[發(fā)明專利]一種測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011239165.6
• 申請(qǐng)日: 2020-11-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112363087A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王賽飛;萬(wàn)發(fā);蔣玉斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 博眾精工科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/54
• 分類號(hào): G01R31/54;G01R31/58;G01R1/04;G01N21/88;G01N21/13;G01N21/01;B65G47/91
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

1.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

機(jī)械手(1)；

儲(chǔ)料平臺(tái)(2)，設(shè)置于預(yù)設(shè)位置，所述儲(chǔ)料平臺(tái)(2)具有若干儲(chǔ)料槽(21)以存儲(chǔ)待檢測(cè)的產(chǎn)品；

定位機(jī)構(gòu)(3)，所述機(jī)械手(1)能夠?qū)⑺鰞?chǔ)料槽(21)內(nèi)的所述產(chǎn)品輸送至所述定位機(jī)構(gòu)(3)，所述定位機(jī)構(gòu)(3)被配置為將所述產(chǎn)品導(dǎo)正；及

測(cè)試機(jī)構(gòu)(4)，所述機(jī)械手(1)能夠?qū)⑺龆ㄎ粰C(jī)構(gòu)(3)導(dǎo)正后的所述產(chǎn)品輸送至所述測(cè)試機(jī)構(gòu)(4)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)(4)被配置為對(duì)所述產(chǎn)品進(jìn)行通電測(cè)試；及

下料平臺(tái)(5)，所述機(jī)械手(1)能夠?qū)y(cè)試后的所述產(chǎn)品輸送至所述下料平臺(tái)(5)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述機(jī)械手(1)包括：

機(jī)械臂(11)；及

取料機(jī)構(gòu)(12)，所述取料機(jī)構(gòu)(12)包括第一連接部(121)、第一吸嘴組件(122)和第二吸嘴組件(123)，所述第一連接部(121)可升降連接于所述機(jī)械臂(11)的輸出端，所述第一吸嘴組件(122)和所述第二吸嘴組件(123)分別可升降連接于所述第一連接部(121)，所述第一吸嘴組件(122)用于吸取所述產(chǎn)品的主體，所述第二吸嘴組件(123)用于吸取所述產(chǎn)品的排線。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一吸嘴組件(122)包括第一彈性緩沖部(1221)和第一吸嘴(1222)，所述第一彈性緩沖部(1221)的頂端連接于所述第一連接部(121)，所述第一彈性緩沖部(1221)的底端連接于所述第一吸嘴(1222)，所述第一吸嘴(1222)通過(guò)第一連接件(1223)滑動(dòng)連接于所述第一連接部(121)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二吸嘴組件(123)包括第一驅(qū)動(dòng)部(1231)和第二吸嘴(1232)，所述第二吸嘴(1232)滑動(dòng)連接于所述第一連接部(121)，所述第一驅(qū)動(dòng)部(1231)連接于所述第一連接部(121)并能驅(qū)動(dòng)所述第二吸嘴(1232)沿所述第一連接部(121)升降。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述定位機(jī)構(gòu)(3)包括：

定位平臺(tái)(31)，具有定位所述產(chǎn)品的定位槽(311)；

第一按壓組件(32)，連接于所述定位平臺(tái)(31)，所述第一按壓組件(32)用于按壓所述定位槽(311)內(nèi)的所述產(chǎn)品的排線；及

導(dǎo)正組件(33)，連接于所述定位平臺(tái)(31)，所述導(dǎo)正組件(32)用于導(dǎo)正所述定位槽(311)內(nèi)的所述產(chǎn)品的主體。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一按壓組件(32)包括：

第二驅(qū)動(dòng)部(321)，連接于所述定位平臺(tái)(31)；及

第一按壓件(322)，所述第一按壓件(322)連接于所述第二驅(qū)動(dòng)部(321)的輸出端，所述第二驅(qū)動(dòng)部(321)能夠驅(qū)動(dòng)所述第一按壓件(322)旋轉(zhuǎn)以使所述第一按壓件(322)壓緊或松開(kāi)所述定位槽(311)內(nèi)的所述排線。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)(4)包括：

遮光罩(41)，用于阻斷外部光源；

測(cè)試平臺(tái)(42)，設(shè)置于所述遮光罩(41)內(nèi)，所述測(cè)試平臺(tái)(42)具有測(cè)試槽(421)，所述測(cè)試槽(421)內(nèi)設(shè)置有用于和所述產(chǎn)品導(dǎo)通的探針模組；及

第二按壓組件(43)，設(shè)置于所述遮光罩(41)內(nèi)，所述第二按壓組件(43)能夠按壓所述測(cè)試槽(421)內(nèi)的所述產(chǎn)品。