[發明專利]一種LED顯示單元拼縫跨越式亮度糾正方法在審
| 申請號: | 202011207744.2 | 申請日: | 2020-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN112802426A | 公開(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發明(設計)人: | 陳宇;汪洋;郭貴新;苗靜;丁鐵夫 | 申請(專利權)人: | 長春希達電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/32 | 分類號: | G09G3/32 |
| 代理公司: | 長春吉大專利代理有限責任公司 22201 | 代理人: | 王淑秋 |
| 地址: | 130000 吉林省長春市長*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 led 顯示 單元 跨越 亮度 糾正 方法 | ||
本發明涉及一種顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法,該方法如下:針對顯示單元內所有模塊間拼縫,增亮豎邊拼縫兩側隔N列的共3列LED像素,橫邊拼縫兩側的隔N行的共3行LED像素;對增亮的LED像素用增亮比例乘以原校正系數得到修正校正系數;用修正校正系數對該LED像素亮度進行校正,完成光學修縫。本發明能夠完成自動光學修縫,校正精度高,操作簡便,像素識別能力強,定位精準。
技術領域
本發明屬于LED顯示屏光學采集校正技術領域,涉及一種LED顯示單元拼縫跨越式亮度糾正方法。
背景技術
LED顯示屏都是由若干顯示單元(通常為箱體)拼接而成。這些顯示箱體又是由若干模組組成;模組又是由若干模塊組成。所有這些拼接中往往出現模塊間、模組間、箱體間拼接縫隙大、使拼接處的像素間距大于標準像素間距。這樣在顯示時就會在此處出現黑縫,在有效觀察距離上就會被看成是一條黑線。從觀察者光學觀感上消除黑線的方法之一是對于黑線兩側像素進行增亮,即按照模塊、模組、箱體間的像素間距與標準像素間距之比確定增亮比例增加黑縫兩側像素的亮度,使觀察者在觀測距離上視覺感受模組間亮度一致、看不到黑縫的存在,該方法也稱為光學修縫。
上述的修縫又分為兩類:一類是在顯示屏生產完成后可以固定下來的模塊間拼縫。這類拼縫是顯示單元內部模塊間的縫隙,在生產過程中已經固定下來,所以可以在生產過程中完成修縫。另一類是顯示屏箱體間拼縫,以及前維護箱體模組間拼縫。這類拼縫是不可控的、只有在屏幕搭建完成后這些縫隙才固定下來,所以只能在現場完成。由于模塊數量很大、拼縫很多,完全靠人工修縫的工作量會很大。而且沒有一個統一的修縫標準,修縫效果往往不盡人意。所以自動修縫勢在必然。自動修縫會有很多方法。不同的方法的效果也不盡相同。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種能夠實現在高密度小間距LED顯示產品生產過程中自動修縫,也可以在現場針對大尺度高密度小間距LED顯示單元進行自動光學修縫的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法。
為了解決上述技術問題,本發明的顯示單元拼縫跨越式像素間距亮度糾正方法如下:針對顯示單元內所有模塊間拼縫,增亮豎邊拼縫兩側隔N列的共3列LED像素,橫邊拼縫兩側的隔N行的共3行LED像素;對增亮的LED像素用增亮比例乘以原校正系數得到修正校正系數;用修正校正系數對該LED像素亮度進行校正,完成光學修縫。
針對顯示單元內所有模塊間拼縫,增亮豎邊拼縫左邊模塊最后一列LED像素,右邊模塊增亮第2、4列LED像素;橫邊拼縫上邊模塊增亮最底部一行LED像素,下邊模塊增亮第2、4行LED像素。
針對顯示單元內所有模塊間拼縫,增亮豎邊拼縫左邊模塊倒數第二列LED像素,右邊模塊增亮第1、3列LED像素;橫邊拼縫上邊模塊增亮倒數第二行LED像素,下邊模塊增亮第1、3行LED像素。
針對顯示單元內所有模塊間拼縫,增亮豎邊拼縫左邊模塊最后一列LED像素,右邊模塊增亮第3、6列LED像素;橫邊拼縫上邊模塊增亮最底部一行LED像素,下邊模塊增亮第3、6行LED像素。
針對顯示單元內所有模塊間拼縫,增亮豎邊拼縫左邊模塊倒數第二列LED像素,右邊模塊增亮第2、5列LED像素;橫邊拼縫上邊模塊增亮倒數第二行LED像素,下邊模塊增亮第2、5行LED像素。
其中LED像素的增量比例等于該LED像素所在位置拼縫處的拼縫LED像素間距除以標準LED像素間距;所述的LED顯示單元為顯示箱體,拼縫LED像素間距和標準LED像素間距采用下述方法得到:
步驟一)針對顯示箱體內所有模塊間豎邊拼縫,點亮豎邊拼縫兩側隔N列的共3列LED 晶元中紅綠藍中居中的單基色LED像素;
步驟二)手持數碼相機,取景框對準顯示箱體進行拍照,得到顯示箱體照片;
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