[發明專利]一種伺服系統調試方法及裝置在審
| 申請號: | 202011235367.3 | 申請日: | 2020-11-06 |
| 公開(公告)號: | CN112526877A | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發明(設計)人: | 張芳;張成浩;陳成峰;吳非;丁懷龍 | 申請(專利權)人: | 北京精密機電控制設備研究所 |
| 主分類號: | G05B13/04 | 分類號: | G05B13/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100076 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 伺服系統 調試 方法 裝置 | ||
1.一種伺服系統調試方法,其特征在于,包括:
確定閉環控制環節i的輸入閾值xt(i)和輸出閾值yt(i);
接收遙測數據,根據所述遙測數據確定所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)和輸出值y(i);
根據所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)和閉環控制環節F(i)的輸入閾值xt(i),確定閉環控制環節F(i-1)的推薦系數r(i-1);
根據所述閉環控制環節F(i)的輸出值y(i)和所述閉環控制環節F(i)的輸出閾值yt(i),確定閉環控制環節F(i)的推薦系數r(i);
根據所述推薦系數r(i-1)和r(i),確定裝訂參數;
根據所述裝訂參數,對伺服系統進行參數裝訂;
其中,i是所述伺服系統中的閉環控制環節的編號,i=2,3,…,N,所述N是所述伺服系統中閉環控制環節的數量。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述閉環控制環節i的輸入值x(i)和閉環控制環節F(i)的輸入閾值xt(i),確定閉環控制環節F(i-1)的推薦系數r(i-1),包括:
若所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)超過所述閉環控制環節F(i)的輸入閾值xt(i),則調整所述閉環控制環節F(i-1)中的參數,并根據預設的函數關系確定所述閉環控制環節F(i-1)推薦系數r(i-1)。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述閉環控制環節F(i)的輸出值y(i)和所述閉環控制環節F(i)的輸出閾值yt(i),確定閉環控制環節F(i)的推薦系數r(i)包括:
若所述閉環控制環節F(i)的輸出值y(i)超過所述閉環控制環節F(i)的輸出閾值yt(i),則調整所述閉環控制環節F(i)中的參數,并根據預設的函數關系確定所述閉環控制環節F(i)的推薦系數r(i)。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收遙測數據包括:
向伺服控制器發送位置特性指令、暫態特性指令和頻率特性指令;
接收伺服控制器返回的遙測數據,所述遙測數據包括每個閉環控制環節的輸入值和輸出值。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,包括:
所述遙測數據還包括指定的閉環控制環節的中指定的中間變量。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述裝訂參數,對伺服系統進行參數裝訂包括:
在不拆卸伺服控制器的情況下,通過接口總線更改所述閉環控制環節的參數,或者升級所述伺服控制器的程序。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,包括:
所述裝訂參數至少包括以下之一:比例積分微分PID控制參數,限幅值,陷波參數和擬合系數。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,包括:
所述裝訂參數還包括判據。
9.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收遙測數據之后,還包括:
根據所述遙測數據生成參數曲線,對超出限幅值的參數給出預警和推薦參數值。
10.一種伺服系統調試裝置,其特征在于,包括:
程序在線下載模塊,用于下載并更新伺服系統的軟件;
參數在線裝訂模塊,用于更新伺服系統中每個控制環節的控制系數;
伺服系統測試模塊,用于對伺服系統進行測試,并通過總線接收伺服控制器返回的遙測數據;
測試數據分析模塊,用于獲取伺服系統測試功能存儲的遙測數據;
所述伺服系統測試模塊還用于確定閉環控制環節i的輸入閾值xt(i)和輸出閾值yt(i);
所述測試數據分析模塊還用于:
根據所述遙測數據確定所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)和輸出值y(i);
根據所述閉環控制環節F(i)的輸入值x(i)和閉環控制環節i的輸入閾值xt(i),確定閉環控制環節F(i-1)的推薦系數r(i-1);
根據所述閉環控制環節F(i)的輸出值y(i)和所述閉環控制環節F(i)的輸出閾值yt(i),確定閉環控制環節F(i)的推薦系數r(i);
根據所述推薦系數r(i-1)和r(i),確定裝訂參數;
所述參數在線裝訂模塊還用于根據所述裝訂參數,對伺服系統進行參數裝訂;
其中,i是所述伺服系統中的閉環控制環節的編號,i=2,3,…,N,所述N是所述伺服系統中閉環控制環節的數量。
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