[發明專利]高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置和方法

有效

• 申請號: 202011254226.6
• 申請日: 2020-11-11
• 公開（公告）號: CN112461372B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: 張春仙;李忠升;萬英
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十一研究所
• 主分類號: G01J5/90
• 分類號: G01J5/90;G01J5/48
• 代理公司: 工業和信息化部電子專利中心 11010
• 代理人: 羅丹

1.一種高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置，其特征在于，包括：

NETD室溫測試模塊，用于獲取被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲；

高低溫SiTF預測評估模塊，與所述NETD室溫測試模塊通信連接，所述高低溫SiTF預測評估模塊用于通過修正溫度應力對中波熱像儀性能的影響，基于所述室溫SiTF，預測高低溫SiTF；

高低溫噪聲測試模塊，用于為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度，并與所述NETD室溫測試模塊配合作用獲取所述被測熱像儀的高低溫噪聲；

所述高低溫SiTF預測評估模塊包括：

背景輻射修正模塊，用于修正由于背景溫度變化而引起的輻射能量差變化對SiTF的影響；

積分時間修正模塊，用于修正由于積分時間的變化而引起的SiTF變化；

大小增益修正模塊，用于修正由于選用大小不同的增益而引起的SiTF變化；

所述高低溫噪聲測試模塊包括：

小型高低溫試驗箱，用于放置所述被測熱像儀并為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度；

噪聲測試裝置，位于所述小型高低溫試驗箱中且置于所述被測熱像儀的鏡頭前。

2.如權利要求1所述的高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置，其特征在于，所述NETD室溫測試模塊包括單黑體紅外目標源、靶標、離軸平行光管、和顯控及采集運算裝置，其中，所述單黑體紅外目標源、所述靶標、以及所述離軸平行光管用于實現無窮遠紅外目標源的模擬，所述顯控及采集運算裝置用于實現對所述單黑體紅外目標源和所述靶標的控制以及數據讀取、并用于獲取所述被測熱像儀的圖像，以獲取所述被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲。

3.如權利要求1所述的高低溫中波熱像儀NETD測試評估裝置，其特征在于，所述噪聲測試裝置包括均勻擋板。

4.一種高低溫中波熱像儀NETD測試評估方法，其特征在于，包括：

利用NETD室溫測試模塊獲取被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲；

利用高低溫SiTF預測評估模塊修正溫度應力對中波熱像儀性能的影響，基于所述室溫SiTF，預測高低溫SiTF；

通過高低溫噪聲測試模塊為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度，并利用所述NETD室溫測試模塊獲取所述被測熱像儀的高低溫噪聲；

基于所述高低溫SiTF和所述高低溫噪聲，獲取高低溫NETD；

所述高低溫SiTF預測評估模塊包括：背景輻射修正模塊、積分時間修正模塊、大小增益修正模塊；

所述利用高低溫SiTF預測評估模塊修正溫度應力對中波熱像儀性能的影響，基于所述室溫SiTF，預測高低溫SiTF，包括：

基于所述室溫SiTF，利用所述背景輻射修正模塊修正由于背景溫度變化而引起的輻射能量差變化對SiTF的影響、利用所述積分時間修正模塊修正由于積分時間的變化而引起的SiTF變化、利用所述大小增益修正模塊修正由于選用大小不同的增益而引起的SiTF變化，以預測所述高低溫SiTF；

所述高低溫噪聲測試模塊包括：小型高低溫試驗箱和噪聲測試裝置；

所述通過高低溫噪聲測試模塊為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度，并利用所述NETD室溫測試模塊獲取所述被測熱像儀的高低溫噪聲，包括：

將所述被測熱像儀和所述噪聲測試裝置放置在所述小型高低溫試驗箱中，并將所述噪聲測試裝置放置在所述被測熱像儀的鏡頭前；

通過所述小型高低溫試驗箱為所述被測熱像儀提供不同的環境溫度，并利用所述NETD室溫測試模塊獲取所述被測熱像儀的高低溫噪聲。

5.如權利要求4所述的高低溫中波熱像儀NETD測試評估方法，其特征在于，所述NETD室溫測試模塊包括單黑體紅外目標源、靶標、離軸平行光管、和顯控及采集運算裝置；

所述利用NETD室溫測試模塊獲取被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲，包括：

將所述被測熱像儀放置在所述離軸平行光管前；

通過所述單黑體紅外目標源、所述靶標、以及所述離軸平行光管模擬無窮遠紅外目標源；

通過所述顯控及采集運算裝置控制所述單黑體紅外目標源和所述靶標，并讀取所述單黑體紅外目標源和所述靶標的數據、獲取所述被測熱像儀的圖像，以獲取所述被測熱像儀的室溫SiTF和室溫噪聲。