[發明專利]一種標準層選取方法和裝置

在審

• 申請號: 202011196915.6
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112459767A
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發明（設計）人: 李凱;馬子涵;張立彬;胡少華;鄒振;蔡銀濤
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 薛平;周曉飛

本發明提供了一種標準層選取方法和裝置，該方法包括：在研究區范圍內的井中選取一口井作為標準井，其他井作為非標準井，選取標準井的標準層；其中，每一口井均包含有測井曲線；根據測井曲線，在標準井的標準層的上端、下端分別確定一個測井地質分層，使研究區范圍內所有井的標準層包含在測井地質分層的上下端內，設定相關系數的截止值；獲取標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔；根據標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔，結合搜索范圍確定非標準井的窗長厚度和樣點個數；其中，非標準井窗長的頂設置于測井地質分層的上端；計算最小公倍數；通過滑動變窗長掃描的方式確定非標準井的標準層。

技術領域

本發明涉及地球物理測井技術領域，尤其涉及一種標準層選取方法和裝置。

背景技術

本部分旨在為權利要求書中陳述的本發明的實施方式提供背景或上下文。此處的描述不因為包括在本部分中就承認是現有技術。

測井標準化處理由于可以消除測井儀器的系統誤差，提高井與井的一致性，因此作為儲層參數計算和預測不可或缺的基礎性工作之一。尤其在老油田、開發區塊等密井網區，井數多、井距小，對儲層預測提高了更高的精度要求，而標準層的精準選取直接關系到標準化的處理效果。

目前，曲線標準化思路和方法已經比較成熟，其中標準層的選取是其中的一個關鍵步驟，標準層選取有四種常見方式：一是按測井地質分層作為約束選取標準層，二是通過制定曲線上的深度選取標準層，三是按地震解釋層位作為約束選取標準層，四是利用全井段直接作為標準層。但這些方法由于很難精準識別出同一泥巖層，所以都是一種相對粗略的選取標準層的方法，影響后期反演和儲層預測的精度。通過人工拾取標準層雖然能夠提高選取精度，但在井多的情況下，工作量比較大，而且易受到人為因素影響。

因此，如何提供一種新的方案，其能夠解決上述技術問題是本領域亟待解決的技術難題。

發明內容

本發明實施例提供一種標準層選取方法，實現惡劣標準層的自動準確選取，該方法包括：

在研究區范圍內的井中選取一口井作為標準井，其他井作為非標準井，選取標準井的標準層；其中，每一口井均包含有測井曲線；

根據測井曲線，在標準井的標準層的上端、下端分別確定一個測井地質分層，使研究區范圍內所有井的標準層包含在測井地質分層的上下端內，將測井地質分層上下端之間的范圍作為搜索范圍；

設定相關系數的截止值；

獲取標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔；

根據標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔，結合搜索范圍確定非標準井的窗長厚度和樣點個數；其中，非標準井窗長的頂設置于測井地質分層的上端；

計算標準井標準層的樣點個數與非標準井窗長的樣點個數的最小公倍數；

根據最小公倍數，對非標準井窗長內的測井曲線段和標準井標準層窗長內的測井曲線段，在相鄰兩點之間按照線性插值法內插樣點，使非標準井窗長內樣點個數與標準井標準層窗長內樣點個數相同，計算內插樣點后標準井與非標準井的相關系數；

若相關系數大于設定的截止值，保留當前相關系數對應的非標準井窗長的頂、底數值；

將非標準井的窗長從測井地質分層的上端整體向下移動一個標準井標準層測井曲線采樣間隔，重復計算相關系數，若本次計算的相關系數大于設定截止值且大于上一次計算的相關系數，則將上一次計算的相關系數對應的標準井窗長的頂、底數值舍棄，保留本次計算的相關系數對應的非標準井窗長的頂、底數值，直至非標準井的窗長的底下移至測井地質分層的下端，確定單次最新非標準井窗長的頂、底數值；