[發明專利]一種濾波電容器的損耗測試方法、介質及系統

有效

• 申請號: 202011198237.7
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112630542B
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 史磊;柴斌;尤鴻芃;吳鵬;姚成;雷戰斐;宋海龍;劉若鵬;劉釗;李昊;毛春翔;鄧沛
• 申請（專利權）人: 國網寧夏電力有限公司;國網寧夏電力有限公司檢修公司;西安西電電力電容器有限責任公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

本發明公開一種濾波電容器的損耗測試方法、介質及系統。該損耗測試方法包括：搭建濾波電容器單元的損耗測試電路；測試不同頻率對應的待測的濾波電容器元件的介質損耗因數；計算同一頻率對應的所有待測的濾波電容器元件的介質損耗因數的均值；以頻率為橫坐標，介質損耗因數的均值為縱坐標，繪制介質損耗因數曲線；測試得到額定電壓下頻率50Hz對應的濾波電容器單元的損耗值；計算頻率50Hz對應的連接排的損耗值；計算每一預設頻率對應的濾波電容器單元的損耗值；計算額定電壓下頻率50Hz對應的濾波電容器單元的損耗值與所有預設頻率對應的濾波電容器單元的損耗值的和，得到濾波電容器單元的總損耗值。本發明的測試結果更加準確。

技術領域

本發明涉及濾波電容器技術領域，尤其涉及一種濾波電容器的損耗測試方法、介質及系統。

背景技術

電容器的額定電流由基波電流與所有諧波電流的均方根值確定，該算法存在以下問題：①電容器元件的介質結構在不同頻率下具有不同的介質損耗，將所有諧波以相同的熱效應進行折算并不準確；②電容器元件的極板由鋁箔卷繞而成，具有分布電感和分布電阻，分布電感和分布電阻使不同頻率的電流在電容器元件上有不同的分布，這也導致不同頻率的電流下電容器元件的損耗功率不同。

因此，簡單的以各次諧波電流的均方根值作為濾波電容器的額定電流，得到的濾波電容器的損耗不太準確，無法反應濾波電容器的損耗對選型和設計的影響。

發明內容

本發明實施例提供了一種濾波電容器的損耗測試方法、介質及系統，以解決現有技術的得到濾波電容器的損耗不太準確的問題。

第一方面，提供一種濾波電容器的損耗測試方法，包括：搭建濾波電容器單元的損耗測試電路，其中，所述損耗測試電路包括：濾波電容器單元和損耗測試電橋，其中，所述濾波電容器單元包括：濾波電容器元件和連接排，每一所述濾波電容器元件的一極板連接所述連接排的一端，每一所述濾波電容器元件的另一極板焊接有熔絲，所述損耗測試電橋的一端連接所述連接排的另一端，所述損耗測試電橋的另一端連接所述濾波電容器元件的熔絲；在預設頻率范圍內，測試不同頻率對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數；計算同一頻率對應的所有所述濾波電容器元件的介質損耗因數的均值；以頻率為橫坐標，所述介質損耗因數的均值為縱坐標，繪制介質損耗因數曲線；測試得到額定電壓下頻率50Hz對應的濾波電容器單元的損耗值；采用連接排損耗計算式計算頻率50Hz對應的所述連接排的損耗值，其中，所述連接排損耗計算式為P_B表示頻率50Hz對應的所述連接排的損耗值，P_T表示額定電壓下頻率50Hz對應的所述濾波電容器單元的損耗值，I₅₀表示頻率50Hz對應的電流有效值，C表示所述濾波電容器單元的電容值，tan₅₀δ表示頻率50Hz對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數，tan₅₀δ通過查詢所述介質損耗因數曲線獲得；采用濾波電容器損耗計算式計算每一預設頻率對應的所述濾波電容器單元的損耗值，其中，所述濾波電容器損耗計算式為P_n表示預設頻率f_n對應的所述濾波電容器單元的損耗值，表示預設頻率f_n對應的電流有效值，表示預設頻率f_n對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數，通過查詢所述介質損耗因數曲線獲得；計算額定電壓下頻率50Hz對應的濾波電容器單元的損耗值與所有預設頻率對應的所述濾波電容器單元的損耗值的和，得到所述濾波電容器單元的總損耗值。

第二方面，提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序指令；所述計算機程序指令被處理器執行時實現如上述第一方面實施例所述的濾波電容器的損耗測試方法。

第三方面，提供一種濾波電容器的損耗測試系統，包括：如上述第二方面實施例所述的計算機可讀存儲介質。