[發明專利]高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置和方法有效
| 申請號: | 202011254226.6 | 申請日: | 2020-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN112461372B | 公開(公告)日: | 2023-08-22 |
| 發明(設計)人: | 張春仙;李忠升;萬英 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十一研究所 |
| 主分類號: | G01J5/90 | 分類號: | G01J5/90;G01J5/48 |
| 代理公司: | 工業和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 羅丹 |
| 地址: | 100015*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 低溫 中波 熱像儀 netd 測試 評估 裝置 方法 | ||
本發明公開了一種高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置和方法。高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置,包括:NETD室溫測試模塊,用于獲取被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲;高低溫SiTF預測評估模塊,與NETD室溫測試模塊通信連接,高低溫SiTF預測評估模塊用于通過修正溫度應力對中波熱像儀性能的影響,基于室溫SiTF,預測高低溫SiTF;高低溫噪聲測試模塊,用于為被測熱像儀提供不同的環境溫度,并與NETD室溫測試模塊配合作用獲取被測熱像儀的高低溫噪聲。采用本發明,通過高低溫SiTF預測評估模塊可對室溫SiTF進行高低溫修正,通過高低溫噪聲測試模塊可對被測熱像儀實現高低溫條件下的噪聲測試,該方法成本低,適用于工程化研制中對熱像儀NETD高低溫環境下的測試與評估。
技術領域
本發明涉及熱像儀領域,尤其涉及一種高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置和方法。
背景技術
熱像儀靠目標自身輻射的紅外光譜輻射能量進行成像,與可見光CCD相比,具有可穿透煙塵、霧霾的優勢,可晝夜使用;與接觸式測溫方式相比,具有非接觸式測量高溫的優勢。因此,在民用領域廣泛使用。NETD是反映紅外熱像儀靈敏度的重要指標,可用于評價紅外熱像儀作用距離、測溫儀測溫精度等性能,是重要的熱像儀測試參數。傳統的NETD測試設備,主要在室溫環境下使用,測試具有一定的局限性。
發明內容
本發明實施例提供一種高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置和方法,用以解決現有技術中NETD測試設備測試的局限性問題。
根據本發明實施例的高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置,包括:
NETD室溫測試模塊,用于獲取被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲;
高低溫SiTF預測評估模塊,與所述NETD室溫測試模塊通信連接,所述高低溫SiTF預測評估模塊用于通過修正溫度應力對中波熱像儀性能的影響,基于所述室溫SiTF,預測高低溫SiTF;
高低溫噪聲測試模塊,用于為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度,并與所述NETD室溫測試模塊配合作用獲取所述被測熱像儀的高低溫噪聲。
根據本發明的一些實施例,所述NETD室溫測試模塊包括單黑體紅外目標源、靶標、離軸平行光管、和顯控及采集運算裝置,其中,所述單黑體紅外目標源、所述靶標、以及所述離軸平行光管用于實現無窮遠紅外目標源的模擬,所述顯控及采集運算裝置用于實現對所述單黑體紅外目標源和所述靶標的控制以及數據讀取、并用于獲取所述被測熱像儀的圖像,以獲取所述被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲。
根據本發明的一些實施例,所述高低溫SiTF預測評估模塊包括:
背景輻射修正模塊,用于修正由于背景溫度變化而引起的輻射能量差變化對SiTF的影響;
積分時間修正模塊,用于修正由于積分時間的變化而引起的SiTF變化;
大小增益修正模塊,用于修正由于選用大小不同的增益而引起的SiTF變化。
根據本發明的一些實施例,所述高低溫噪聲測試模塊包括:
小型高低溫試驗箱,用于放置所述被測熱像儀并為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度;
噪聲測試裝置,位于所述小型高低溫試驗箱中且置于所述被測熱像儀的鏡頭前。
根據本發明的一些實施例,所述噪聲測試裝置包括均勻擋板。
根據本發明實施例的高低溫中波熱像儀NETD測試評估方法,包括:
利用NETD室溫測試模塊獲取被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲;
利用高低溫SiTF預測評估模塊修正溫度應力對中波熱像儀性能的影響,基于所述室溫SiTF,預測高低溫SiTF;
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