地,通過激光設(shè)備附帶的光學(xué)顯微鏡檢查修復(fù)后的亮點是否變?yōu)榘迭c。
另一方面,本發(fā)明提供一種AMOLED顯示面板,所述AMOLED顯示面板為采用如上所述的亮點修復(fù)方法修復(fù)獲得。
由本發(fā)明的所述的亮點修復(fù)方法修復(fù)獲得的AMOLED顯示面板,不存在亮點,也可避免其他不良產(chǎn)生,提升了面板品質(zhì)。
相對于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明具有以下有益效果:
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