[發明專利]基臺的加工方法及加工裝置、存儲介質及計算機設備

有效

• 申請號: 202011223971.4
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN112353513B
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發明（設計）人: 譚莉;馮強;張凌偉;黃崗
• 申請（專利權）人: 深圳市翔通光電技術有限公司
• 主分類號: A61C8/00
• 分類號: A61C8/00
• 代理公司: 深圳中細軟知識產權代理有限公司 44528
• 代理人: 王志強

本發明實施例公開了一種基臺的加工方法及加工裝置、存儲介質及計算機設備，該方法包括以下步驟：獲取基臺的第一預設中心坐標值和第一預設加工數據；采集基臺的位置坐標值；將基臺的位置坐標值進行處理以獲得基臺的第二中心坐標值；將第一預設中心坐標值、第二中心坐標值和第一預設加工數據進行處理，并得到第二加工數據；基于所述第二加工數據加工所述基臺。通過采集基臺的位置坐標，處理獲得基臺的第二中心坐標值，通過第二中心坐標值得到第二加工數據。第二加工數據為基臺通過校準后的加工數據，進而減小了基臺加工定位的偏差，保證了基臺加工的精度，提高了基臺的合格率。

技術領域

本發明涉及口腔醫學種植牙技術領域，涉及一種基臺的加工方法及加工裝置、存儲介質及計算機設備。

背景技術

基臺是牙科修復術中種植體的輔助器具，在種植義齒時，需要先將種植體安裝在齒槽骨中，再在種植體上方設置安裝基臺，最后才能將牙冠安裝在基臺上。

現有技術中，基臺由坯料經過一次加工及二次加工后獲得。理論上基臺的二次加工的加工路徑應與基臺的一次加工的加工路徑一致。但是，目前二次加工需要重新定位，導致基臺二次加工的加工中心與一次加工的加工中心偏差較大，進而導致基臺報廢，合格率降低。

發明內容

基于此，有必要針對上述問題，提出了一種基臺的加工方法及裝置、存儲介質及計算機設備，本發明旨在解決現有基臺二次加工的加工中心與一次加工的加工中心偏差大的問題。

在第一方面，本發明提供了一種基臺的加工方法，包括以下步驟：

獲取基臺的第一預設中心坐標值和第一預設加工數據；

采集所述基臺的位置坐標值；

將所述基臺的位置坐標值進行處理獲得所述基臺的第二中心坐標值；

將所述第一預設中心坐標值和所述第二中心坐標值進行處理，并得到第二加工數據；

基于所述第二加工數據加工所述基臺。

在其中一種實施例中，步驟將所述第一預設中心坐標值、所述第二中心坐標值和所述第一預設加工數據進行處理，并得到第二加工數據中，具體包括以下步驟：

將所述第二中心的坐標值與所述第一預設中心坐標值進行比較獲得補償值；

根據所述補償值調整所述第一預設加工數據以獲得第二加工數據。

在其中一種實施例中，步驟采集所述基臺的位置坐標值中，具體包括以下步驟：

采集所述基臺在第一位置的坐標值；

將所述基臺翻轉，以使所述基臺處于第二位置；

采集所述基臺在第二位置的坐標值。

在其中一種實施例中，步驟將所述基臺翻轉，以使所述基臺處于第二位置中，具體為：提供夾具，將所述基臺夾持于所述夾具上，將所述夾具翻轉，以使所述基臺翻轉。

在其中一種實施例中，步驟將所述基臺的位置坐標值進行處理以獲得基臺的第二中心坐標值中，具體包括以下步驟：

在所述第一位置處，將所述基臺的位置坐標值進行處理以獲得所述基臺在第一位置的第三中心坐標值；

在所述第二位置處，將所述基臺的位置坐標值進行處理以獲得所述基臺在第二位置的第四中心坐標值；

將所述第三中心坐標值與所述第四中心坐標值的平均值為所述第二中心坐標值。

在其中一種實施例中，步驟采集所述基臺在第一位置的坐標值中，具體包括以下步驟：

在所述第一位置時，在基臺外壁設定多個第一位置采集點，多個所述第一位置采集點周向間隔設置；