[發明專利]一種LED顯示單元拼縫跨越式亮度糾正方法

在審

• 申請號: 202011207744.2
• 申請日: 2020-11-03
• 公開（公告）號: CN112802426A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 陳宇;汪洋;郭貴新;苗靜;丁鐵夫
• 申請（專利權）人: 長春希達電子技術有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32
• 代理公司: 長春吉大專利代理有限責任公司 22201
• 代理人: 王淑秋

1.一種顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法，其特征在于該方法如下：針對顯示單元內所有模塊間拼縫，增亮豎邊拼縫兩側隔N列的共3列LED像素，橫邊拼縫兩側的隔N行的共3行LED像素；對增亮的LED像素用增亮比例乘以原校正系數得到修正校正系數；用修正校正系數對該LED像素亮度進行校正，完成光學修縫。

2.根據權利要求1所述的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法，其特征在于針對顯示單元內所有模塊間拼縫，增亮豎邊拼縫左邊模塊最后一列LED像素，右邊模塊增亮第2、4列LED像素；橫邊拼縫上邊模塊增亮最底部一行LED像素，下邊模塊增亮第2、4行LED像素。

3.根據權利要求1所述的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法，其特征在于針對顯示單元內所有模塊間拼縫，增亮豎邊拼縫左邊模塊倒數第二列LED像素，右邊模塊增亮第1、3列LED像素；橫邊拼縫上邊模塊增亮倒數第二行LED像素，下邊模塊增亮第1、3行LED像素。

4.根據權利要求1所述的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法，其特征在于針對顯示單元內所有模塊間拼縫，增亮豎邊拼縫左邊模塊最后一列LED像素，右邊模塊增亮第3、6列LED像素；橫邊拼縫上邊模塊增亮最底部一行LED像素，下邊模塊增亮第3、6行LED像素。

5.根據權利要求1所述的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法，其特征在于針對顯示單元內所有模塊間拼縫，增亮豎邊拼縫左邊模塊倒數第二列LED像素，右邊模塊增亮第2、5列LED像素；橫邊拼縫上邊模塊增亮倒數第二行LED像素，下邊模塊增亮第2、5行LED像素。

6.根據權利要求1所述的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法，其特征在于其中LED像素的增量比例等于該LED像素所在位置拼縫處的拼縫LED像素間距除以標準LED像素間距；所述的LED顯示單元為顯示箱體，拼縫LED像素間距和標準LED像素間距采用下述方法得到：

步驟一)針對顯示箱體內所有模塊間豎邊拼縫，點亮豎邊拼縫兩側隔N列的共3列LED晶元中紅綠藍中居中的單基色LED像素；

步驟二)手持數碼相機，取景框對準顯示箱體進行拍照，得到顯示箱體照片；

步驟三)包絡法：設定長條帶的長度為相機視場的寬度，長條帶的寬度為D0行相機像素；從首行開始截取長條帶中相機像素的亮度數據，并對每一列的D0行相機像素計算亮度數據平均值，由長條帶中各列相機像素的亮度數據平均值形成包絡；如果所有包絡峰的峰值都小于灰度閾值H0則長條帶下移，直至出現包絡峰的峰值H0時，將最高包絡峰峰值的1/2定為H1取代H0；計算相鄰包絡峰間的距離D1，用D1數值的一半取代D0作為新的長條帶的寬度；

步驟四)下移長條帶，按新的長條帶寬度D1數值的一半繼續截取長條帶中相機像素的亮度數據，計算長條帶中每一列相機像素的亮度數據平均值，由長條帶中各列相機像素的亮度數據平均值形成包絡；根據連續3個包絡峰每一列相機像素的亮度數據平均值計算對應三個LED像素光斑中心的位置；由這三個LED像素光斑中心的位置計算得到豎邊拼縫處的拼縫LED像素間距與標準LED像素間距；由此得到整個顯示箱體各相鄰模塊間豎邊拼縫處的標準LED像素間距和拼縫LED像素間距；

步驟五)同理，針對顯示箱體內所有模塊間橫邊拼縫，點亮橫邊拼縫上下兩側隔N行的共3列LED晶元中紅綠藍中居中的單基色LED像素；設定長條帶的長度為相機視場的高度，長條帶的寬度為D0，按照步驟二～四的方法得到顯示箱體各相鄰模塊間橫邊拼縫處的標準LED像素間距和拼縫LED像素間距。