[發(fā)明專利]一種晶圓載具在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011222791.4 | 申請日: | 2020-11-05 |
| 公開(公告)號: | CN112331599A | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張正杰 | 申請(專利權(quán))人: | 泉芯集成電路制造(濟(jì)南)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/673 | 分類號: | H01L21/673 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張洋 |
| 地址: | 250000 山東省濟(jì)南市*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶圓載具 | ||
一種晶圓載具,涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。該晶圓載具包括支撐框架和連接于支撐框架內(nèi)壁上的支撐平臺,支撐平臺包括至少兩個在同一水平面內(nèi)且呈環(huán)形分布設(shè)置的支撐件,晶圓收容于支撐框架內(nèi),且搭載于支撐平臺上,每一個支撐件與晶圓之間呈線接觸或者點(diǎn)接觸。該晶圓載具可以有效解決現(xiàn)有技術(shù)中晶圓載具容易對晶圓造成刮傷的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種晶圓載具。
背景技術(shù)
隨著科技的進(jìn)步,半導(dǎo)體電子產(chǎn)品已經(jīng)應(yīng)用到社會生活的諸多領(lǐng)域,而這些半導(dǎo)體電子產(chǎn)品都具有半導(dǎo)體芯片。可見,半導(dǎo)體芯片在當(dāng)今生活中具有非常顯著的重要性。
在半導(dǎo)體芯片的制備中,常以晶圓載具作為承載晶圓的工具,借以高效率地進(jìn)行晶圓的處理程序。一般而言,晶圓常以水平堆疊的方式置于一晶圓載具中,在進(jìn)行制程時,將晶圓載具置于轉(zhuǎn)移設(shè)備上,然后再將晶圓自一反應(yīng)艙轉(zhuǎn)移至另一反應(yīng)艙中,以之進(jìn)行晶圓的轉(zhuǎn)移;或者,對置于晶圓載具上的晶圓進(jìn)行對應(yīng)的工藝處理(例如先將晶圓片放置在晶圓載具上,再將晶圓載具放置在爐管內(nèi)以進(jìn)行擴(kuò)散工藝處理)。然而,現(xiàn)有技術(shù)中的晶圓載具在進(jìn)行擴(kuò)散工藝的高溫退火過程中,常常會發(fā)生晶圓的邊緣與晶圓的中心位置溫度差的問題,從而易對晶圓的晶格造成影響,以致發(fā)生晶圓相對晶圓載具進(jìn)行滑移而造成刮傷等缺陷,這就對晶圓的性能造成影響,從而影響半導(dǎo)體器件的品質(zhì)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種晶圓載具,以解決現(xiàn)有技術(shù)中晶圓載具容易對晶圓造成刮傷的問題。
本發(fā)明的實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的:
本發(fā)明的一方面,提供一種晶圓載具,該晶圓載具包括支撐框架和連接于支撐框架內(nèi)壁上的支撐平臺,支撐平臺包括至少兩個在同一水平面內(nèi)且呈環(huán)形分布設(shè)置的支撐件,晶圓收容于支撐框架內(nèi),且搭載于支撐平臺上,每一個支撐件與晶圓之間呈線接觸或者點(diǎn)接觸。該晶圓載具可以有效解決現(xiàn)有技術(shù)中晶圓載具容易對晶圓造成刮傷的問題。
可選地,支撐件呈桿狀,支撐件的一端與支撐框架的內(nèi)壁連接,其中,支撐件的側(cè)壁用于承載晶圓。
可選地,支撐件的橫截面呈圓形。
可選地,支撐件的橫截面呈多邊形,晶圓搭載于支撐件的棱邊上。
可選地,支撐件呈板狀,支撐件用于承載晶圓的承載面和所述支撐框架的內(nèi)壁之間的夾角在75°至90°之間。
可選地,支撐件呈板狀,支撐件用于承載晶圓的承載面上設(shè)有凸部,晶圓搭載于凸部上。
可選地,凸部用于搭載晶圓的一面呈弧狀。
可選地,凸部呈棱柱狀,其中,晶圓搭載于凸部的棱邊上。
可選地,支撐件的熱膨脹系數(shù)與晶圓的熱膨脹系數(shù)相同。
可選地,支撐件的材質(zhì)與晶圓的材質(zhì)相同。
可選地,支撐框架包括兩固定板和至少兩固定桿,其中,固定桿連接于兩固定板之間,且相鄰兩固定桿呈平行設(shè)置,支撐件與固定桿連接。
可選地,固定板為圓板或者圓環(huán)板。
本發(fā)明的有益效果包括:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





