[發(fā)明專利]一種內(nèi)存條健康狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

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• 申請日: 2020-11-11
• 公開（公告）號: CN112463523A
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃錦盛
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30;G06F11/34
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 侯珊

本發(fā)明公開了一種內(nèi)存條健康狀態(tài)的監(jiān)控方法，包括：獲取與每個內(nèi)存條對應的各項參數(shù)的參數(shù)值，各項參數(shù)包括：歷史錯誤數(shù)量、當前CPU利用率、當前內(nèi)存顆粒容量、當前溫度值、當前錯誤數(shù)量；對每個內(nèi)存條的各項參數(shù)的參數(shù)值進行統(tǒng)一化及加權(quán)處理，得到內(nèi)存條的參數(shù)加權(quán)值，并生成內(nèi)存條健康狀態(tài)的監(jiān)控結(jié)果。可見，本申請對內(nèi)存條進行健康狀態(tài)監(jiān)控時，是通過對各項參數(shù)的參數(shù)值進行監(jiān)控，并進行統(tǒng)一化及加權(quán)處理后得到針對每個內(nèi)存條的監(jiān)控狀態(tài)監(jiān)視結(jié)果，通過該方式，可以結(jié)合各項參數(shù)對每個內(nèi)存條的健康狀態(tài)進行準確預測。本發(fā)明還公開了一種內(nèi)存條健康狀態(tài)監(jiān)控裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，同樣能實現(xiàn)上述技術(shù)效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及內(nèi)存條健康狀態(tài)檢測技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種內(nèi)存條健康狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著人工智能與大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展，內(nèi)存是計算機中重要的部件之一，它是外存與CPU(central processing unit，中央處理器)進行溝通的橋梁。計算機中所有程序的運行都是在內(nèi)存中進行的，因此內(nèi)存的性能對計算機的影響非常大。內(nèi)存(Memory)也被稱為內(nèi)存儲器和主存儲器，其作用是用于暫時存放CPU中的運算數(shù)據(jù)，以及與硬盤等外部存儲器交換的數(shù)據(jù)。只要計算機在運行中，操作系統(tǒng)就會把需要運算的數(shù)據(jù)從內(nèi)存調(diào)到CPU中進行運算，當運算完成后CPU再將結(jié)果傳送出來，內(nèi)存的運行也決定了計算機的穩(wěn)定運行。內(nèi)存條是由內(nèi)存芯片、電路板、金手指等部分組成的。內(nèi)存條中出現(xiàn)的錯誤包括：可糾正錯誤CE(CorrectableError)和不可糾正錯誤UCE(Uncorrectable Error)，可糾正錯誤CE一般為可接受的，少量出現(xiàn)不會對系統(tǒng)穩(wěn)定性造成影響，系統(tǒng)可開機，但如果大量出現(xiàn)將會對系統(tǒng)產(chǎn)生不良影響，進而影響性能。UCE如果發(fā)生就會對系統(tǒng)產(chǎn)生宕機。

目前對內(nèi)存條健康狀態(tài)進行檢測時，可通過BIOS(Basic Input Output System，基本輸入輸出系統(tǒng))設(shè)置CE數(shù)量的檢測閾值，若記錄的可糾正錯誤CE的數(shù)量大于該檢測閾值，則報警，代表內(nèi)存條健康狀態(tài)異常；還可以設(shè)置漏斗，若在固定時間內(nèi)漏出的可糾正錯誤CE數(shù)量大于檢測閾值，則代表內(nèi)存條健康狀態(tài)異常；還可以通過人為經(jīng)驗判定內(nèi)存條健康狀態(tài)。上述方式在檢測內(nèi)存條健康狀態(tài)時，均是通過單一的因素進行健康狀態(tài)檢測，檢測結(jié)果不準確，通過設(shè)置閾值或者人為經(jīng)驗進行檢測的方式，也會影響檢測結(jié)果的準確性。并且，目前內(nèi)存條在發(fā)生不可糾正錯誤UCE時，只會在不可糾正錯誤UCE發(fā)生后在BMC日志進行記錄，無法預測不可糾正錯誤UC的發(fā)生。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種內(nèi)存條健康狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，以實現(xiàn)對內(nèi)存條的健康狀態(tài)進行準確監(jiān)控。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的一種內(nèi)存條健康狀態(tài)的監(jiān)控方法，包括：

獲取與每個內(nèi)存條對應的各項參數(shù)的第一參數(shù)值；其中，每個內(nèi)存條對應的各項參數(shù)包括：歷史錯誤數(shù)量、當前CPU利用率、當前內(nèi)存顆粒容量、當前溫度值、當前錯誤數(shù)量；

對每個內(nèi)存條的各項參數(shù)的第一參數(shù)值進行統(tǒng)一化處理，得到與每個內(nèi)存條對應的各項參數(shù)的第二參數(shù)值；

利用各項參數(shù)的權(quán)值，對每個內(nèi)存條的各項參數(shù)的第二參數(shù)值進行加權(quán)處理，得到每個內(nèi)存條的參數(shù)加權(quán)值；

根據(jù)每個內(nèi)存條的參數(shù)加權(quán)值生成內(nèi)存條健康狀態(tài)的監(jiān)控結(jié)果。

其中，所述歷史錯誤數(shù)量為歷史時間段內(nèi)不可糾正錯誤數(shù)量與可糾正錯誤數(shù)量之和，所述當前錯誤數(shù)量為當前時間段內(nèi)不可糾正錯誤數(shù)量與可糾正錯誤數(shù)量之和。

其中，所述對每個內(nèi)存條的各項參數(shù)的第一參數(shù)值進行統(tǒng)一化處理，得到與每個內(nèi)存條對應的各項參數(shù)的第二參數(shù)值，包括：

針對每個內(nèi)存條的各項參數(shù)的第一參數(shù)值，查找各項參數(shù)對應的第一參數(shù)值中的最大第一參數(shù)值和最小第一參數(shù)值，并計算與各項參數(shù)對應的所述最大第一參數(shù)值和所述最小第一參數(shù)值的差值；