[發明專利]光學級PET離型膜分切工藝質量監控系統

在審

• 申請號: 202011251432.1
• 申請日: 2020-11-10
• 公開（公告）號: CN112518849A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 趙波;夏克彬;王亮亮;范興寶;許顯成
• 申請（專利權）人: 四川羽璽新材料股份有限公司
• 主分類號: B26D5/00
• 分類號: B26D5/00
• 代理公司: 北京中索知識產權代理有限公司 11640
• 代理人: 霍春月

本發明公開了光學級PET離型膜分切工藝質量監控系統，涉及PET離型膜技術領域，包括采集模塊、判斷模塊、處理模塊和預警模塊，其中；所述判斷模塊用于對膜厚判斷并傳輸判斷指令至所述處理模塊，所述處理模塊接收指令并通過所述采集模塊采集膜厚參數并驗證所述判斷模塊判斷指令，驗證完成后通過所述預警模塊進行預警，所述采集模塊包括光源發射單元、信號接收單元和計算單元。本發明通過判斷模塊對膜厚判斷并傳輸判斷指令至處理模塊，處理模塊接收指令并通過采集模塊采集膜厚參數并驗證判斷模塊判斷指令，驗證完成后通過預警模塊進行預警，實現對PET離型膜分切工藝膜厚進行監控，不僅提高了生產效率，而且提高了產品質量，降低了生產成本。

技術領域

本發明涉及PET離型膜技術領域，具體來說，涉及光學級PET離型膜分切工藝質量監控系統。

背景技術

PET離型膜是熱轉印常用到的一種材料，底材是PET，經過涂布硅油而成所以也叫硅油膜。常規厚度從25um至150um。有冷熱撕和光啞面之分，經過防靜電和防劃傷處理，產品具有很好的吸附性和貼合性。

PET離型膜分切工藝中，依經驗來判斷所述膜厚是否異常，此無法有效判斷出膜厚是否異常，存在一定的次品率。

針對相關技術中的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

針對相關技術中的問題，本發明提出光學級PET離型膜分切工藝質量監控系統，通過判斷模塊對膜厚判斷并傳輸判斷指令至處理模塊，處理模塊接收指令并通過采集模塊采集膜厚參數并驗證判斷模塊判斷指令，驗證完成后通過預警模塊進行預警，實現對PET離型膜分切工藝膜厚進行監控，以克服現有相關技術所存在的上述技術問題。

本發明的技術方案是這樣實現的：

光學級PET離型膜分切工藝質量監控系統，包括采集模塊、判斷模塊、處理模塊和預警模塊，其中；

所述判斷模塊用于對膜厚判斷并傳輸判斷指令至所述處理模塊，所述處理模塊接收指令并通過所述采集模塊采集膜厚參數并驗證所述判斷模塊判斷指令，驗證完成后通過所述預警模塊進行預警，其中；

所述采集模塊包括光源發射單元、信號接收單元和計算單元，其中；

所述光源發射單元，用于向預涂滾筒表面發射入射光；

所述信號接收單元，在涂布涂層前用于接收入射光經預涂滾筒表面反射后的第一反射光，在涂布涂層后用于接收入射光經預涂滾筒上的涂層表面反射后的第二反射光；

所述計算單元，獲取反射光信號得到預涂滾筒上的涂層厚度。

進一步的，所述判斷模塊包括：

向涂布機輸入工藝參數K，表現式為K＝V/P，K為工藝參數，V為光學膜的涂布速度，P為噴嘴的吐出壓力，其中；

當M值穩定時，涂布機判定膜厚均勻，當M值不穩定時，涂布機判定膜厚異常。

進一步的，還包括當V曲線與P曲線吻合時，涂布機判定膜厚均勻，以及當V曲線與P曲線不吻合時，涂布機判定膜厚異常。

進一步的，還包括涂布機判定膜厚偏差小于或等于0.05為無風險。

進一步的，還包括涂布機判定膜厚大于0.05為有風險。

進一步的，還包括存儲模塊，用于建立存儲預涂滾筒上的涂層厚度和基板上的涂層厚度的對應關系。

本發明的有益效果：

本發明通過判斷模塊對膜厚判斷并傳輸判斷指令至處理模塊，處理模塊接收指令并通過采集模塊采集膜厚參數并驗證判斷模塊判斷指令，驗證完成后通過預警模塊進行預警，實現對PET離型膜分切工藝膜厚進行監控，不僅提高了生產效率，而且提高了產品質量，降低了生產成本。

附圖說明