[發(fā)明專利]一種非均勻拋物線陣列天線設(shè)計方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011246386.6 | 申請日: | 2020-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN112307588A | 公開(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郭華 | 申請(專利權(quán))人: | 西安工程大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/18 | 分類號: | G06F30/18;G06F30/27;G06N3/00;G06F111/04 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務(wù)所 61214 | 代理人: | 羅笛 |
| 地址: | 710048 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 均勻 拋物線 陣列 天線 設(shè)計 方法 | ||
本發(fā)明公開的一種非均勻拋物線陣列天線設(shè)計方法,包括以下步驟:步驟1、構(gòu)建拋物線陣列天線的數(shù)學(xué)表達式,設(shè)定陣列天線的孔徑尺寸、陣列單元數(shù)目和拋物線相關(guān)參數(shù);步驟2、計算具有最小陣元間距約束要求陣列單元位置;步驟3、計算拋物線陣列天線的輻射方向圖,計算輻射方向圖的最高旁瓣電平,得到適應(yīng)度函數(shù)值;步驟4、利用入侵雜草算法優(yōu)化陣列單元的位置,得到非均勻拋物線陣列天線設(shè)計優(yōu)化結(jié)果。本發(fā)明一種非均勻拋物線陣列天線設(shè)計方法,能夠降低方向圖最高旁瓣電平,大大降低饋電網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計難度,避免相鄰陣列單元的重疊和降低陣列天線的互耦效應(yīng),對相鄰陣列單元的最小間距進行約束,有效限制陣列天線的尺寸和陣列單元的數(shù)目。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于陣列天線布陣方法技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種非均勻拋物線陣列天線設(shè)計方法。
背景技術(shù)
非均勻陣列天線的研究始于上世紀六十年代,在上世紀八十年代成功應(yīng)用在ESAR、HAPDAR等雷達系統(tǒng)中。由于當(dāng)時受到計算機發(fā)展水平的限制,非均勻陣列天線設(shè)計方法主要有廣義非線性最小最大法、擴展投影方法和計算機的數(shù)值優(yōu)化方法等。近年來,隨著計算機技術(shù)的不斷發(fā)展,促使各種算法在計算機上得以實現(xiàn),人們可以對非均勻陣列天線的研究朝著大規(guī)模,嚴格約束條件的方向發(fā)展。
現(xiàn)有的具有復(fù)雜約束的非均勻陣列天線設(shè)計方法主要采用智能優(yōu)化算法,這類算法的尋優(yōu)效果很好,能夠得到令人滿意的結(jié)果,且近年來在陣列單元位置優(yōu)化中經(jīng)常被使用。但將智能優(yōu)化算法應(yīng)用到非均勻陣列天線綜合中,其算法設(shè)計復(fù)雜,需要預(yù)處理和后處理過程,運算時間長,優(yōu)化效果不理想。
復(fù)雜約束條件下的非均勻陣列天線設(shè)計方法只能實現(xiàn)結(jié)構(gòu)相對簡單的陣列天線設(shè)計,如直線、平面、圓形等。隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的發(fā)展,特別是航空航天技術(shù)的發(fā)展,人們對陣列天線結(jié)構(gòu)的要求越來越高,往往需要復(fù)雜結(jié)構(gòu)的陣列天線,如復(fù)雜曲線、曲面結(jié)構(gòu)等,而現(xiàn)有的方法不能夠解決復(fù)雜結(jié)構(gòu)、復(fù)雜約束的非均勻陣列天線設(shè)計。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種非均勻拋物線陣列天線設(shè)計方法,解決了現(xiàn)有方法只能實現(xiàn)結(jié)構(gòu)相對簡單陣列天線設(shè)計的問題。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種非均勻拋物線陣列天線設(shè)計方法,包括以下步驟:
步驟1、構(gòu)建拋物線陣列天線的數(shù)學(xué)表達式,設(shè)定陣列天線的孔徑尺寸、陣列單元數(shù)目和拋物線相關(guān)參數(shù);
步驟2、由步驟1確定的陣列天線數(shù)學(xué)表達式,計算具有最小陣元間距約束要求陣列單元位置;
步驟3、由步驟2計算的陣列單元位置,計算拋物線陣列天線的輻射方向圖,計算輻射方向圖的最高旁瓣電平,得到適應(yīng)度函數(shù)值;
步驟4、根據(jù)步驟3計算的適應(yīng)度函數(shù)值,利用入侵雜草算法優(yōu)化陣列單元的位置,得到非均勻拋物線陣列天線設(shè)計優(yōu)化結(jié)果。
本發(fā)明的特點還在于,
步驟1具體包括以下步驟:設(shè)定陣列孔徑尺寸為2L,總的陣列單元數(shù)目約束為2N+1,將陣列單元布置在式(1)所示拋物線上:
y=f(x)=ax2+b (1)
通過改變公式(1)中的a和b的值獲得不同結(jié)構(gòu)的拋物線陣列天線。
步驟2具體包括以下步驟:
步驟2.1、通過公式(2)計算第n個陣列單元沿著拋物線到中心陣列單元的距離:
式(2)中,de是相鄰陣元之間的最小間距約束;N為陣列單元數(shù)目;dnn=2,3,…,N,為第n個陣列單元沿著拋物線到第一個陣列單元的距離;cnn=1,2,…,N-1,為由優(yōu)化變量確定的變量;
步驟2.2、通過式(3)計算每個陣列單元的位置:
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