[發(fā)明專利]芯片、編程調(diào)試器、系統(tǒng)及鎖定編程調(diào)試入口的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011263296.8
• 申請日: 2020-11-12
• 公開（公告）號: CN112380119A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉桂蓉;陳光勝;羅文怡;趙啟山
• 申請（專利權(quán)）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 陸磊

1.一種芯片鎖定編程調(diào)試入口的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：

S101，從所述芯片的I/O端口接收入口檢測序列；

S102，判斷與所述入口檢測序列相關(guān)的數(shù)值是否等于第一預(yù)設(shè)值，若是，則鎖定所述I/O端口為編程調(diào)試入口，若否，則確定所述I/O端口鎖定失敗并將其標(biāo)識為通用端口；

其中，與所述入口檢測序列相關(guān)的數(shù)值包括所述入口檢測序列中特定配置信息的數(shù)值和無效信息，所述特定配置信息的數(shù)值為所述第一預(yù)設(shè)值，所述無效信息為空的信息或亂碼。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：產(chǎn)生標(biāo)志位以標(biāo)識所鎖定的I/O端口。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：基于所述入口檢測序列而輸出信息，所述信息包括表示鎖定成功的反饋信息和表示鎖定失敗的不確定信息。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：當(dāng)所述I/O端口鎖定失敗時返回執(zhí)行步驟S101。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：當(dāng)連續(xù)N次I/O端口鎖定失敗和/或鎖定超時時確定I/O端口鎖定失效，其中，N≥1，所述鎖定超時表示在預(yù)定時長內(nèi)未完成I/O端口鎖定。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：當(dāng)I/O端口鎖定失效時基于復(fù)位延時時間進(jìn)行復(fù)位并返回執(zhí)行步驟S101；

其中，所述復(fù)位包括：直接復(fù)位所述芯片或所述芯片的所有I/O端口，或獲取復(fù)位指令并復(fù)位所述芯片或所述芯片的所有I/O端口。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，包括：基于復(fù)位延時配置信息獲取所述復(fù)位延時時間，其中，所述復(fù)位延時配置信息包括于所述入口檢測序列或所述復(fù)位指令內(nèi)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法(100，200，300，400，500)，其特征在于，所述復(fù)位延時時間大于或等于100ms。

9.一種編程調(diào)試器鎖定編程調(diào)試入口的方法(600)，其特征在于，包括：

S601，向所述芯片的I/O端口發(fā)送入口檢測序列；

S602，接收來自所述芯片基于所述入口檢測序列而發(fā)送的信息，所述信息包括表示鎖定成功的反饋信息和表示鎖定失敗的不確定信息；

S603，判斷所述信息是否等于第二預(yù)設(shè)值，若是，則確定所述I/O端口被鎖定為編程調(diào)試入口，若否，則確定所述I/O端口鎖定失敗。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法(600)，其特征在于，在S601之前包括：向所述芯片發(fā)送復(fù)位指令，所述復(fù)位指令包括芯片復(fù)位延時時間。

11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法(600)，其特征在于，包括：在接收不到所述信息時，確定所述I/O端口鎖定失敗。

12.根據(jù)權(quán)利要求9或11所述的方法(600)，其特征在于，包括：當(dāng)確定所述I/O端口鎖定失敗時返回執(zhí)行步驟S601。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法(600)，其特征在于，包括：

當(dāng)連續(xù)N次I/O端口鎖定失敗時確定I/O端口鎖定失效，其中，N≥1；

在I/O端口鎖定失效時輸出復(fù)位指令。