[發(fā)明專利]一種界面檢測方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011236558.1
• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN112485226A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳佳力;顧平月;王玨;李開明;鄭杰;丁崢偉;李暉;蒯美林;顧群力
• 申請（專利權(quán)）人: 航天新氣象科技有限公司
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250
• 代理人: 李博洋

本發(fā)明公開了一種界面檢測方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)設(shè)備，其中，該方法應(yīng)用于界面檢測設(shè)備，界面檢測設(shè)備包含信號發(fā)生單元，界面檢測設(shè)備將檢測頻率信號發(fā)送給信號發(fā)生單元，使得信號發(fā)生單元產(chǎn)生檢測頻率信號對應(yīng)的正弦波檢測信號，包括如下步驟：控制信號發(fā)生單元產(chǎn)生正弦波檢測信號，正弦波檢測信號用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光單元發(fā)射相應(yīng)的光信號；接收光信號的反射光信號對應(yīng)的電信號；根據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對反射光信號對應(yīng)的電信號進(jìn)行處理，得到待檢測表面的反射率，第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)包括第一預(yù)設(shè)采樣頻率與第一預(yù)設(shè)單次頻譜分析的采樣點(diǎn)數(shù)，第一預(yù)設(shè)采樣頻率根據(jù)檢測頻率信號對應(yīng)的檢測頻率確定；根據(jù)待檢測表面的反射率確定不同介質(zhì)之間的分隔界面。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光電檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種界面檢測方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)設(shè)備。

背景技術(shù)

界面檢測指的是檢測液－固界面或液－液界面或固－固界面位置，例如，在雪層觀測時(shí)，需要用鉆頭從積雪頂端向下鉆探至雪土交界處，使積雪層的剖面垂直暴露于鉆孔內(nèi)壁，以便于分析處理，而鉆頭到達(dá)雪土交界處后，應(yīng)及時(shí)停止，避免沙土等雜質(zhì)污染積雪層剖面。因此，鉆雪裝置應(yīng)該及時(shí)判斷是否達(dá)到雪土界面。而界面檢測通常利用的是相鄰接兩界面介質(zhì)物理性能的不同，例如，反射率。

相關(guān)技術(shù)中的反射率檢測裝置包括：控制處理單元、光源、光電傳感器、信號調(diào)理器，控制處理單元控制光源發(fā)出特定的波長與強(qiáng)度的光，照射到被測表面，光電傳感器接收被測表面的反射光，信號調(diào)理器將光電傳感器的輸出信號轉(zhuǎn)換成電壓信號，控制處理單元通過測量電壓的值估算反射光的強(qiáng)度，進(jìn)而定性測量待檢測表面的反射率大小來確定是否達(dá)到分隔界面。但是當(dāng)待檢測表面無法滿足嚴(yán)格遮光的條件時(shí)，直射或反射的環(huán)境光同樣可以進(jìn)入光電傳感器，干擾反射光的檢測，影響反射率的計(jì)算，界面檢測準(zhǔn)確率低。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中檢測裝置不能排除環(huán)境光的影響，導(dǎo)致界面檢測準(zhǔn)確率低的缺陷，從而提供一種界面檢測方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)設(shè)備。

根據(jù)第一方面，本發(fā)明實(shí)施例公開了一種界面檢測方法，應(yīng)用于界面檢測設(shè)備，所述界面檢測設(shè)備包含信號發(fā)生單元，所述界面檢測設(shè)備將檢測頻率信號發(fā)送給所述信號發(fā)生單元，使得所述信號發(fā)生單元產(chǎn)生所述檢測頻率信號對應(yīng)的正弦波檢測信號，所述檢測頻率信號對應(yīng)的檢測頻率與當(dāng)前檢測環(huán)境下的環(huán)境光頻率不同，所述方法包括如下步驟：控制所述信號發(fā)生單元產(chǎn)生正弦波檢測信號，所述正弦波檢測信號用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光單元發(fā)射相應(yīng)的光信號；接收所述光信號的反射光信號對應(yīng)的電信號；根據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對所述反射光信號對應(yīng)的電信號進(jìn)行處理，得到待檢測表面的反射率，所述第一預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)包括第一預(yù)設(shè)采樣頻率與第一預(yù)設(shè)單次頻譜分析使用的采樣點(diǎn)數(shù)，所述第一預(yù)設(shè)采樣頻率根據(jù)所述檢測頻率信號對應(yīng)的檢測頻率確定；根據(jù)所述待檢測表面的反射率，確定不同介質(zhì)之間的分隔界面。

可選地，所述檢測頻率信號對應(yīng)的檢測頻率根據(jù)下述步驟確定：獲取任一預(yù)設(shè)頻率，所述預(yù)設(shè)頻率與當(dāng)前檢測環(huán)境下的環(huán)境光頻率不同；當(dāng)接收到其它設(shè)備的反射光信號，根據(jù)第二預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對所述其它設(shè)備的反射光信號進(jìn)行處理，得到所述其它設(shè)備的反射光信號的物理信息，所述第二預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)包括第二預(yù)設(shè)采樣頻率與第二預(yù)設(shè)單次頻譜分析使用的采樣點(diǎn)數(shù)，所述第二預(yù)設(shè)采樣頻率根據(jù)所述預(yù)設(shè)頻率確定；當(dāng)所述反射光信號的物理信息滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，將所述預(yù)設(shè)頻率作為所述檢測頻率信號對應(yīng)的檢測頻率。

可選地，所述方法還包括：當(dāng)所述反射光信號的物理信息不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，重復(fù)執(zhí)行所述獲取預(yù)設(shè)頻率到當(dāng)所述根據(jù)第二預(yù)設(shè)計(jì)算參數(shù)對所述其它設(shè)備的反射光信號進(jìn)行處理，得到所述其它設(shè)備的反射光信號的物理信息的步驟，直到所述反射光信號的物理信息滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，將所述預(yù)設(shè)頻率作為所述檢測頻率信號對應(yīng)的檢測頻率。

可選地，所述方法還包括：獲取界面檢測設(shè)備的初始化信號；根據(jù)所述設(shè)備初始化信號控制所述界面檢測設(shè)備進(jìn)行初始化。