[發明專利]內存測試裝置以及測試電壓調整方法

在審

• 申請號: 202011230109.6
• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN112382328A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 周少東;陳世興;顏振亮;姜文貴
• 申請（專利權）人: 潤昇系統測試(深圳)有限公司
• 主分類號: G11C29/02
• 分類號: G11C29/02;G11C29/50
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何沖

本發明提供一種內存測試裝置以及測試電壓調整方法。內存測試裝置用以對至少一待測內存模塊進行測試。所述內存測試裝置包括主機、至少一測試板以及至少一檢測器。主機提供測試流程；所述至少一測試板基于測試流程分別對所述至少一待測內存模塊中的對應待測內存模塊進行測試；各所述至少一檢測器接收自所述至少一測試板中的對應測試板所提供的關聯于測試流程的測試電壓，依據所述測試電壓的偏移產生電壓偏移信息；主機依據電壓偏移信息調整測試流程，使對應測試板依據經調整的測試流程調整測試電壓。

技術領域

本發明涉及一種測試裝置以及電壓調整方法，且特別是涉及一種用于對待測內存模塊進行測試的內存測試裝置以及測試電壓調整方法。

背景技術

現行的測試裝置大致上都是對待測內存模塊提供多個測試電壓，以對待測內存模塊進行測試。不同的測試板供貨商所提供的測試板的測試電壓的設定可能會有所不同。因此測試板的測試電壓的供應可能會有差異。此外，在實際使用中，隨著時間的推移，由于測試板的內部電路的衰變或組件的失效，測試電壓可能會偏離所期望的實際電壓值。因此，如何使測試板能夠基于測試流程,提供精準的測試電壓，是本領域技術人員努力研究的課題之一。

發明內容

本發明是針對一種內存測試裝置以及測試電壓調整方法，能夠使不同的測試板能夠基于測試流程提供精準的測試電壓。

根據本發明的實施例，內存測試裝置用以對至少一待測內存模塊進行測試。所述內存測試裝置包括主機、至少一測試板以及至少一檢測器。所述主機經配置以提供測試流程。所述至少一測試板分別耦接于所述主機。所述至少一測試板經配置以基于所述測試流程分別對所述至少一待測內存模塊中的對應待測內存模塊進行測試。所述至少一檢測器耦接于所述主機。所述至少一檢測器以一對一方式與所述至少一測試板對應耦接。各所述至少一檢測器經配置以接收自所述至少一測試板中的對應測試板所提供的關聯于所述測試流程的測試電壓，依據所述測試電壓的偏移產生電壓偏移信息。所述主機依據所述電壓偏移信息提供用以調整所述測試流程的電壓設定值以提供所述經調整的測試流程，使得所述對應測試板依據所述經調整的測試流程來調整所述測試電壓。

根據本發明的實施例，測試電壓調整方法用于內存測試裝置。所述內存測試裝置用以對至少一待測內存模塊進行測試。所述內存測試裝置包括主機、至少一測試板以及至少一檢測器。所述至少一測試板以一對一方式與所述至少一檢測器對應耦接。所述測試電壓調整方法包括：由所述主機提供測試流程；由所述至少一測試板基于所述測試流程分別對所述至少一待測內存模塊中的對應待測內存模塊進行測試；由所述至少一檢測器分別接收自所述至少一測試板中的對應測試板所提供的關聯于所述測試流程的測試電壓，并且依據所述測試電壓的偏移產生電壓偏移信息；以及由所述主機依據所述電壓偏移信息提供用以調整所述測試流程的電壓設定值以提供所述經調整的測試流程，使得所述對應測試板依據所述經調整的測試流程來調整所述測試電壓。

基于上述，本發明的內存測試裝置以及測試電壓調整方法中，檢測器接收對應測試板所提供的測試電壓，并且依據測試電壓的偏移產生電壓偏移信息。主機依據電壓偏移信息提供用以調整測試流程的電壓設定值以提供所述經調整的測試流程。也就是說，檢測器能夠接收測試板所提供的實際測試電壓，并依據測試電壓的偏移產生電壓偏移信息。因此，內存測試裝置以及測試電壓調整方法會基于實際測試電壓的偏移對應調整電壓設定值。如此一來，測試板能夠基于測試流程提供精準的測試電壓。

附圖說明

圖1是依據本發明第一實施例所繪示的內存測試裝置的裝置示意圖。

圖2是依據本發明第一實施例所繪示的測試電壓調整方法的流程圖。

圖3是依據本發明第二實施例所繪示的內存測試裝置的裝置示意圖。

圖4是依據本發明第二實施例所繪示的測試電壓調整方法的流程圖。

附圖標記說明

100、200：內存測試裝置；