[發明專利]一種測試裝置

在審

• 申請號: 202011239165.6
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112363087A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 王賽飛;萬發;蔣玉斌
• 申請（專利權）人: 博眾精工科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/54
• 分類號: G01R31/54;G01R31/58;G01R1/04;G01N21/88;G01N21/13;G01N21/01;B65G47/91
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發明公開了一種測試裝置，屬于電子產品測試設備技術領域。測試裝置包括機械手、儲料平臺、定位機構、測試機構和下料平臺。儲料平臺設置于預設位置，所述儲料平臺具有若干儲料槽以存儲待檢測的產品；所述機械手能夠將所述儲料槽內的所述產品輸送至所述定位機構，所述定位機構被配置為將所述產品導正；所述機械手能夠將所述定位機構導正后的所述產品輸送至所述測試機構，所述測試機構被配置為對所述產品進行通電測試；所述機械手能夠將測試后的所述產品輸送至所述下料平臺。本發明能夠對產品進行準確的測試，減少由于定位不準確對產品造成的損傷。

技術領域

本發明涉及電子產品測試設備技術領域，尤其涉及一種測試裝置。

背景技術

排線是一種用于連接兩個電子器件模塊的軟性電路板，為了確保產品的主體外觀沒有瑕疵，并確保產品的排線中的每一線路均為通路而非斷路，需要對產品進行通電測試，從而點亮產品，觀察產品是否有瑕疵。對產品排線進行測試時，產品的排線一端與產品的主體連接，若排線和測試槽的位置出現偏差，會導致測試結果不準確，甚至對排線造成損壞。

發明內容

本發明的目的在于提出一種測試裝置，能夠提高排線的測試效率和測試的準確性。

為達此目的，本發明采用以下技術方案：

一種測試裝置，包括機械手、儲料平臺、定位機構、測試機構和下料平臺。儲料平臺設置于預設位置，所述儲料平臺具有若干儲料槽以存儲待檢測的產品；所述機械手能夠將所述儲料槽內的所述產品輸送至所述定位機構，所述定位機構被配置為將所述產品導正；所述機械手能夠將所述定位機構導正后的所述產品輸送至所述測試機構，所述測試機構被配置為對所述產品進行通電測試；所述機械手能夠將測試后的所述產品輸送至所述下料平臺。

可選地，所述機械手包括：

機械臂；及

取料機構，所述取料機構包括第一連接部、第一吸嘴組件和第二吸嘴組件，所述第一連接部可升降連接于所述機械臂的輸出端，所述第一吸嘴組件和所述第二吸嘴組件分別可升降連接于所述第一連接部，所述第一吸嘴組件用于吸取所述產品的主體，所述第二吸嘴組件用于吸取所述產品的排線。

可選地，所述第一吸嘴組件包括第一彈性緩沖部和第一吸嘴，所述第一彈性緩沖部的頂端連接于所述第一連接部，所述第一彈性緩沖部的底端連接于所述第一吸嘴，所述第一吸嘴通過第一連接件滑動連接于所述第一連接部。

可選地，所述第二吸嘴組件包括第一驅動部和第二吸嘴，所述第二吸嘴滑動連接于所述第一連接部，所述第一驅動部連接于所述第一連接部并能驅動所述第二吸嘴沿所述第一連接部升降。

可選地，所述定位機構包括：

定位平臺，具有定位所述產品的定位槽；

第一按壓組件，連接于所述定位平臺，所述第一按壓組件用于按壓所述定位槽內的所述產品的排線；及

導正組件，連接于所述定位平臺，所述導正組件用于導正所述定位槽內的所述產品的主體。

可選地，所述第一按壓組件包括：

第二驅動部，連接于所述定位平臺；及

第一按壓件，所述第一按壓件連接于所述第二驅動部的輸出端，所述第二驅動部能夠驅動所述第一按壓件旋轉以使所述第一按壓件壓緊或松開所述定位槽內的所述排線。

可選地，所述測試機構包括：

遮光罩，用于阻斷外部光源；

測試平臺，設置于所述遮光罩內，所述測試平臺具有測試槽，所述測試槽內設置有用于和所述產品導通的探針模組；及

第二按壓組件，設置于所述遮光罩內，所述第二按壓組件能夠按壓所述測試槽內的所述產品。