[發明專利]一種內存條健康狀態監控方法、裝置、設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202011254207.3 | 申請日: | 2020-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN112463523A | 公開(公告)日: | 2021-03-09 |
| 發明(設計)人: | 黃錦盛 | 申請(專利權)人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/30 | 分類號: | G06F11/30;G06F11/34 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 侯珊 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 內存條 健康 狀態 監控 方法 裝置 設備 存儲 介質 | ||
1.一種內存條健康狀態的監控方法,其特征在于,包括:
獲取與每個內存條對應的各項參數的第一參數值;其中,每個內存條對應的各項參數包括:歷史錯誤數量、當前CPU利用率、當前內存顆粒容量、當前溫度值、當前錯誤數量;
對每個內存條的各項參數的第一參數值進行統一化處理,得到與每個內存條對應的各項參數的第二參數值;
利用各項參數的權值,對每個內存條的各項參數的第二參數值進行加權處理,得到每個內存條的參數加權值;
根據每個內存條的參數加權值生成內存條健康狀態的監控結果。
2.根據權利要求1所述的監控方法,其特征在于,所述歷史錯誤數量為歷史時間段內不可糾正錯誤數量與可糾正錯誤數量之和,所述當前錯誤數量為當前時間段內不可糾正錯誤數量與可糾正錯誤數量之和。
3.根據權利要求1所述的監控方法,其特征在于,所述對每個內存條的各項參數的第一參數值進行統一化處理,得到與每個內存條對應的各項參數的第二參數值,包括:
針對每個內存條的各項參數的第一參數值,查找各項參數對應的第一參數值中的最大第一參數值和最小第一參數值,并計算與各項參數對應的所述最大第一參數值和所述最小第一參數值的差值;
將各項參數的第一參數值與相對應的差值的比值,作為各項參數的第二參數值。
4.根據權利要求1所述的監控方法,其特征在于,所述利用各項參數的權值,對每個內存條的各項參數的第二參數值進行加權處理,得到每個內存條的參數加權值,包括:
設置與每個參數對應的權值;
針對每個內存條的各項參數的第二參數值及與每個參數對應的權值,計算每個內存條對應的參數加權值。
5.根據權利要求1至4中任意一項所述的監控方法,其特征在于,所述根據每個內存條的參數加權值生成內存條健康狀態的監控結果,包括:
從所有內存條中查找參數加權值最小的目標內存條;
判斷所述目標內存條是否滿足更換條件;
若滿足,則生成第一提示信息;所述第一提示信息用于建議用戶更換所述目標內存條。
6.根據權利要求5所述的監控方法,其特征在于,所述判斷所述目標內存條是否滿足更換條件,包括:
判斷所述目標內存條是否滿足工廠生產質量差、運輸方式為航空運輸、顆粒失效率高中任意一者的更換條件。
7.根據權利要求5所述的監控方法,其特征在于,若所述目標內存條未被更換,則所述監控方法還包括:
間隔預定使用時長后,若對各內存條健康狀態進行監控時,所述目標內存條的參數加權值為所有內存條中的最小值,則生成第二提示信息,所述第二提示信息用于提醒用戶直接更換所述目標內存條。
8.一種內存條健康狀態的監控裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于獲取與每個內存條對應的各項參數的第一參數值;
統一化處理模塊,用于對每個內存條的各項參數的第一參數值進行統一化處理,得到與每個內存條對應的各項參數的第二參數值;
加權處理模塊,用于利用各項參數的權值,對每個內存條的各項參數的第二參數值進行加權處理,得到每個內存條的參數加權值;
監控結果生成模塊,用于根據每個內存條的參數加權值生成內存條健康狀態的監控結果。
9.一種電子設備,其特征在于,包括:
存儲器,用于存儲計算機程序;
處理器,用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至7任一項所述的內存條健康狀態的監控方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述的內存條健康狀態的監控方法的步驟。
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