[發(fā)明專利]一種探測(cè)裝置及探測(cè)定位方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011211269.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112345835A | 公開(公告)日: | 2021-02-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋林林;崔海龍;張獻(xiàn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昆山聯(lián)滔電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R29/08 | 分類號(hào): | G01R29/08;G01B11/00;G01B21/02 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 劉臣剛 |
| 地址: | 215324 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 探測(cè) 裝置 定位 方法 | ||
本發(fā)明屬于產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種探測(cè)裝置及探測(cè)定位方法,探測(cè)裝置包括測(cè)試頭、影像識(shí)別裝置和位移傳感器,測(cè)試頭上設(shè)置有多個(gè)用于與待檢測(cè)產(chǎn)品抵接的探針,影像識(shí)別裝置設(shè)置于測(cè)試頭上,能夠通過對(duì)比待檢測(cè)產(chǎn)品的實(shí)物圖像與數(shù)據(jù)庫內(nèi)的預(yù)存圖像,得到測(cè)試頭相對(duì)于待檢測(cè)產(chǎn)品的位置,位移傳感器設(shè)置于測(cè)試頭上,能夠檢測(cè)測(cè)試頭相對(duì)于待檢測(cè)產(chǎn)品的實(shí)際位移量,探測(cè)定位方法使用上述探測(cè)裝置。本發(fā)明中,影像識(shí)別裝置和位移傳感器相互配合,使得測(cè)試頭的定位移動(dòng),準(zhǔn)確可靠,方便高效。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種探測(cè)裝置及探測(cè)定位方法。
背景技術(shù)
探測(cè)裝置,主要用于產(chǎn)品信號(hào)、功能測(cè)試等,能通過探針將檢測(cè)拾取到的射頻能量通過傳輸電纜傳輸?shù)筋l譜儀或者網(wǎng)絡(luò)分析儀,以實(shí)時(shí)檢測(cè)待檢測(cè)產(chǎn)品的輻射量。
現(xiàn)有的探測(cè)裝置,在檢測(cè)時(shí),相對(duì)于待檢測(cè)產(chǎn)品的定位精度差,影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種探測(cè)裝置及探測(cè)定位方法,能夠準(zhǔn)確可靠地相對(duì)于待檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行定位。
為達(dá)此目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種探測(cè)裝置,包括:
測(cè)試頭,所述測(cè)試頭上設(shè)置有多個(gè)用于與待檢測(cè)產(chǎn)品抵接的探針;
影像識(shí)別裝置,設(shè)置于所述測(cè)試頭上,能夠通過對(duì)比待檢測(cè)產(chǎn)品的實(shí)物圖像與數(shù)據(jù)庫內(nèi)的預(yù)存圖像,得到所述測(cè)試頭相對(duì)于待檢測(cè)產(chǎn)品的位置;
位移傳感器,設(shè)置于所述測(cè)試頭上,能夠檢測(cè)所述測(cè)試頭相對(duì)于待檢測(cè)產(chǎn)品的實(shí)際位移量。
作為優(yōu)選,所述測(cè)試頭還包括:
電路模塊,所述電路模塊的一側(cè)設(shè)置有多個(gè)接線端子,多個(gè)所述探針安裝于所述電路模塊的另一側(cè),連接于所述接線端子;
外殼,圍設(shè)于多個(gè)所述探針的外周,所述外殼的一端與所述電路模塊連接,所述外殼的另一端沿所述探針的測(cè)試端方向延伸;
減震裝置,所述減震裝置固定于所述外殼上,所述減震裝置的抵接端相對(duì)于所述探針的所述測(cè)試端凸出設(shè)置。
作為優(yōu)選,所述電路模塊的另一側(cè)設(shè)置有多個(gè)插裝槽,所述插裝槽的個(gè)數(shù)不少于所述接線端子的個(gè)數(shù),所述探針可選擇地插裝于所述插裝槽中。
作為優(yōu)選,至少兩個(gè)所述探針相互平行且間隔地固定于一個(gè)連接件上。
作為優(yōu)選,所述探針包括:
探筒,安裝于所述電路模塊上;
探頭,一端穿設(shè)于所述探筒中,另一端作為所述測(cè)試端;
第一彈性件,分別連接于所述探筒和所述探頭。
作為優(yōu)選,所述減震裝置包括:
固定筒,固定于所述外殼上;
活動(dòng)桿,一端穿設(shè)于所述固定筒中,另一端作為所述抵接端;
第二彈性件,分別連接于所述固定筒和所述活動(dòng)桿。
作為優(yōu)選,所述測(cè)試頭還包括支撐塊,所述支撐塊卡裝于所述外殼中,所述支撐塊上設(shè)置有支撐孔,所述探針從所述支撐孔中穿出。
作為優(yōu)選,所述測(cè)試頭朝向待檢測(cè)產(chǎn)品的一側(cè)設(shè)置有壓力傳感器。
作為優(yōu)選,所述影像識(shí)別裝置包括:
相機(jī)及照明設(shè)備,設(shè)置于所述測(cè)試頭上;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
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