[發明專利]一種AMOLED顯示面板的亮點修復方法以及AMOLED顯示面板在審
| 申請號： | 202011268288.2 | 申請日： | 2020-11-13 |
| 公開（公告）號： | CN114497412A | 公開（公告）日： | 2022-05-13 |
| 發明（設計）人： | 于東亮 | 申請（專利權）人： | 上海和輝光電股份有限公司 |
| 主分類號： | H01L51/52 | 分類號： | H01L51/52;H01L27/32;H01L21/768 |
| 代理公司： | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人： | 鞏克棟 |
| 地址： | 201506 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 amoled 顯示 面板 亮點 修復 方法 以及 | ||
1.一種AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，所述修復方法為：確定亮點位置，采用激光設備對亮點處對應的AMOLED的陰極層進行激光切割，僅使陰極層破壞，使像素點對應的陰極區域隔離開，使亮點變成暗點。
2.根據權利要求1所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，所述確定亮點位置的方法為：使用激光設備附帶的光學顯微鏡找到亮點位置。
3.根據權利要求1或2所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，進行激光切割時，陰極切割的區域大于陽極的面積，切割邊界距離陽極邊界0.5～5μm。
4.根據權利要求1-3中任一項所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，所述激光設備為固態激光器。
5.根據權利要求1-4中任一項所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，所述激光切割時的激光波長為紫外光波段。
6.根據權利要求1-5中任一項所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，所述激光切割時激光能量為0.01～0.5mJ。
7.根據權利要求1-6中任一項所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，所述激光切割時狹縫寬度為0.5～5μm。
8.根據權利要求1-7中任一項所述的AMOLED顯示面板的亮點修復方法，其特征在于，通過激光設備附帶的光學顯微鏡檢查修復后的亮點是否變為暗點。
9.一種AMOLED顯示面板，所述AMOLED顯示面板為采用如權利要求1-8中任一項所述的亮點修復方法修復獲得。
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H01L 半導體器件；其他類目中不包括的電固體器件
H01L51-00 使用有機材料作有源部分或使用有機材料與其他材料的組合作有源部分的固態器件；專門適用于制造或處理這些器件或其部件的工藝方法或設備
H01L51-05 .專門適用于整流、放大、振蕩或切換且并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的；具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的電容器或電阻器
H01L51-42 .專門適用于感應紅外線輻射、光、較短波長的電磁輻射或微粒輻射；專門適用于將這些輻射能轉換為電能，或者適用于通過這樣的輻射進行電能的控制
H01L51-50 .專門適用于光發射的，如有機發光二極管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料選擇
