[發(fā)明專利]一種界面檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)設(shè)備

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011236558.1
• 申請(qǐng)日: 2020-11-06
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112485226A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳佳力;顧平月;王玨;李開(kāi)明;鄭杰;丁崢偉;李暉;蒯美林;顧群力
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 航天新氣象科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/47
• 分類號(hào): G01N21/47
• 代理公司: 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250
• 代理人: 李博洋

1.一種界面檢測(cè)方法，應(yīng)用于界面檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述界面檢測(cè)設(shè)備包含信號(hào)發(fā)生單元，所述界面檢測(cè)設(shè)備將檢測(cè)頻率信號(hào)發(fā)送給所述信號(hào)發(fā)生單元，使得所述信號(hào)發(fā)生單元產(chǎn)生所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的正弦波檢測(cè)信號(hào)，所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率與當(dāng)前檢測(cè)環(huán)境下的環(huán)境光頻率不同，所述方法包括如下步驟：

控制所述信號(hào)發(fā)生單元產(chǎn)生正弦波檢測(cè)信號(hào)，所述正弦波檢測(cè)信號(hào)用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光單元發(fā)射相應(yīng)的光信號(hào)；

接收所述光信號(hào)的反射光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)；

根據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對(duì)所述反射光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)進(jìn)行處理，得到待檢測(cè)表面的反射率，所述第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)包括第一預(yù)設(shè)采樣頻率與第一預(yù)設(shè)單次頻譜分析使用的采樣點(diǎn)數(shù)，所述第一預(yù)設(shè)采樣頻率根據(jù)所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率確定；

根據(jù)所述待檢測(cè)表面的反射率，確定不同介質(zhì)之間的分隔界面。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率根據(jù)下述步驟確定：

獲取任一預(yù)設(shè)頻率，所述預(yù)設(shè)頻率與當(dāng)前檢測(cè)環(huán)境下的環(huán)境光頻率不同；

當(dāng)接收到其它設(shè)備的反射光信號(hào)，根據(jù)第二預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對(duì)所述其它設(shè)備的反射光信號(hào)進(jìn)行處理，得到所述其它設(shè)備的反射光信號(hào)的物理信息，所述第二預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)包括第二預(yù)設(shè)采樣頻率與第二預(yù)設(shè)單次頻譜分析使用的采樣點(diǎn)數(shù)，所述第二預(yù)設(shè)采樣頻率根據(jù)所述預(yù)設(shè)頻率確定；

當(dāng)所述反射光信號(hào)的物理信息滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，將所述預(yù)設(shè)頻率作為所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當(dāng)所述反射光信號(hào)的物理信息不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，重復(fù)執(zhí)行所述獲取預(yù)設(shè)頻率到當(dāng)所述根據(jù)第二預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對(duì)所述其它設(shè)備的反射光信號(hào)進(jìn)行處理，得到所述其它設(shè)備的反射光信號(hào)的物理信息的步驟，直到所述反射光信號(hào)的物理信息滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，將所述預(yù)設(shè)頻率作為所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取界面檢測(cè)設(shè)備的初始化信號(hào)；

根據(jù)所述設(shè)備初始化信號(hào)控制所述界面檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行初始化。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對(duì)所述反射光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)進(jìn)行處理，得到所述待檢測(cè)表面的反射率，包括：

根據(jù)所述第一預(yù)設(shè)采樣頻率將所述反射光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字序列；

根據(jù)所述第一預(yù)設(shè)單次頻譜分析使用的采樣點(diǎn)數(shù)對(duì)所述數(shù)字序列進(jìn)行頻譜分析，得到所述待檢測(cè)表面的反射率。

6.一種界面檢測(cè)裝置，應(yīng)用于界面檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述界面檢測(cè)設(shè)備包含信號(hào)發(fā)生單元，所述界面檢測(cè)設(shè)備將檢測(cè)頻率信號(hào)發(fā)送給所述信號(hào)發(fā)生單元，使得所述信號(hào)發(fā)生單元產(chǎn)生所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的正弦波檢測(cè)信號(hào)，所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率與當(dāng)前檢測(cè)環(huán)境下的環(huán)境光頻率不同，所述裝置包括：

控制模塊，用于控制所述信號(hào)發(fā)生單元產(chǎn)生正弦波檢測(cè)信號(hào)，所述正弦波檢測(cè)信號(hào)用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光單元發(fā)射相應(yīng)的光信號(hào)；

接收模塊，用于接收所述光信號(hào)的反射光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)；

處理模塊，用于根據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對(duì)所述反射光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)進(jìn)行處理，得到待檢測(cè)表面的反射率，所述第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)包括第一預(yù)設(shè)采樣頻率與第一預(yù)設(shè)單次頻譜分析使用的采樣點(diǎn)數(shù)，所述第一預(yù)設(shè)采樣頻率根據(jù)所述檢測(cè)頻率信號(hào)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)頻率確定；

確定模塊，用于根據(jù)所述待檢測(cè)表面的反射率，確定不同介質(zhì)之間的分隔界面。

7.一種界面檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括：

信號(hào)發(fā)生單元，用于發(fā)出正弦波檢測(cè)信號(hào)；

發(fā)光單元，與所述信號(hào)發(fā)生單元連接，用于根據(jù)所述正弦波檢測(cè)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)發(fā)射對(duì)應(yīng)的光信號(hào)；

光電轉(zhuǎn)換單元，用于將光信號(hào)的反射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的電信號(hào)；

處理器，分別與所述信號(hào)發(fā)生單元和所述光電轉(zhuǎn)換單元連接，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的界面檢測(cè)方法的步驟。