[發(fā)明專利]一種板式軌道攤鋪層粗糙度測量裝置及粗糙度測量方法

有效

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• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112342851B
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發(fā)明（設計）人: 陳憲麥;徐磊;彭俊;董春敏;李賽;盤柳;陳楠;王日吉
• 申請（專利權）人: 中南大學
• 主分類號: E01B35/00
• 分類號: E01B35/00
• 代理公司: 長沙朕揚知識產權代理事務所(普通合伙) 43213
• 代理人: 楊斌

本發(fā)明公開了一種板式軌道攤鋪層粗糙度測量裝置以及粗糙度測量方法，裝置包括框架和測量組件，測量組件與框架之間設置有第一移動組件和第二移動組件，測量組件通過第一移動組件在框架內沿X軸移動，測量組件通過第二移動組件在框架內沿Y軸移動；測量組件包括可沿垂直方向移動的探針和可顯示探針移動量的深度表；測量方法通過上述裝置實現(xiàn)。本發(fā)明在使用時可便捷地將自身調節(jié)至與待測表面完全平行的狀態(tài)，還可實現(xiàn)對待測表面所有位置的連續(xù)測量，測量數(shù)據實時顯示在外界的電子設備上，可選擇人工或自動對坐標和粗糙度進行記錄，提高了測量效率，得到的數(shù)據可完整反映待測表面的粗糙度分布，大大降低了測量誤差和人工成本。

技術領域

本發(fā)明涉及軌道交通技術領域，具體涉及一種板式軌道攤鋪層粗糙度測量裝置及板式軌道攤鋪層粗糙度測量方法。

背景技術

軌道交通行業(yè)的迅速發(fā)展，不僅帶動了經濟的快速提升，同時使得人們生活質量得到了大幅度提高。在軌道工程領域，無砟軌道以高平順、高穩(wěn)定和少維修的特點而得到了大規(guī)模的應用，因此無砟軌道性能的精細化研究已成為軌道工程領域的重點。

新型無砟軌道結構體系由軌道板、減振墊層和混凝土攤鋪層等部件組成。隨著板式無砟軌道攤鋪層表面粗糙度的增加，在列車荷載作用下，其軌道板所受的表面拉力會逐漸增加，當粗糙度達到一定值時，可能會造成軌道結構受拉破壞。因此在對軌道板攤鋪層現(xiàn)場澆筑過程中，需要嚴格控制攤鋪層表面粗糙度，而現(xiàn)有的粗糙度測量裝置在使用過程中存在以下問題：

(1)現(xiàn)有測量裝置無法完全與待測表面保持平行，給最終測得的粗糙度數(shù)據帶來不必要的誤差；

(2)現(xiàn)有測量裝置無法實現(xiàn)連續(xù)測量，一般都是通過選取取樣點進行隨機測量，該種測量方式誤差較大，若追求較小的誤差需增加取樣點的數(shù)量，但仍存在一定的隨機性，且操縱較為繁瑣；

(3)現(xiàn)有測量裝置需要人工對坐標點、粗糙度進行手工記錄，工作繁瑣、測量耗時長，且無法實現(xiàn)測量數(shù)據在電腦等設備上的實時顯示，不利于數(shù)據的后續(xù)處理；

(4)現(xiàn)有測量裝置在待測表面的移動受到限制，在完成一個點的測量后往往需要將測量探頭抬起后再進行移動，操作繁瑣，大大降低了測量效率。

因此亟需一種基于攤鋪層表面粗糙度測試的板式無砟軌道性能評價方法及測試裝置設備，用于精確監(jiān)控板式無砟軌道攤鋪層表面粗糙度，以提高施工質量，并服務于我國軌道交通事業(yè)。

發(fā)明內容

本發(fā)明要解決的技術問題是克服現(xiàn)有技術存在的不足，提供一種板式軌道攤鋪層粗糙度測量裝置及板式軌道攤鋪層粗糙度測量方法，該板式軌道攤鋪層粗糙度測量裝置可便捷地保持自身與待測表面的平行，還可實現(xiàn)連續(xù)測量，測量數(shù)據便于處理，可完整反映板式軌道攤鋪層的粗糙度，大大提高了測量效率、降低了人工和耗時；該板式軌道攤鋪層粗糙度測量方法簡單易行，可完整反映板式軌道攤鋪層的粗糙度分布。

為解決上述技術問題，本發(fā)明采用以下技術方案：

一種板式軌道攤鋪層粗糙度測量裝置，包括框架和測量組件，測量組件與框架之間設置有第一移動組件和第二移動組件，測量組件通過第一移動組件在框架內沿X軸移動，測量組件通過第二移動組件在框架內沿Y軸移動；測量組件包括可沿垂直方向移動的探針和可顯示探針移動量的深度表。

上述技術方案的設計思路在于，通過兩個移動組件可使測量組件便捷地到達框架內部的任意位置，并可通過測量組件的探針和深度表測量該位置下板式軌道攤鋪層的粗糙度，從而獲得板式軌道攤鋪層的粗糙度分布，并借此評價板式軌道攤鋪層的性能參數(shù)。