[發明專利]平行測試裝置

在審

• 申請號: 202011221713.2
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN112863588A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 樸燦石
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;劉芳

本發明提供一種平行測試裝置，包含輸入/輸出襯墊、多個輸入緩沖器以及多個輸出驅動器。輸入/輸出襯墊配置成執行平行測試裝置中的輸入/輸出操作。輸入緩沖器配置成啟用寫入數據。輸出驅動器配置成啟用讀取數據且將讀取數據輸出到輸入/輸出襯墊。對應于來自外部裝置的數據的測試信號在測試模式期間通過平行測試裝置中的輸入/輸出襯墊傳送到輸出驅動器。

技術領域

本發明涉及一種平行測試裝置，且更確切地說，涉及用以在存儲器裝置中的測試模式期間激活未使用部件的存儲器裝置中的平行測試。

背景技術

在DRAM存儲器和NAND快閃存儲器裝置中，測試裝置配置成驗證存儲器裝置的特征和功能。為了測試大量存儲器裝置，需要使用通道分配測試來測試所有存儲器裝置。因此，采用充當自測裝置的平行測試裝置以確定存儲器裝置是否故障。然而，在測試期間，平行測試裝置需要在數據壓縮期間使用單個I/O線將相同數據寫入到多個輸入/輸出(Input/Output；I/O)線中。由于使用單個I/O線，平行測試裝置不可能確定存儲器裝置中的一或多個故障部件。在一些平行測試裝置中，在平行測試裝置中內部地采用測試控制器以使用單個I/O線來尋址寫入到多個I/O線中的數據，但平行測試裝置中的輸出驅動器對數據有效窗口至關重要。由于數據設置/保持時間小于數據有效窗口，因此包含I/O緩沖器的未使用部件降低性能，即使存儲器裝置中只存在輕微故障。

連同克服由于平行測試裝置中的至關重要的數據有效窗口所致的存儲器裝置中的故障檢測的需求，可能合乎需要的是開發用于本領域中的某些應用的具有改進故障檢測的平行測試裝置。

發明內容

本發明提供從外部裝置接收測試信號的平行測試裝置。

本發明的平行測試裝置包含I/O襯墊、多個輸入緩沖器以及多個輸出驅動器。I/O襯墊配置成執行平行測試裝置中的輸入/輸出操作。輸入緩沖器配置成啟用寫入數據。輸出驅動器配置成啟用讀取數據且將讀取數據輸出到I/O襯墊。對應于來自外部裝置的數據的測試信號在測試模式期間通過平行測試裝置中的I/O襯墊傳送到輸出驅動器。

為了可更好地理解上述內容，如下參考附圖詳細地描述若干實施例。

附圖說明

包含附圖以提供對本發明的進一步理解，且附圖并入本說明書中并構成本說明書的一部分。附圖說明本發明的示范性實施例，且與描述一起用來解釋本發明的原理。

圖1說明根據本發明的示范性實施例的平行測試裝置的框圖；

圖2說明根據本發明的示范性實施例的平行測試裝置的示意圖；

圖3說明根據本發明的示范性實施例的壓縮電路的示意圖。

具體實施方式

應理解，在不脫離本發明的范圍的情況下，可利用其它實施例，且可作出結構性改變。同樣，應理解，本文中所使用的措詞和術語是出于描述的目的且不應視為是限制性的。本文中使用“包含”、“包括”或“具有”以及其變化形式意在涵蓋其后列出的項目和其等效物以及額外項目。除非另有限制，否則術語“連接(connected)”、“耦接(coupled)”以及“安裝(mounted)”和其在本文中的變化形式是廣義上使用的并且涵蓋直接和間接的連接、耦接以及安裝。

平行測試裝置100包含圖1的存儲器單元陣列110、壓縮電路120以及I/O襯墊130。

平行測試裝置200包含存儲器單元陣列210、讀取/寫入驅動器215、壓縮電路220、多個輸入緩沖器230、多個輸出驅動器240、I/O襯墊250以及校準裝置260。參考圖1和圖2，存儲器單元陣列210包含多個存儲器單元、通常每一存儲器單元中具有8個到64個陣列。