[發明專利]上料方法、上料裝置及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202011200617.X | 申請日: | 2020-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN112374177A | 公開(公告)日: | 2021-02-19 |
| 發明(設計)人: | 鄭利洋;郝金利;余定林;彭慶雄;王勇 | 申請(專利權)人: | 深圳創維-RGB電子有限公司 |
| 主分類號: | B65G65/00 | 分類號: | B65G65/00;G01B11/00;G01B11/26 |
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287 | 代理人: | 張志江 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種上料方法,其特征在于,所述上料方法應用于上料裝置,所述上料裝置包括激光傳感器,所述上料方法包括:
通過所述激光傳感器檢測工件放置裝置的邊界的坐標信息,所述邊界包括第一邊界以及第二邊界;
根據所述坐標信息確定所述工件放置裝置的參考線與預設基線的實際角度,其中,所述坐標信息包括所述第一邊界中的兩個以上坐標點以及所述第二邊界中的一個以上坐標點,所述參考線為所述邊界的任意兩點構成的直線;
根據所述實際角度以及所述坐標信息,確定工件的目標位置,其中,所述目標位置包括目標坐標信息以及目標角度;
根據所述目標位置將所述工件移動至所述工件放置裝置中,以對所述工件進行上料。
2.如權利要求1所述的上料方法,其特征在于,所述根據所述實際角度以及所述坐標信息,確定工件的目標位置的步驟包括:
獲取所述工件放置裝置的預設參考線與所述預設基線的參考角度、所述工件放置裝置的第一參考坐標點以及所述工件的第二參考坐標點;
根據所述參考角度以及所述實際角度,確定角度偏移量;
根據所述第一參考坐標點、所述第二參考坐標點、所述邊界的坐標信息以及所述角度偏移量,確定坐標偏移量;
根據所述角度偏移量以及所述實際角度確定所述目標角度,并根據所述坐標偏移量以及所述第二參考坐標點確定所述目標坐標信息。
3.如權利要求1所述的上料方法,其特征在于,所述通過所述激光傳感器檢測工件放置裝置的邊界的坐標信息的步驟之后,還包括:
確定所述激光傳感器檢測到所述邊界的次數;
在所述次數大于預設次數時,執行所述根據所述坐標信息確定所述工件放置裝置的參考線與預設基線的實際角度的步驟;
在所述次數小于或者等于預設次數時,返回執行所述通過所述激光傳感器檢測工件放置裝置的邊界的坐標信息的步驟。
4.如權利要求1所述的上料方法,其特征在于,所述通過所述激光傳感器檢測工件放置裝置的邊界的坐標信息的步驟包括:
控制所述激光傳感器沿第一方向掃描所述工件放置裝置的表面;
獲取所述激光傳感器在掃描過程中的電信號;
根據所述電信號確定所述邊界的坐標信息。
5.如權利要求4所述的上料方法,其特征在于,所述根據所述電信號確定所述邊界的坐標信息的步驟包括:
判斷所述電信號與預設電信號是否相同,所述預設電信號為高電平信號或低電平信號;
在所述電信號與所述預設電信號不相同時,確定所述激光傳感器的移動步長;
根據所述移動步長確定所述邊界的坐標點。
6.如權利要求5所述的上料方法,其特征在于,所述確定所述激光傳感器的移動步長的步驟之后,還包括:
在所述移動步長大于預設步長時,控制所述激光傳感器沿第二方向掃描所述工件放置裝置的表面,并執行所述獲取所述激光傳感器在掃描過程中的電信號的步驟,其中,所述第一方向與所述第二方向相反;
在所述移動步長小于或者等于所述預設步長時,執行所述根據所述移動步長確定所述邊界的坐標點的步驟。
7.如權利要求1所述的上料方法,其特征在于,所述根據所述目標位置將所述工件移動至所述工件放置裝置中的步驟包括:
通過定位機構將所述工件固定至定位平臺;
根據所述目標位置,將固定后的所述工件移動至所述工件放置裝置中。
8.如權利要求1所述的上料方法,其特征在于,所述根據所述目標位置將所述工件移動至所述工件放置裝置中的步驟包括:
根據所述目標位置確定移動路徑;
根據所述移動路徑將所述工件移動至所述工件放置裝置中。
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