[發(fā)明專利]內(nèi)存測(cè)試裝置以及測(cè)試電壓調(diào)整方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011230109.6
• 申請(qǐng)日: 2020-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN112382328A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周少東;陳世興;顏振亮;姜文貴
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 潤(rùn)昇系統(tǒng)測(cè)試(深圳)有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/02
• 分類號(hào): G11C29/02;G11C29/50
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 何沖

1.一種內(nèi)存測(cè)試裝置，用以對(duì)至少一待測(cè)內(nèi)存模塊進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，所述內(nèi)存測(cè)試裝置包括：

主機(jī)，經(jīng)配置以提供測(cè)試流程；

至少一測(cè)試板，分別耦接于所述主機(jī)，經(jīng)配置以基于所述測(cè)試流程分別對(duì)所述至少一待測(cè)內(nèi)存模塊中的對(duì)應(yīng)待測(cè)內(nèi)存模塊進(jìn)行測(cè)試；以及

至少一檢測(cè)器，耦接于所述主機(jī)，并以一對(duì)一方式與所述至少一測(cè)試板對(duì)應(yīng)耦接，其中各所述至少一檢測(cè)器經(jīng)配置以接收自所述至少一測(cè)試板中的對(duì)應(yīng)測(cè)試板所提供的關(guān)聯(lián)于所述測(cè)試流程的測(cè)試電壓，并且依據(jù)所述測(cè)試電壓的偏移產(chǎn)生電壓偏移信息，

其中所述主機(jī)依據(jù)所述電壓偏移信息，提供用以調(diào)整所述測(cè)試流程的電壓設(shè)定值，以提供經(jīng)調(diào)整的測(cè)試流程，使得所述對(duì)應(yīng)測(cè)試板依據(jù)所述經(jīng)調(diào)整的測(cè)試流程來設(shè)定所述測(cè)試電壓。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，所述至少一待測(cè)內(nèi)存模塊分別是動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存模塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，各所述至少一測(cè)試板包括：

電源調(diào)節(jié)器，經(jīng)配置以提供所述測(cè)試電壓，并將所述測(cè)試電壓提供至所述對(duì)應(yīng)待測(cè)內(nèi)存模塊；

作業(yè)單元，耦接于所述主機(jī)，經(jīng)配置以依據(jù)所述測(cè)試流程提供測(cè)試參數(shù)，并存儲(chǔ)所述測(cè)試流程；以及

內(nèi)存控制器，耦接于所述作業(yè)單元以及所述電源調(diào)節(jié)器，經(jīng)配置以接收所述測(cè)試參數(shù)，并依據(jù)所述測(cè)試參數(shù)控制所述電源調(diào)節(jié)器。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，各所述至少一測(cè)試板還包括：

配置模塊，耦接于所述作業(yè)單元；以及

測(cè)試模塊，耦接于所述主機(jī)以及所述配置模塊，經(jīng)配置以接收所述測(cè)試流程，并控制所述配置模塊將所述測(cè)試流程存儲(chǔ)至所述作業(yè)單元的存儲(chǔ)模塊。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試模塊還經(jīng)配置以接收所述經(jīng)調(diào)整的測(cè)試流程，并依據(jù)所述經(jīng)調(diào)整的測(cè)試流程調(diào)用所述配置模塊，使所述配置模塊將所述內(nèi)存所存儲(chǔ)的所述測(cè)試流程修改為所述經(jīng)調(diào)整的測(cè)試流程。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，各所述至少一檢測(cè)器包括：

判斷模塊，耦接于所述電源調(diào)節(jié)器，經(jīng)配置以：

接收所述電源調(diào)節(jié)器所提供的所述測(cè)試電壓，

判斷所述測(cè)試電壓與期望測(cè)試電壓之間的所述偏移是否大于或等于預(yù)設(shè)值，

當(dāng)判斷出所述偏移大于或等于預(yù)設(shè)值時(shí)，產(chǎn)生所述電壓偏移信息，并將所述電壓偏移信息提供至所述主機(jī)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)值實(shí)質(zhì)上等于所述測(cè)試電壓的電壓步進(jìn)值的二分之一。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，各所述至少一檢測(cè)器還經(jīng)配置以反應(yīng)于所述主機(jī)的控制提供關(guān)聯(lián)于所述對(duì)應(yīng)測(cè)試板的運(yùn)行狀態(tài)的狀態(tài)信號(hào)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，各所述至少一檢測(cè)器包括：

識(shí)別模塊，經(jīng)配置以存儲(chǔ)識(shí)別符，

其中當(dāng)各所述至少一檢測(cè)器提供所述電壓偏移信息時(shí)提供所述識(shí)別符，其中所述主機(jī)依據(jù)所述識(shí)別符將所述經(jīng)調(diào)整的測(cè)試流程提供到所述對(duì)應(yīng)測(cè)試板。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測(cè)試裝置，其特征在于，還包括：

數(shù)據(jù)庫(kù)，經(jīng)配置以存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試流程的期望測(cè)試電壓以及經(jīng)調(diào)整的測(cè)試電壓。