[發(fā)明專利]一種標準層選取方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011196915.6
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112459767A
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發(fā)明（設計）人: 李凱;馬子涵;張立彬;胡少華;鄒振;蔡銀濤
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 薛平;周曉飛

1.一種標準層選取方法，其特征在于，包括：

在研究區(qū)范圍內的井中選取一口井作為標準井，其他井作為非標準井，選取標準井的標準層；其中，每一口井均包含有測井曲線；

根據測井曲線，在標準井的標準層的上端、下端分別確定一個測井地質分層，使研究區(qū)范圍內所有井的標準層包含在測井地質分層的上下端內，將測井地質分層上下端之間的范圍作為搜索范圍；

設定相關系數的截止值；

獲取標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔；

根據標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔，結合搜索范圍確定非標準井的窗長厚度和樣點個數；其中，非標準井窗長的頂設置于測井地質分層的上端；

計算標準井標準層的樣點個數與非標準井窗長的樣點個數的最小公倍數；

根據最小公倍數，對非標準井窗長內的測井曲線段和標準井標準層窗長內的測井曲線段，在相鄰兩點之間按照線性插值法內插樣點，使非標準井窗長內樣點個數與標準井標準層窗長內樣點個數相同，計算內插樣點后標準井與非標準井的相關系數；

若相關系數大于設定的截止值，保留當前相關系數對應的非標準井窗長的頂、底數值；

將非標準井的窗長從測井地質分層的上端整體向下移動一個標準井標準層測井曲線采樣間隔，重復計算相關系數，若本次計算的相關系數大于設定截止值且大于上一次計算的相關系數，則將上一次計算的相關系數對應的標準井窗長的頂、底數值舍棄，保留本次計算的相關系數對應的非標準井窗長的頂、底數值，直至非標準井的窗長的底下移至測井地質分層的下端，確定單次最新非標準井窗長的頂、底數值；

將非標準井的窗長厚度增加一個標準井標準層測井曲線采樣間隔，對非標準井窗長厚度和樣點個數進行迭代更新，重復獲取單次最新非標準井窗長的頂、底數值，直至非標準井的窗長厚度變?yōu)閮杀兜臉藴示畼藴蕦拥拇伴L厚度，輸出最終保留的單次最新非標準井窗長的頂、底數值；

根據最終保留的單次最新非標準井窗長的頂、底數值，確定非標準井的標準層。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在研究區(qū)范圍內的井中選取一口井作為標準井，包括：

在研究區(qū)范圍內的所有井中進行篩選，將在目的層段內具有良好的井眼條件、相對全面的測井系列、系統(tǒng)的取芯資料、垂向地層沉積連續(xù)以及生產測試資料的井作為標準井。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，選取標準井的標準層，包括：

在標準井的全部鉆井地層中進行篩選，將區(qū)域上穩(wěn)定分布且地球物理相應特征幾乎相同的同一泥巖地層作為標準井的標準層。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔，包括：

獲取標準井標準層的頂、底數值，確定標準層標準井的窗長厚度D；

獲取標準井的測井曲線采樣間隔△t，結合窗長厚度D，確定樣點個數為D/△t+1。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，根據標準井標準層的窗長厚度、樣點個數和測井曲線采樣間隔，結合搜索范圍確定非標準井的窗長厚度和樣點個數，包括：

將標準井標準層的窗長厚度的一半作為非標準井的窗長厚度D/2；

根據非標準井的窗長厚度D/2和標準井標準層的測井曲線采樣間隔△t，確定非標準井的樣點個數D/(2·△t)+1。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，計算標準井標準層的樣點個數與非標準井窗長的樣點個數的最小公倍數，包括：

分別將標準井標準層的樣點個數D/△t+1和非標準井窗長的樣點個數D/(2·△t)+1減一；

計算減一后標準井標準層的樣點個數D/△t和減一后非標準井窗長的樣點個數D/(2·△t)的最小公倍數Q。