[發明專利]平行測試裝置

在審

• 申請號: 202011221713.2
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN112863588A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 樸燦石
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;劉芳

1.一種平行測試裝置，包括：

輸入/輸出襯墊，配置成執行所述平行測試裝置中的輸入/輸出操作；

多個輸入緩沖器，配置成啟用寫入數據；以及

多個輸出驅動器，配置成啟用讀取數據且將所述讀取數據輸出到所述輸入/輸出襯墊；

其中對應于來自外部裝置的數據的測試信號在測試模式期間通過所述平行測試裝置中的所述輸入/輸出襯墊傳送到所述輸出驅動器。

2.根據權利要求1所述的平行測試裝置，進一步包括：

壓縮電路，配置成在數據壓縮期間壓縮來自所述平行測試裝置的存儲器單元陣列的數據以產生壓縮數據。

3.根據權利要求2所述的平行測試裝置，進一步包括：

輸出緩沖器，配置成從所述壓縮電路接收所述壓縮數據。

4.根據權利要求2所述的平行測試裝置，其中在所述數據壓縮期間，相同數據通過寫入數據寄存器寫入到多個寫入驅動器中。

5.根據權利要求2所述的平行測試裝置，壓縮電路進一步包括：

多個互斥NOR門；以及

AND門。

6.根據權利要求1所述的平行測試裝置，其中對應于來自所述外部裝置的所述數據的所述測試信號在所述測試模式期間不傳送到所述輸入緩沖器。

7.根據權利要求1所述的平行測試裝置，其中來自所述外部裝置的所述數據是雙態觸變型樣。

8.根據權利要求1所述的平行測試裝置，進一步包括：

校準裝置，配置成產生校準方案以調諧所述輸出驅動器。

9.根據權利要求8所述的平行測試裝置，進一步包括：

延遲鎖定回路時鐘產生器，配置成在所述測試模式期間對所述平行測試裝置產生內部時鐘。

10.根據權利要求1所述的平行測試裝置，進一步包括：

多個讀取驅動器，配置成驅動來自存儲器單元陣列的所述讀取數據；以及

多個寫入驅動器，配置成驅動來自所述存儲器單元陣列的所述寫入數據。

11.根據權利要求1所述的平行測試裝置，其中在所述測試模式期間，對應于來自所述外部裝置的所述數據的所述測試信號響應于測試模式啟用信號而通過所述輸入/輸出襯墊傳送到所述輸出驅動器。

12.根據權利要求1所述的平行測試裝置，其中所述輸入/輸出襯墊細分成多個輸入/輸出襯墊單元。

13.根據權利要求12所述的平行測試裝置，其中所述輸入/輸出襯墊包括在所述測試模式期間所用的數據襯墊和在所述測試模式期間未使用的其它輸入/輸出襯墊單元。