[發(fā)明專利]芯片、編程調(diào)試器、系統(tǒng)及鎖定編程調(diào)試入口的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011263296.8
• 申請(qǐng)日: 2020-11-12
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112380119A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉桂蓉;陳光勝;羅文怡;趙啟山
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 陸磊

本發(fā)明實(shí)施例提供一種芯片、編程調(diào)試器、系統(tǒng)及鎖定編程調(diào)試入口的方法。該方法包括：S101，從芯片的I/O端口接收入口檢測(cè)序列；S102，判斷與入口檢測(cè)序列相關(guān)的數(shù)值是否等于第一預(yù)設(shè)值，若是，則鎖定該I/O端口為編程調(diào)試入口，若否，則確定該I/O端口鎖定失敗。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)施例可以提供多組或多個(gè)I/O端口作為編程調(diào)試入口的備選端口，增強(qiáng)了編程調(diào)試入口選擇的靈活性；并且，可以從多組I/O端口中鎖定一組I/O端口，或從多個(gè)I/O端口中鎖定一個(gè)I/O端口，從而避免了編程調(diào)試過(guò)程中的端口沖突問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種鎖定編程調(diào)試入口的方法及芯片、編程調(diào)試器和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

目前，嵌入式系統(tǒng)做得越來(lái)越小，對(duì)芯片的端口數(shù)量要求也越來(lái)越高，即同等條件下，需要使用最少數(shù)量的輸入/輸出(IN/OUT，I/O)端口以滿足最多的應(yīng)用需求。

在一些應(yīng)用情形下，可編輯邏輯器件、內(nèi)嵌存儲(chǔ)器芯片需要完成編程調(diào)試。然而，芯片在首次或二次開(kāi)發(fā)編程調(diào)試的過(guò)程中，編程調(diào)試端口常常與程序正常運(yùn)行所使用的通用端口發(fā)生沖突。為解決該類問(wèn)題，本發(fā)明提出多組或多個(gè)編程調(diào)試端口復(fù)用的方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例的目的在于，提供一種鎖定編程調(diào)試入口的方法及芯片、編程調(diào)試器和系統(tǒng)。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種芯片鎖定編程調(diào)試入口的方法，包括：S101，從芯片的I/O端口接收入口檢測(cè)序列；S102，判斷與入口檢測(cè)序列相關(guān)的數(shù)值是否等于第一預(yù)設(shè)值，若是，則鎖定該I/O端口為編程調(diào)試入口，若否，則確定該I/O端口鎖定失敗并將其標(biāo)識(shí)為通用端口。

可選地，包括：產(chǎn)生標(biāo)志位以標(biāo)識(shí)所鎖定的I/O端口，并標(biāo)識(shí)其它端口為通用端口。

可選地，包括：基于入口檢測(cè)序列而輸出信息，該信息包括表示鎖定成功的反饋信息和表示鎖定失敗的不確定信息。

可選地，包括：當(dāng)該I/O端口鎖定失敗時(shí)返回執(zhí)行步驟S101。

可選地，包括：當(dāng)連續(xù)N次I/O端口鎖定失敗和/或鎖定超時(shí)時(shí)確定I/O端口鎖定失效，其中，N≥1，鎖定超時(shí)表示在預(yù)定時(shí)長(zhǎng)內(nèi)未完成I/O端口鎖定。

可選地，包括：當(dāng)I/O端口鎖定失效時(shí)基于復(fù)位延時(shí)時(shí)間進(jìn)行復(fù)位并返回執(zhí)行步驟S101；其中，復(fù)位包括：直接復(fù)位芯片或芯片的所有I/O端口，或獲取復(fù)位指令并復(fù)位芯片或芯片的所有I/O端口。

可選地，包括：基于復(fù)位延時(shí)配置信息獲取復(fù)位延時(shí)時(shí)間，其中，復(fù)位延時(shí)配置信息包括于入口檢測(cè)序列或復(fù)位指令內(nèi)。

可選地，復(fù)位延時(shí)時(shí)間大于或等于100ms。

本發(fā)明還提供一種編程調(diào)試器鎖定編程調(diào)試入口的方法，包括：S601，向芯片的I/O端口發(fā)送入口檢測(cè)序列；S602，接收來(lái)自芯片基于入口檢測(cè)序列而發(fā)送的信息；S603，判斷該信息是否等于第二預(yù)設(shè)值，若是，則確定該I/O端口被鎖定為編程調(diào)試入口，若否，則確定該I/O端口鎖定失敗。

可選地，在S601之前包括：向芯片發(fā)送復(fù)位指令，復(fù)位指令包括芯片復(fù)位延時(shí)時(shí)間。

可選地，包括：在接收不到該信息時(shí)，確定該I/O端口鎖定失敗。

可選地，包括：當(dāng)確定該I/O端口鎖定失敗時(shí)返回執(zhí)行步驟S601。

可選地，包括：當(dāng)連續(xù)N次I/O端口鎖定失敗時(shí)確定I/O端口鎖定失效，其中，N≥1；在I/O端口鎖定失效時(shí)輸出復(fù)位指令。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種鎖定編程調(diào)試入口的方法，包括：S701，編程調(diào)試器向芯片的I/O端口發(fā)送入口檢測(cè)序列；S702，芯片從I/O端口接收入口檢測(cè)序列，并判斷與入口檢測(cè)序列相關(guān)的數(shù)值是否等于第一預(yù)設(shè)值，若是，則鎖定該I/O端口為編程調(diào)試入口，若否，則確定該I/O端口鎖定失敗。