[發明專利]能量校正方法、裝置、設備、系統及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202011193243.3
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112415569B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發明（設計）人: 房磊;張博;肖鵬
• 申請（專利權）人: 湖北銳世數字醫學影像科技有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請實施例公開了一種能量校正方法、裝置、設備、系統及計算機可讀存儲介質，該方法包括以下步驟：采集目標探測器和參考探測器對一個特定放射源產生的粒子進行同步探測時在多個時間段內測得的多個探測結果；在所采集的每個所述探測結果中，選取所述粒子在所述目標探測器和所述參考探測器中的閃爍晶體內完全沉積的至少一對散射事件；根據在所選取的所有所述散射事件中所述目標探測器實際測得的粒子能量、所述參考探測器實際測得的粒子能量以及所述特定放射源產生的粒子的真實能量對所述目標探測器進行能量校正。通過利用本申請實施例提供的技術方案，可以降低成本以及簡化探測器的能量校正的操作流程。

技術領域

本申請涉及數據處理技術領域，特別涉及一種能量校正方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

本部分的描述僅提供與本申請公開相關的背景信息，而不構成現有技術。

硅光電器件是一種利用工作在蓋革模式下的雪崩二極管(APD)進行光子計數的新型光電器件，其可用于多種光子計數級的極弱光探測領域。相對于傳統光電倍增管，其具有尺寸小、工作電壓低、對磁場不敏感等優點，因而被廣泛應用于計算機斷層成像(CT)、正電子發射型計算機斷層成像(PET)、單光子發射型計算機斷層成像(SPECT)等醫學影像設備。

在利用含有硅光電器件和閃爍晶體的探測器進行光子探測時，由于硅光電器件中的APD數量有限，當用于較高能量的粒子探測時，閃爍晶體產生的可見光光子數量很大，可能會導致硅光電器件出現飽和，從而可能會導致探測到的粒子能量不夠準確。而且，由于外界環境和使用壽命的影響，也可能會導致探測器輸出的光子能量不夠準確。

為了準確地獲知探測到的光子能量，需要對探測器輸出的能量進行校正。目前，現有技術中通常采用以下方式進行校正：利用探測器對多個已知能量的放射源產生的多個光子進行探測，在探測到放射源產生的光子之后，可以根據在探測器內發生能量沉積的閃爍晶體上測得的光子能量和入射光子的真實能量，并通過插值處理的方式，可以得到閃爍晶體內的每個晶體條上沉積的光子的測量能量與真實能量之間的對應關系，從而在對未知能量的光子進行探測時，可以根據測量能量和該對應關系來確定出所測得的光子的真實能量。

在實現本申請過程中，發明人發現現有技術中至少存在如下問題：

現有技術中在探測器測得的能量進行校正時，需要利用多個已知能量的放射源，其成本較高，并且在對一個放射源產生的粒子進行測量后，需要更換放射源才能再次進行測量，其操作流程比較復雜。

發明內容

本申請實施例的目的是提供一種能量校正方法、裝置、設備、系統及計算機可讀存儲介質，以解決現有技術中存在的至少一種問題。

為了解決上述技術問題，本申請實施例提供了一種能量校正方法，所述方法可以包括以下步驟：

采集目標探測器和參考探測器對一個特定放射源產生的粒子進行同步探測時在多個時間段內測得的多個探測結果；

在所采集的每個所述探測結果中，選取所述粒子在所述目標探測器和所述參考探測器中的閃爍晶體內完全沉積的至少一對散射事件；

根據在所選取的所有所述散射事件中所述目標探測器實際測得的粒子能量、所述參考探測器實際測得的粒子能量以及所述特定放射源產生的粒子的真實能量對所述目標探測器進行能量校正。

可選地，所述參考探測器為線性探測器，并且預先通過以下方式對所述參考探測器進行能量校正：

根據所述參考探測器單獨對參考放射源發出的粒子進行探測后獲得的粒子能量以及所述粒子的真實能量來確定校正參數，并且根據所述校正參數對所述參考探測器進行能量校正。

可選地，所述參考探測器為非線性探測器，并且預先通過以下方式先對所述參考探測器進行能量校正：