[發明專利]一種濾波電容器的損耗測試方法、介質及系統

有效

• 申請號: 202011198237.7
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112630542B
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 史磊;柴斌;尤鴻芃;吳鵬;姚成;雷戰斐;宋海龍;劉若鵬;劉釗;李昊;毛春翔;鄧沛
• 申請（專利權）人: 國網寧夏電力有限公司;國網寧夏電力有限公司檢修公司;西安西電電力電容器有限責任公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

1.一種濾波電容器的損耗測試方法，其特征在于，包括：

搭建濾波電容器單元的損耗測試電路，其中，所述損耗測試電路包括：濾波電容器單元和損耗測試電橋，其中，所述濾波電容器單元包括：濾波電容器元件和連接排，每一所述濾波電容器元件的一極板連接所述連接排的一端，每一所述濾波電容器元件的另一極板焊接有熔絲，所述損耗測試電橋的一端連接所述連接排的另一端，所述損耗測試電橋的另一端連接所述濾波電容器元件的熔絲；

在預設頻率范圍內，測試不同頻率對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數；

計算同一頻率對應的所有所述濾波電容器元件的介質損耗因數的均值；

以頻率為橫坐標，所述介質損耗因數的均值為縱坐標，繪制介質損耗因數曲線；

測試得到額定電壓下頻率50Hz對應的濾波電容器單元的損耗值；

采用連接排損耗計算式計算頻率50Hz對應的所述連接排的損耗值，其中，所述連接排損耗計算式為P_B表示頻率50Hz對應的所述連接排的損耗值，P_T表示額定電壓下頻率50Hz對應的所述濾波電容器單元的損耗值，I₅₀表示頻率50Hz對應的電流有效值，C表示所述濾波電容器單元的電容值，tan₅₀δ表示頻率50Hz對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數，tan₅₀δ通過查詢所述介質損耗因數曲線獲得；

采用濾波電容器損耗計算式計算每一預設頻率對應的所述濾波電容器單元的損耗值，其中，所述濾波電容器損耗計算式為P_n表示預設頻率f_n對應的所述濾波電容器單元的損耗值，表示預設頻率f_n對應的電流有效值，表示預設頻率f_n對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數，通過查詢所述介質損耗因數曲線獲得；

計算額定電壓下頻率50Hz對應的濾波電容器單元的損耗值與所有預設頻率對應的所述濾波電容器單元的損耗值的和，得到所述濾波電容器單元的總損耗值。

2.根據權利要求1所述的濾波電容器的損耗測試方法，其特征在于：所述測試不同頻率對應的所述濾波電容器元件的介質損耗因數的步驟中，所述頻率為50Hz的整數倍，且相鄰兩個所述頻率之間的間隔相同。

3.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于：所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序指令；所述計算機程序指令被處理器執行時實現如權利要求1～2中任一項所述的濾波電容器的損耗測試方法。

4.一種濾波電容器的損耗測試系統，其特征在于，包括：如權利要求3所述的計算機可讀存儲介質。