[發明專利]缺陷標注方法和裝置在審
| 申請號： | 202011261128.5 | 申請日： | 2020-11-12 |
| 公開（公告）號： | CN112381851A | 公開（公告）日： | 2021-02-19 |
| 發明（設計）人： | 孫猛猛;紀旭宇;郭寧;韓錦;潘正頤;侯大為 | 申請（專利權）人： | 常州微億智造科技有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/187 | 分類號： | G06T7/187;G06T7/73;G06K9/62 |
| 代理公司： | 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231 | 代理人： | 張勵 |
| 地址： | 213016 江蘇省常州市鐘*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 缺陷 標注 方法 裝置 | ||
1.一種缺陷標注方法，其特征在于，包括以下步驟：
獲取產品圖像，并獲取所述產品圖像中的缺陷類型和缺陷坐標；
根據所述缺陷類型和所述缺陷坐標獲取缺陷區域；
當所述缺陷坐標不完全處于所述缺陷區域內時，更改所述缺陷區域，以使所述缺陷完全處于缺陷區域內。
2.根據權利要求1所述的缺陷標注方法，其特征在于，根據所述缺陷類型和所述缺陷坐標獲取缺陷區域，包括：
根據所述缺陷類型確定標注方式；
根據標注方式和所述缺陷坐標獲取標注元素；
將所述標注元素相連，以獲取所述缺陷區域。
3.根據權利要求2所述的缺陷標注方法，其特征在于，當所述缺陷坐標不完全處于所述缺陷區域內時，更改所述缺陷區域，以使所述缺陷完全處于缺陷區域內，包括：
獲取未處于所述缺陷區域內的缺陷坐標；
將該缺陷坐標對應的缺陷區域的標注元素進行移動，并帶動與標注元素相連的線段移動，擴大缺陷區域。
4.根據權利要求2所述的缺陷標注方法，其特征在于，所述標注方式包括：閉合區域標注和折線標注，其中，閉合區域標注包括：矩形、圓形和多邊形中的一種或多種。
5.根據權利要求1所述的缺陷標注方法，其特征在于，還包括：
當所述缺陷坐標完全處于所述缺陷區域內時，將所述缺陷區域作為缺陷標注，并進行存儲。
6.根據權利要求1所述的缺陷標注方法，其特征在于，還包括：
當未處于所述缺陷區域內的缺陷坐標的個數大于預設數量閾值時，刪除該缺陷區域，并重新獲取缺陷區域。
7.一種缺陷標注裝置，其特征在于，包括：
第一獲取模塊，用于獲取產品圖像，并獲取所述產品圖像中的缺陷類型和缺陷坐標；
第二獲取模塊，用于根據所述缺陷類型和所述缺陷坐標獲取缺陷區域；
更改模塊，用于在所述缺陷坐標不完全處于所述缺陷區域內時，更改所述缺陷區域，以使所述缺陷完全處于缺陷區域內。
8.根據權利要求7所述的缺陷標注裝置，其特征在于，所述第二獲取模塊根據所述缺陷類型和所述缺陷坐標獲取缺陷區域，具體用于，
根據所述缺陷類型確定標注方式；
根據標注方式和所述缺陷坐標獲取標注元素；
將所述標注元素相連，以獲取所述缺陷區域。
9.根據權利要求8所述的缺陷標注裝置，其特征在于，所述更改模塊具體用于，
獲取未處于所述缺陷區域內的缺陷坐標；
將該缺陷坐標對應的缺陷區域的標注元素進行移動，并帶動與標注元素相連的線段移動，擴大缺陷區域。
10.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時，實現根據權利要求1-6中任一項所述的缺陷標注方法。
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