[發明專利]一種伺服系統調試方法及裝置

在審

• 申請號: 202011235367.3
• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN112526877A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 張芳;張成浩;陳成峰;吳非;丁懷龍
• 申請（專利權）人: 北京精密機電控制設備研究所
• 主分類號: G05B13/04
• 分類號: G05B13/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請公開了一種伺服系統調試方法及裝置，用于在不對伺服控制器進行拆卸的情況下，在線下載程序和更新系數，并通過觀測返回的閉環控制中間環節的輸入值和輸出值，進行針對性的調節參數，縮短了產品調試時間，提高了產品的安全性。本申請還提供了一種伺服系統調試裝置。

技術領域

本申請涉及伺服控制領域，尤其涉及一種伺服系統調試方法和裝置。

背景技術

目前，伺服系統的軟件在調試過程中，每一次調試都需要進行軟件升級，而軟件升級需要提前預約控制器生產人員進行開蓋、合蓋及點漆，過程極其繁瑣復雜，給控制器帶來不安全的因素，降低了伺服產品的調試效率，長了伺服產品的調試周期。

發明內容

針對上述技術問題，本申請實施例提供了一種伺服系統調試方法及裝置，程序下載和程序裝訂均無需開蓋，通過觀測返回的閉環控制中間環節輸出值針對性的調節參數并進行下載，縮短伺服產品的調試時間，提高伺服產品的安全性。

一方面，本申請實施例提供的一種伺服系統調試方法，包括：

確定閉環控制環節i的輸入閾值xt(i)和輸出閾值yt(i)；

接收遙測數據，根據所述遙測數據確定所述閉環控制環節F(i)的輸入值 x(i)和輸出值y(i)；

根據所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)和閉環控制環節F(i)的輸入閾值xt(i)，確定閉環控制環節F(i-1)的推薦系數r(i-1)；

根據所述閉環控制環節F(i)的輸出值y(i)和所述閉環控制環節F(i)的輸出閾值yt(i)，確定閉環控制環節F(i)的推薦系數r(i)；

根據所述推薦系數r(i-1)和r(i)，確定裝訂參數；

根據所述裝訂參數，對伺服系統進行參數裝訂；

其中，i是所述伺服系統中的閉環控制環節的編號，i＝2,3,…,N，所述N 是所述伺服系統中閉環控制環節的數量。

進一步的，若所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)超過所述閉環控制環節F(i)的輸入閾值xt(i)，則調整所述閉環控制環節F(i-1)中的參數，并根據預設的函數關系確定所述閉環控制環節F(i-1)推薦系數r(i-1)；若所述閉環控制環節F(i)的輸出值y(i)超過所述閉環控制環節F(i)的輸出閾值yt(i)，則調整所述閉環控制環節F(i)中的參數，并根據預設的函數關系確定所述閉環控制環節F(i)的推薦系數r(i)。

進一步的，接收遙測數據包括：

向伺服控制器發送位置特性指令、暫態特性指令和頻率特性指令；

接收伺服控制器返回的遙測數據，所述遙測數據包括每個閉環控制環節的輸入值和輸出值。所述遙測數據還包括指定的閉環控制環節的中指定的中間變量。

進一步的，所述根據所述裝訂參數，對伺服系統進行參數裝訂包括：

在不拆卸伺服控制器的情況下，通過接口總線更改所述閉環控制環節的參數，或者升級所述伺服控制器的程序。所述裝訂參數至少包括以下之一：比例積分微分PID控制參數，限幅值，陷波參數和擬合系數。作為一種優選示例，所述裝訂參數還包括判據。

進一步的，所述接收遙測數據之后，還包括：

根據所述遙測數據生成參數曲線，對超出限幅值的參數給出預警和推薦參數值。

另一方面，本申請實施例提供一種伺服系統調試裝置，包括：

程序在線下載模塊，用于下載并更新伺服系統的軟件；

參數在線裝訂模塊，用于更新伺服系統中每個控制環節的控制系數；